ГОСТ 25492-82. Межгосударственный стандарт. Устройства цифровых вычислительных машин запоминающие. Термины и определения
(утв. и введен в действие Постановлением Госстандарта СССР от 29.10.1982 № 4124)
(ред. от 01.10.1985)
Внимание
Документ утратил силу с 01.01.2024 в связи с изданием Приказа Росстандарта от 29.09.2023 № 1015-ст. Взамен введен в действие ГОСТ Р 70942-2023. Документ утратил силу с 01.01.2024 в связи с изданием Приказа Росстандарта от 29.09.2023 № 1015-ст. Взамен введен в действие ГОСТ Р 70942-2023. Документ введен в действие с 1 января 1984 года.
ИСТОРИЯ ИЗМЕНЕНИЙ НОРМАТИВНО-ТЕХНИЧЕСКИХ АКТОВ
flowchart LR n0["ГОСТ 25492-82"]:::rst click n0 "https://bukva.ai/docs/gost-25492-82" "ГОСТ 25492-82. Межгосударственный стандарт. Устройства цифровых вычислительных машин запоминающие. Термины и определения (утв. и введен в действие Постановлением Госстандарта СССР " n1["ГОСТ Р 70942-2023"]:::doc click n1 "https://bukva.ai/docs/standart-gost-r-70942-2023" "ГОСТ Р 70942-2023. Национальный стандарт Российской Федерации. Устройства цифровых вычислительных машин запоминающие. Термины и определения (утв. и введен в действие Приказом Росст" n0 --> n1 classDef rst fill:#FFEBEB,stroke:#8B0000,color:#000; classDef doc fill:#EBFFEB,stroke:#006400,color:#000; classDef notEnt fill:#FFFFEB,stroke:#FF8C00,color:#000;
Утвержден и введен в действие Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 29 октября 1982 г. № 4124
Memories of digital computers. Terms and definitions
35.220
1 января 1984 года
ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ
1. УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 29.10.82 № 4124
| Обозначение НТД, на который дана ссылка | Номер пункта |
| ГОСТ 13699-91 | Вводная часть |
| ГОСТ 15971-90 | 1 |
| ГОСТ 19480-89 Вводная часть | |
| 4. ИЗДАНИЕ с Изменением № 1, утвержденным в октябре 1985 г. (ИУС 1-86) | |
Настоящий стандарт устанавливает применяемые в науке, технике и производстве термины и определения основных понятий запоминающих устройств цифровых вычислительных машин.
Термины, установленные стандартом, обязательны для применения в документации всех видов, научно-технической, учебной и справочной литературе.
Для каждого понятия установлен один стандартизованный термин. Применение терминов — синонимов стандартизованного термина не допускается.
Для отдельных стандартизованных терминов в стандарте приведены в качестве справочных их краткие формы, которые разрешается применять в случаях, исключающих возможность их различного толкования. Установленные определения можно при необходимости изменять по форме изложения, не допуская нарушения границ понятий.
В случае, когда необходимые и достаточные признаки понятия содержатся в буквальном значении термина, определение не приведено, и, соответственно, в графе «Определение» поставлен прочерк.
Стандарт следует применять совместно с ГОСТ 19480 и ГОСТ 13699.
В стандарте в качестве справочных приведены эквиваленты терминов на английском языке.
В стандарте приведены алфавитные указатели содержащихся в нем терминов на русском и английском языках.
Стандартизованные термины набраны полужирным шрифтом, их краткая форма — светлым.
(Измененная редакция, Изм. № 1).
