ГОСТ Р 71074-2023. Национальный стандарт Российской Федерации. Микросхемы интегральные. Запоминающие устройства на цилиндрических магнитных доменах. Термины, определения и буквенные обозначения параметров
Актуально на 01.11.2026.
Как цитировать: "ГОСТ Р 71074-2023. Национальный стандарт Российской Федерации. Микросхемы интегральные. Запоминающие устройства на цилиндрических магнитных доменах. Термины, определения и буквенные обозначения параметров". ГОСТ Р 71074-2023. https://bukva.ai/docs/standart-gost-r-71074-2023
(утв. и введен в действие Приказом Росстандарта от 31.10.2023 № 1312-ст)
Примечание
Документ введен в действие с 01.03.2024.
Утвержден и введен в действие Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 31 октября 2023 г. № 1312-ст
НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ. ЗАПОМИНАЮЩИЕ УСТРОЙСТВА НА ЦИЛИНДРИЧЕСКИХ МАГНИТНЫХ ДОМЕНАХ
ТЕРМИНЫ, ОПРЕДЕЛЕНИЯ И БУКВЕННЫЕ ОБОЗНАЧЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ
Integrated circuits. Magnetic bubble integrated circuits
memory. Terms, definitions and letter
symbols characteristics
Дата введения 1 марта 2024 года
Предисловие
1 РАЗРАБОТАН Акционерным обществом «Российский научно-исследовательский институт „Электронстандарт“ (АО „РНИИ „Электронстандарт“)»
2 ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 303 «Электронная компонентная база, материалы и оборудование»
3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 31 октября 2023 г. № 1312-ст
Правила применения настоящего стандарта установлены в статье 26 Федерального закона от 29 июня 2015 г. № 162-ФЗ «О стандартизации в Российской Федерации». Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на 1 января текущего года) информационном указателе «Национальные стандарты», а официальный текст изменений и поправок — в ежемесячном информационном указателе «Национальные стандарты». В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ближайшем выпуске ежемесячного информационного указателя «Национальные стандарты». Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользования — на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет (www.rst.gov.ru)
Введение
Установленные в настоящем стандарте термины расположены в систематизированном порядке, отражающем систему понятий в области интегральных микросхем запоминающих устройств на цилиндрических магнитных доменах.
Для каждого понятия установлен один стандартизованный термин.
Термины-синонимы приведены в качестве справочных данных и не являются стандартизованными.
Заключенная в круглые скобки часть термина может быть опущена при использовании термина в документах по стандартизации.
Приведенные определения можно, при необходимости, изменять, вводя в них производные признаки, раскрывая значения используемых в них терминов, указывая объекты, входящие в объем определяемого понятия. Изменения не должны нарушать объем и содержание понятий, определенных в настоящем стандарте.
Стандартизованные термины набраны полужирным шрифтом, их краткие формы, представленные аббревиатурой — светлым, синонимы — курсивом.
В случаях, когда в термине содержатся все необходимые и достаточные признаки понятия, определение не приводится и вместо него ставится прочерк.
В стандарте приведены иноязычные эквиваленты стандартизованных терминов на английском (en) языке.
Термины и определения общих понятий, а также буквенные обозначения основных сигналов, необходимые для понимания текста стандарта, приведены в приложении А.
1 Область применения
Настоящий стандарт устанавливает термины, определения и буквенные обозначения параметров интегральных микросхем запоминающих устройств на цилиндрических магнитных доменах (далее — микросхемы ЗУ ЦМД), применяемых в радиоэлектронной аппаратуре.
Термины и буквенные обозначения, установленные настоящим стандартом, предназначены для применения во всех видах документации и литературы в области интегральных микросхем ЗУ ЦМД, входящих в сферу действия работ по стандартизации и (или) использующих результаты этих работ.
Термины и определения общих понятий, а также буквенные обозначения основных сигналов для микросхем ЗУ ЦМД приведены в приложении А.
