---
title: "\"ГОСТ Р ИСО/МЭК 10373-9-2013. Национальный стандарт Российской Федерации. Карты идентификационные. Методы испытаний. Часть 9. Карты с оптической памятью. Метод голографической записи данных\""
number: "ГОСТ Р ИСО/МЭК 10373-9-2013"
issuer: "Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии"
status: действует
canonical: "https://bukva.ai/docs/standart-gost-r-isomek-10373-9-2013"
---

## "ГОСТ Р ИСО/МЭК 10373-9-2013. Национальный стандарт Российской Федерации. Карты идентификационные. Методы испытаний. Часть 9. Карты с оптической памятью. Метод голографической записи данных"

# "ГОСТ Р ИСО/МЭК 10373-9-2013. Национальный стандарт Российской Федерации. Карты идентификационные. Методы испытаний. Часть 9. Карты с оптической памятью. Метод голографической записи данных"

(утв. и введен в действие Приказом Росстандарта от 06.09.2013 N 884-ст)

> [!IMPORTANT]
> Документ [введен](#p100011) в действие с 01.01.2015.


<a id="p100001"></a>Утвержден и введен в действие
Приказом Федерального агентства
по техническому регулированию
и метрологии
от 6 сентября 2013 г. N 884-ст

<a id="p100002"></a>**НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ**

<a id="p100003"></a>**КАРТЫ ИДЕНТИФИКАЦИОННЫЕ**

<a id="p100004"></a>**МЕТОДЫ ИСПЫТАНИЙ**

<a id="p100005"></a>**ЧАСТЬ 9**

<a id="p100006"></a>**КАРТЫ С ОПТИЧЕСКОЙ ПАМЯТЬЮ.**
**МЕТОД ГОЛОГРАФИЧЕСКОЙ ЗАПИСИ ДАННЫХ**

<a id="p100007"></a>Identification cards. Test methods.
Part 9. Optical memory cards. Holographic recording method

<a id="p100008"></a>**(ISO/IEC 10373-9:2011, IDT)**

<a id="p100009"></a>**ГОСТ Р ИСО/МЭК 10373-9-2013**

<a id="p100010"></a>ОКС 35.240.15

<a id="p100011"></a>Дата введения
1 января 2015 года

<a id="p100012"></a>Предисловие

<a id="p100013"></a>1 ПОДГОТОВЛЕН Федеральным государственным унитарным предприятием "Всероссийский научно-исследовательский институт стандартизации и сертификации в машиностроении" (ВНИИНМАШ) и Техническим комитетом по стандартизации ТК 22 "Информационные технологии" на основе собственного перевода на русский язык англоязычной версии стандарта, указанного в [пункте 4](#p100016)
<a id="p100014"></a>2 ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 22 "Информационные технологии"
<a id="p100015"></a>3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 6 сентября 2013 г. N 884-ст
<a id="p100016"></a>4 Настоящий стандарт идентичен международному стандарту ИСО/МЭК 10373-9:2011 "Карты идентификационные. Методы испытаний. Часть 9. Карты с оптической памятью. Метод голографической записи данных" (ISO/IEC 10373-9:2011 "Identification cards - Test methods - Part 9: Optical memory cards - Holographic recording method", IDT).
<a id="p100017"></a>При применении настоящего стандарта рекомендуется использовать вместо ссылочных международных стандартов соответствующие им национальные стандарты, сведения о которых приведены в дополнительном [приложении ДА](#p100141)
<a id="p100018"></a>**5 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ**
<a id="p100019"></a>6 ПЕРЕИЗДАНИЕ. Январь 2019 г.
<a id="p100020"></a>7 Международная организация по стандартизации (ИСО) и Международная электротехническая комиссия (МЭК) обращают внимание, что применение международного стандарта, указанного в [пункте 4](#p100016), может повлечь за собой использование патентов.
<a id="p100021"></a>Организации ИСО и МЭК не берут на себя ответственность за определение доказательств, законности и границ этих патентных прав.
<a id="p100022"></a>Патентообладатели заверили ИСО и МЭК в том, что они готовы вести переговоры с претендентами со всего мира о предоставлении лицензий на разумных и не дискриминированных условиях, включая сроки. Это заявление патентообладателей зарегистрировано в ИСО и МЭК. Информацию можно получить у:
<a id="p100023"></a>Certego GmbH
<a id="p100024"></a>Lichtenbergstrasse 8
<a id="p100025"></a>85748 Garching
<a id="p100026"></a>Germany
<a id="p100027"></a>Некоторые положения международного стандарта, указанного в [пункте 4](#p100016), также могут являться объектом патентных прав, не идентифицированных выше. ИСО и МЭК не несут ответственности за идентификацию таких прав