АЛФАВИТНЫЙ УКАЗАТЕЛЬ ТЕРМИНОВ НА РУССКОМ ЯЗЫКЕ
| ВЗУ | 8 |
|---|---|
| Время выборки данных | 28 |
| Время хранения данных | 29 |
| Доступ к данным ассоциативный | 24 |
| Доступ к данным запоминающего устройства на ферритовых сердечниках системный | 25 |
| Доступ к данным последовательный | 23 |
| Доступ к данным произвольный | 22 |
| Емкость | 26 |
| Емкость запоминающего устройства информационная | 26 |
| Запись данных | 31 |
| ЗУ | 1 |
| ЗУМП | 10 |
| ЗУМС | 9 |
| ЗУЦМП | 15 |
| ОЗУ | 5 |
| ПЗУ | 6 |
| ППЗУ | 7 |
| Регенерация данных | 35 |
| Скорость передачи данных из (в) запоминающего (ее) устройства (о) | 30 |
| Скорость передачи данных из запоминающего устройства | 30 |
| Содержимое запоминающего устройства | 4 |
| Считывание данных | 32 |
| Считывание данных без разрушения | 34 |
| Считывание данных с разрушением | 33 |
| Тест «Дождь» контроля запоминающего устройства | 44 |
| Тест контроля запоминающего устройства динамический | 43 |
| Тест контроля запоминающего устройства статический | 41 |
| Тест «Тяжелый код» контроля запоминающего устройства | 42 |
| Узел выборки адреса | 37 |
| Узел записи данных | 40 |
| Узел запоминающий | 38 |
| Узел считывания данных | 39 |
| Устройство запоминающее | 1 |
| Устройство запоминающее внешнее | 8 |
| Устройство запоминающее динамическое | 19 |
| Устройство запоминающее индуктивное | 11 |
| Устройство запоминающее конденсаторное | 17 |
| Устройство запоминающее криогенное | 13 |
| Устройство запоминающее оперативное | 5 |
| Устройство запоминающее оптоэлектронное | 12 |
| Устройство запоминающее полупроводниковое | 14 |
| Устройство запоминающее постоянное | 6 |
| Устройство запоминающее постоянное программируемое | 7 |
| Устройство запоминающее статическое | 18 |
| Устройство запоминающее энергозависимое | 21 |
| Устройство запоминающее энергонезависимое | 20 |
| Устройство на магнитных сердечниках запоминающее | 9 |
| Устройство на тонких магнитных пленках запоминающее | 10 |
| Устройство на цилиндрических магнитных доменах запоминающее | 16 |
| Устройство на цилиндрических магнитных пленках запоминающее | 15 |
| Хранение данных | 36 |
| Цикл обращения к запоминающему устройству | 27 |
| Элемент запоминающий | 2 |
| Ячейка запоминающего устройства | 3 |
| Ячейка ЗУ | 3 |
АЛФАВИТНЫЙ УКАЗАТЕЛЬ ТЕРМИНОВ НА АНГЛИЙСКОМ ЯЗЫКЕ
| Access cycle | 27 |
|---|---|
| Access time | 28 |
| Adress unit | 37 |
| Associative access | 24 |
| Capacitor memory | 17 |
| Capacity | 26 |
| Core (ferrite) memory organization | 25 |
| Cryogenic memory | 13 |
| Datatransfer speed | 30 |
| Destructive read | 33 |
| Dynamic memory | 19 |
| Dynamic test | 43 |
| External storage | 8 |
| Holding | 36 |
| Inductor memory | 11 |
| Magnetic core memory | 9 |
| Magnetic domain device | 16 |
| Magnetic thin film memory | 10 |
| Memory unit | 38 |
| NDR | 34 |
| Non-destructive read | 34 |
| Nonvolatile memory | 20 |
| Optoelectronic memory | 12 |
| Plated wire memory | 15 |
| Programmed read-only memory | 7 |
| PROM | 7 |
| RAM | 5 |
| Random access | 22 |
| Random access memory | 5 |
| Read | 32 |
| Read-only memory | 6 |
| Refresh | 35 |
| ROM | 6 |
| Semiconductor memory | 14 |
| Sensing unit | 39 |
| Sequential access | 23 |
| Static memory | 18 |
| Static test | 41 |
| Storage cell | 3 |
| Storage content | 4 |
| Storage element | 2 |
| Storage time | 29 |
| Storage unit | 1 |
| Volatile memory | 21 |
| Write | 31 |
| Writing unit | 40 |