Настоящий стандарт предназначен для применения предприятиями, организациями и другими субъектами научной и производственной деятельности независимо от форм собственности и подчинения, а также федеральными органами исполнительной власти Российской Федерации, участвующими в разработке, производстве, эксплуатации интегральных микросхем ЗУ ЦМД в соответствии с действующим законодательством.
2 Термины и определения
| 1 | |
|---|---|
| (информационная) емкость (микросхемы ЗУ ЦМД) Qинф: Наибольшее количество единиц данных, которое одновременно может храниться в запоминающем устройстве. [Адаптировано из ГОСТ 25492-82, статья 26] |
data capacity Q |
| 2 скорость передачи (данных микросхемы ЗУ ЦМД) Vинф: Количество бит информации, передаваемой в единицу времени. | data transfer-rate V |
| 3 выходное напряжение высокого уровня (сигнала выходной информации микросхемы ЗУ ЦМД) Uвых.в: Значение напряжения высокого уровня на информационном выходе микросхемы ЗУ ЦМД при считывании информации. | high-level output voltage UOH |
| 4 выходное напряжение низкого уровня (сигнала выходной информации микросхемы ЗУ ЦМД) Uвых.н: Значение напряжения низкого уровня на информационном выходе микросхемы ЗУ ЦМД при считывании информации. | low-level output voltage UOL |
| 5 среднее время выборки (микросхемы ЗУ ЦМД) tв.ср: Время выборки среднего разряда средней страницы. | average access time tA(av) |
| 6 рабочая частота (микросхемы ЗУ ЦМД) fраб: Частота переменного или импульсного тока управления микросхемы ЗУ ЦМД. | drive frequency foper |
| 7 | |
| потребляемая мощность (интегральной микросхемы ЗУ ЦМД) Pпот: Мощность, потребляемая микросхемой от источника питания в заданном режиме. [Адаптировано из ГОСТ Р 57441-2017, статья 66] |
power consumption PCC |
| 8 рабочий диапазон температур (микросхемы ЗУ ЦМД) \Delta T_{\text{раб}} : - | operating temperature range \Delta\text{Т}_{oper} |
| 9 диапазон температур хранения информации (микросхемы ЗУ ЦМД) \Delta T_{\text{хр}} : - | non-volatility storage temperature range \Delta\text{Т}_{stor} |
| 10 | |
| отношение сигнал — помеха (микросхемы ЗУ ЦМД) Uс/Uп: Отношение величин, характеризующих интенсивности сигнала и помехи. Примечание — В качестве величин, характеризующих интенсивности сигнала и помехи, берут их средние мощности, среднеквадратические значения, пиковые отклонения, энергии и т.п. Способ определения этих величин должен всегда оговариваться особо. Адаптировано ГОСТ 16465-70, [статья 27] |
signal-to-noise ratio Us/Un |
Параметры режима эксплуатации и (или) измерений микросхем ЗУ ЦМД
| 11 ток управления (микросхемы ЗУ ЦМД) Ix, Iy: Амплитуда переменного (или импульсного) тока определенной частоты через узел управления микросхемы ЗУ ЦМД (электромагнитные катушки, специальные токопроводящие слои и др.), который обеспечивает работоспособность микросхемы в режиме записи и считывания информации. | control current Ix, Iy |
|---|---|
| 12 ток генерации (микросхемы ЗУ ЦМД) IГ: Амплитуда импульса тока через генератор микросхемы ЗУ ЦМД, который необходим для образования ЦМД при записи информации, представленной логической единицей. | generate current IG |
| 13 ток ввода (информации микросхемы ЗУ ЦМД) IВв: Амплитуда импульса тока через переключатель микросхемы ЗУ ЦМД, выполняющий функцию ввода информации, который необходим для перевода ЦМД из регистра ввода в регистры хранения информации. | transfer-in current ID |
| 14 ток вывода (информации микросхемы ЗУ ЦМД) IВ: Амплитуда импульса тока через переключатель микросхемы ЗУ ЦМД, выполняющий функцию вывода информации, который необходим для перевода ЦМД из регистров хранения в регистр вывода информации. | transfer-out current IQ |