<a id="p100028"></a>Правила применения настоящего стандарта установлены в статье 26 Федерального закона от 29 июня 2015 г. N 162-ФЗ "О стандартизации в Российской Федерации". Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на 1 января текущего года) информационном указателе "Национальные стандарты", а официальный текст изменений и поправок - в ежемесячном информационном указателе "Национальные стандарты". В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ближайшем выпуске ежемесячного информационного указателя "Национальные стандарты". Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользования - на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет (www.gost.ru)

<a id="p100029"></a>Введение

<a id="p100030"></a>Стандарты серии ИСО/МЭК 10373 устанавливают методы испытаний в поддержку требований стандартов серии ИСО/МЭК 11695, которые определяют параметры карт с оптической памятью, предназначенной для голографической записи, и использование таких карт для хранения цифровых данных и обмена этими данными.
<a id="p100031"></a>Международный стандарт ИСО/МЭК 10373-9:2011 подготовлен подкомитетом N 17 "Карты и идентификация личности" совместного технического комитета N 1 ИСО/МЭК "Информационные технологии".

<a id="p100032"></a>1 Область применения

<a id="p100033"></a>Настоящий стандарт устанавливает методы испытаний для определения характеристик идентификационных карт, соответствующих определению, приведенному в ИСО/МЭК 7810 (далее - карт). Стандарт распространяется на карты с оптической памятью, которые используют технологию метода голографической записи данных. На каждый метод испытания приводится указание в одном или нескольких базовых стандартах, которыми могут быть ИСО/МЭК 7810 либо один или несколько дополнительных стандартов, устанавливающих требования к технологиям хранения информации, применяемым в картах.
<a id="p100034"></a>Примечания
<a id="p100035"></a>1 Критерии оценки результатов испытаний не включены в настоящий стандарт, но их можно найти в базовых стандартах.
<a id="p100036"></a>2 Испытания, определенные в настоящем стандарте, должны выполняться по отдельности. Для конкретной карты не требуется последовательного выполнения всех испытаний.

<a id="p100037"></a>2 Нормативные ссылки

<a id="p100038"></a>В настоящем стандарте использованы нормативные ссылки на следующие международные стандарты (для датированных ссылок следует использовать только указанное издание, для недатированных - последнее издание указанного стандарта, включая все поправки):
<a id="p100039"></a>ISO/IEC 11695-2, Identification cards - Optical memory cards - Holographic recording method - Part 2: Dimensions and location of accessible optical area (Карты идентификационные. Карты с оптической памятью. Метод голографической записи данных. Часть 2. Размеры и расположение оптической зоны)
<a id="p100040"></a>ISO/IEC 11695-3, Identification cards - Optical memory cards - Holographic recording method - Part 3: Optical properties and characteristics (Карты идентификационные. Карты с оптической памятью. Метод голографической записи данных. Часть 3. Оптические свойства и характеристики)

<a id="p100041"></a>3 Термины и определения

<a id="p100042"></a>В настоящем стандарте применены следующие термины с соответствующими определениями:
<a id="p100043"></a>3.1 метод испытания (test method): Метод проверки характеристик карт с целью подтверждения их соответствия требованиям стандартов.
<a id="p100044"></a>3.2 работоспособное состояние (testably functional): Состояние карты, сохранившееся после некоторого потенциально разрушительного воздействия и отвечающее следующим критериям:
- <a id="p100045"></a>любая магнитная полоса, находящаяся на карте, показывает соотношение между амплитудами сигналов до и после воздействия в соответствии с требованиями базового стандарта;
- <a id="p100046"></a>любая(ые) интегральная(ые) схема(мы), находящаяся(иеся) в карте, сохраняет(ют) реакцию на восстановление (установку в исходное состояние) в виде Ответа-на-Восстановление <1> в соответствии с требованиями базового стандарта;

<a id="p100047"></a>

---

<a id="p100048"></a><1> Настоящий стандарт не предусматривает описание испытания, позволяющего установить функциональные возможности карт на интегральных схемах в полном объеме. Методы испытаний требуют проверки лишь минимальных возможностей (работоспособного состояния). При определенных обстоятельствах могут быть применены дополнительные критерии, обусловленные спецификой конкретного случая.

- <a id="p100049"></a>любые контакты, связанные с любой(ыми) интегральной(ыми) схемой(ами), находящейся(имися) в карте, сохраняют электрическое сопротивление и импеданс соответствующими требованиям базового стандарта;
- <a id="p100050"></a>любая оптическая память, находящаяся в карте, сохраняет оптические характеристики соответствующими требованиям базового стандарта.
<a id="p100051"></a>3.3 нормальное применение (normal use): Применение карты в качестве идентификационной (см. ИСО/МЭК 7810, 4.1), включая использование в машинных процессах, соответствующих технологии (хранения информации), реализованной в данной карте, и хранение карты как личного документа в промежутках между машинными процессами.

<a id="p100052"></a>4 Нормальные условия испытаний


#### <a id="p100053"></a>4.1 Нормальные климатические условия

<a id="p100054"></a>Испытания проводят при температуре окружающей среды (23 +/- 3) °C и относительной влажности от 40 до 60%, если не оговорены иные климатические условия.