| 15 ток обмена (информации микросхемы ЗУ ЦМД) IОБ: Амплитуда импульса тока через переключатель микросхемы ЗУ ЦМД, выполняющий функцию обмена информации, который необходим для одновременного перевода ЦМД из регистра ввода-вывода информации в регистры хранения и из регистров хранения — в регистр ввода-вывода информации. | swap current IS |
| 16 ток репликации (микросхемы ЗУ ЦМД) IР: Амплитуда импульса тока через переключатель, выполняющий функцию деления ЦМД с последующим выводом информации, который необходим для осуществления операции деления ЦМД. | replication current IR |
| 17 ток вывода информации в режиме репликации (микросхемы ЗУ ЦМД) IР-В: Амплитуда импульса тока через переключатель, выполняющий функцию деления ЦМД с последующим выводом информации, который необходим для перевода ЦМД в регистр вывода информации непосредственно после операции деления. | transfer-out current in replication mode IR-Q |
| 18 ток детектора (микросхемы ЗУ ЦМД) IД: Рабочий (постоянный или импульсный) ток через детектор микросхем ЗУ ЦМД. | detector current Id |
| 19 длительность импульса тока генерации (микросхемы ЗУ ЦМД) \tau_{\text{Г}} : - | generator width \tau_{WG} |
| 20 длительность импульса тока ввода (информации микросхемы ЗУ ЦМД) \tau_{\text{Вв}} : - | transfer-in width \tau_{WD} |
| 21 длительность импульса тока вывода (информации микросхемы ЗУ ЦМД) \tau_{\text{В}} : - | transfer-out width \tau_{WQ} |
| 22 длительность импульса тока обмена (информации микросхемы ЗУ ЦМД) \tau_{\text{ОБ}} : - | swap width \tau_{WS} |
| 23 длительность импульса тока репликации (микросхемы ЗУ ЦМД) \tau_{\text{Р}} : - | replication width \tau_{WR} |
| 24 длительность импульса тока вывода информации в режиме репликации (микросхемы ЗУ ЦМД) \tau_{\text{Р} - \text{В}} : - | transfer-out width in replication mode \tau_{WQR} |
| 25 время задержки импульса тока генерации (микросхемы ЗУ ЦМД <*>) tзд.Г: - | generator length tDG |
| 26 время задержки импульса тока ввода (информации микросхемы ЗУ ЦМД) tзд.Вв: - | transfer-in length tDD |
| 27 время задержки импульса тока вывода (информации микросхемы ЗУ ЦМД) tзд.В: - | transfer-out length tDQ |
| 28 время задержки импульса тока обмена (информации микросхемы ЗУ ЦМД) tзд.ОБ: - | swap length tDS |
| 29 время задержки импульса тока репликации (микросхемы ЗУ ЦМД) tзд.Р: - | replication length tDR |
| 30 сопротивление генератора (микросхемы ЗУ ЦМД) RГ: - | bubble generator resistance RG |
| 31 сопротивление переключателя ввода (микросхемы ЗУ ЦМД) RВв: - | transfer in gate resistance RTD |
| 32 сопротивление переключателя вывода (микросхемы ЗУ ЦМД) RВ: - | transfer out gate resistance RQ |
| 33 сопротивление двунаправленного переключателя ввода-вывода (микросхемы ЗУ ЦМД) RВв-В: - | transfer gate resistance RTG |
| 34 сопротивление переключателя-репликатора (микросхемы ЗУ ЦМД) RР: - | replicate gate resistance RTR |
| 35 сопротивление переключателя обмена (микросхемы ЗУ ЦМД) RОБ: - | swap gate resistance RTS |
| 36 сопротивление комбинированного переключателя (микросхемы ЗУ ЦМД) RКОМ: - | combined gate resistance RTCOM |
| 37 сопротивление детектора (микросхемы ЗУ ЦМД) RД: - | detector resistance Rd |
| 38 разность сопротивлений (детекторов микросхемы ЗУ ЦМД) \Delta R_{\text{Д}} : Разность сопротивлений рабочего и компенсационного детекторов узла регистрации кристалла микросхемы ЗУ ЦМД. | resistance difference \Delta R_{d} |
| 39 сопротивление узла управления (микросхемы ЗУ ЦМД) RX, RY: - | control scheme resistance RX, RY |
| 40 индуктивность узла управления (микросхемы ЗУ ЦМД) LX, LY: - | control scheme inductance LX, LY |
<*> Задержка определяется как интервал времени между началом периода работы микросхемы ЗУ ЦМД (нулевая фаза) и передним фронтом импульса. Допускается использовать термин «фаза» (пояснение относится к статьям 19 - 29).
АЛФАВИТНЫЙ УКАЗАТЕЛЬ ТЕРМИНОВ НА РУССКОМ ЯЗЫКЕ
| время выборки микросхемы ЗУ ЦМД среднее | 5 |
|---|---|
| время выборки среднее | 5 |
| время задержки импульса тока ввода | 26 |
| время задержки импульса тока ввода информации микросхемы ЗУ ЦМД | 26 |
| время задержки импульса тока вывода | 27 |
| время задержки импульса тока вывода информации микросхемы ЗУ ЦМД | 27 |
| время задержки импульса тока генерации | 25 |
| время задержки импульса тока генерации микросхемы ЗУ ЦМД | 25 |
| время задержки импульса тока обмена | 28 |
| время задержки импульса тока обмена информации микросхемы ЗУ ЦМД | 28 |
| время задержки импульса тока репликации | 29 |
| время задержки импульса тока репликации микросхемы ЗУ ЦМД | 29 |
| диапазон температур микросхемы ЗУ ЦМД рабочий | 8 |
| диапазон температур рабочий | 8 |
| диапазон температур хранения информации | 9 |
| диапазон температур хранения информации микросхемы ЗУ ЦМД | 9 |
| длительность импульса тока ввода | 20 |
| длительность импульса тока ввода информации микросхемы ЗУ ЦМД | 20 |
| длительность импульса тока вывода | 21 |
| длительность импульса тока вывода информации в режиме репликации | 24 |
| длительность импульса тока вывода информации в режиме репликации микросхемы ЗУ ЦМД | 24 |
| длительность импульса тока вывода информации микросхемы ЗУ ЦМД | 21 |
| длительность импульса тока генерации | 19 |
| длительность импульса тока генерации микросхемы ЗУ ЦМД | 19 |
| длительность импульса тока обмена | 22 |
| длительность импульса тока обмена информации микросхемы ЗУ ЦМД | 22 |
| длительность импульса тока репликации | 23 |
| длительность импульса тока репликации микросхемы ЗУ ЦМД | 23 |
| емкость | 1 |
| емкость информационная | 1 |
| емкость микросхемы ЗУ ЦМД | 1 |
| емкость микросхемы ЗУ ЦМД информационная | 1 |
| индуктивность узла управления | 40 |
| индуктивность узла управления микросхемы ЗУ ЦМД | 40 |
| мощность интегральной микросхемы ЗУ ЦМД потребляемая | 7 |
| мощность потребляемая | 7 |
| напряжение высокого уровня выходное | 3 |
| напряжение высокого уровня сигнала выходной информации микросхемы ЗУ ЦМД выходное | 3 |
| напряжение низкого уровня выходное | 4 |
| напряжение низкого уровня сигнала выходной информации микросхемы ЗУ ЦМД выходное | 4 |
| отношение сигнал — помеха | 10 |
| отношение сигнал — помеха микросхемы ЗУ ЦМД | 10 |
| разность сопротивлений | 38 |
| разность сопротивлений детекторов микросхемы ЗУ ЦМД | 38 |
| скорость передачи | 2 |
| скорость передачи данных микросхемы ЗУ ЦМД | 2 |
| сопротивление генератора | 30 |
| сопротивление генератора микросхемы ЗУ ЦМД | 30 |
| сопротивление двунаправленного переключателя ввода-вывода | 33 |
| сопротивление двунаправленного переключателя ввода-вывода микросхемы ЗУ ЦМД | 33 |
| сопротивление детектора | 37 |
| сопротивление детектора микросхемы ЗУ ЦМД | 37 |
| сопротивление комбинированного переключателя | 36 |
| сопротивление комбинированного переключателя микросхемы ЗУ ЦМД | 36 |
| сопротивление переключателя ввода | 31 |
| сопротивление переключателя ввода микросхемы ЗУ ЦМД | 31 |
| сопротивление переключателя вывода | 32 |
| сопротивление переключателя вывода микросхемы ЗУ ЦМД | 32 |
| сопротивление переключателя обмена | 35 |
| сопротивление переключателя обмена микросхемы ЗУ ЦМД | 35 |
| сопротивление переключателя-репликатора | 34 |
| сопротивление переключателя-репликатора микросхемы ЗУ ЦМД | 34 |
| сопротивление узла управления | 39 |
| сопротивление узла управления микросхемы ЗУ ЦМД | 39 |
| ток ввода | 13 |
| ток ввода информации микросхемы ЗУ ЦМД | 13 |
| ток вывода | 14 |
| ток вывода информации в режиме репликации | 17 |
| ток вывода информации в режиме репликации микросхемы ЗУ ЦМД | 17 |
| ток вывода информации микросхемы ЗУ ЦМД | 14 |
| ток генерации | 12 |
| ток генерации микросхемы ЗУ ЦМД | 12 |
| ток детектора | 18 |
| ток детектора микросхемы ЗУ ЦМД | 18 |
| ток обмена | 15 |
| ток обмена информации микросхемы ЗУ ЦМД | 15 |
| ток репликации | 16 |
| ток репликации микросхемы ЗУ ЦМД | 16 |
| ток управления | 11 |
| ток управления микросхемы ЗУ ЦМД | 11 |
| частота микросхемы ЗУ ЦМД рабочая | 6 |
| частота рабочая | 6 |
АЛФАВИТНЫЙ УКАЗАТЕЛЬ ТЕРМИНОВ НА АНГЛИЙСКОМ ЯЗЫКЕ
| average access time | 5 |
|---|---|
| bubble generator resistance | 30 |
| combined gate resistance | 36 |
| control current | 11 |
| control scheme inductance | 40 |
| control scheme resistance | 39 |
| data capacity | 1 |
| data transfer-rate | 2 |
| detector current | 18 |
| detector resistance | 37 |
| drive frequency | 6 |
| generate current | 12 |
| generator length | 25 |
| generator width | 19 |
| high-level output voltage | 3 |
| low-level output voltage | 4 |
| non-volatility storage temperature range | 9 |
| operating temperature range | 8 |
| power consumption | 7 |
| replicate gate resistance | 34 |
| replication current | 16 |
| replication length | 29 |
| replication width | 23 |
| resistance difference | 38 |
| signal-to-noise ratio | 10 |
| swap current | 15 |
| swap gate resistance | 35 |
| swap length | 28 |
| swap width | 22 |
| transfer gate resistance | 33 |
| transfer in gate resistance | 31 |
| transfer out gate resistance | 32 |
| transfer-in current | 13 |
| transfer-in length | 26 |
| transfer-in width | 20 |
| transfer-out current | 14 |
| transfer-out current in replication mode | 17 |
| transfer-out length | 27 |
| transfer-out width | 21 |
| transfer-out width in replication mode | 24 |
ТЕРМИНЫ И ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОБЩИХ ПОНЯТИЙ, БУКВЕННЫЕ ОБОЗНАЧЕНИЯ ОСНОВНЫХ СИГНАЛОВ ДЛЯ МИКРОСХЕМ ЗУ ЦМД
Типы организации микросхем ЗУ ЦМД
Основные сигналы для микросхем ЗУ ЦМД
| УДК 621.38:006.354 | ОКС 31.200 |
| Ключевые слова: микросхемы интегральные, запоминающие устройства, цилиндрические магнитные домены, термины, определения, буквенные обозначения | |