#### <a id="p100055"></a>4.2 Предварительное кондиционирование

<a id="p100056"></a>Если метод испытания требует проведения предварительного кондиционирования, то испытуемые карты выдерживают в нормальных климатических условиях в течение 24 ч до начала испытания.

#### <a id="p100057"></a>4.3 Выбор методов испытаний

<a id="p100058"></a>Испытания, приведенные в настоящем стандарте, следует применять исключительно для карт с оптической памятью, использующих метод голографической записи данных и определяемых в ИСО/МЭК 11693 и стандартах серии ИСО/МЭК 11695 (все части), если не оговорено иное.

#### <a id="p100059"></a>4.4 Допускаемые отклонения

<a id="p100060"></a>Отклонения значений характеристик испытательного оборудования (например, линейных размеров) и параметров испытательных режимов (например, параметров настройки испытательного оборудования) от указанных в стандарте значений не должны превышать +/- 5%, если не оговорены другие допускаемые отклонения.

#### <a id="p100061"></a>4.5 Суммарная погрешность измерений

<a id="p100062"></a>Суммарная погрешность измерений по каждой величине, определяемой при испытаниях, должна быть указана в протоколе испытаний.

<a id="p100063"></a>5 Методы испытаний


#### <a id="p100064"></a>5.1 Расположение оптической зоны и базовой дорожки

<a id="p100065"></a>Цель испытания - измерение расположения оптической зоны и базовой дорожки на карте (см. ИСО/МЭК 11695-2).

##### <a id="p100066"></a>5.1.1 Порядок проведения испытания

<a id="p100067"></a>Строят две взаимно перпендикулярные оси координат x и y, пересекающиеся в точке O. Отмечают три контрольные точки: на оси x - точки P2 и P3 на расстоянии 11,25 мм и 71,25 мм соответственно от точки O; на оси y - точку P1 на расстоянии 27,00 мм от точки O. Испытуемую карту помещают оптической зоной вверх на плоскую твердую поверхность. Карту прижимают к поверхности посредством нагрузки (2,2 +/- 0,2) Н.
<a id="p100068"></a>Прикладывают усилие F1 (от 1 до 2 Н) и усилие F2 (от 2 до 4 Н) так, чтобы базовая кромка карты касалась точек P2 и P3, а правая кромка - точки P1 (см. [рисунок 1](#p100071)).
<a id="p100069"></a>Измеряют Xa, Xb, Y, C и D, применяя средство измерения с погрешностью не более 0,05 мм.

<a id="p100070"></a> ![рис. 1](https://i.bukva.ai/6m0sbYYi/img_0.png) 

<a id="p100071"></a>Рисунок 1 - Расположение оптической зоны и базовой дорожки


##### <a id="p100072"></a>5.1.2 Правила оформления результатов испытания

<a id="p100073"></a>Протокол испытаний должен содержать полученные значения размеров.

#### <a id="p100074"></a>5.2 Наклон

<a id="p100075"></a>Цель испытания - измерение угла наклона базовой дорожки к нижней кромке карты с оптической памятью (см. ИСО/МЭК 11695-2).

##### <a id="p100076"></a>5.2.1 Средства измерений

<a id="p100077"></a>Средства измерений представлены на [рисунке 2](#p100081). Они состоят из:
- <a id="p100078"></a>координатного столика с индикатором позиции координат x, y;
- <a id="p100079"></a>оптического микроскопа.

<a id="p100080"></a> ![рис. 2](https://i.bukva.ai/6m0sbYYi/img_1.png) 

<a id="p100081"></a>Рисунок 2 - Оборудование для измерения наклона


##### <a id="p100082"></a>5.2.2 Порядок проведения измерений

<a id="p100083"></a>Испытуемую карту помещают оптической зоной вверх на координатный столик.
<a id="p100084"></a>Наблюдая через окуляр микроскопа, перемещают координатный столик, чтобы можно было видеть базовую дорожку в левой части карты (см. [рисунок 3](#p100087)). Регулируют координатный столик так, чтобы точка пересечения координатных осей в окуляре совпала с базовой дорожкой. Затем регистрируют значения (X0, Y0) координат x, y.

<a id="p100085"></a>Рисунок не в масштабе

<a id="p100086"></a> ![рис. 3](https://i.bukva.ai/6m0sbYYi/img_2.png) 

<a id="p100087"></a>Рисунок 3 - Методика измерения наклона

<a id="p100088"></a>После этого перемещают столик в направлении оси y, чтобы можно было видеть нижнюю кромку карты. Регулируют столик аналогичным способом и регистрируют значения (X0, Y2).
<a id="p100089"></a>Далее перемещают столик, чтобы можно было видеть базовую дорожку в правой части карты, регулируют столик и регистрируют значения (X1, Y1). При этом значение |X0 - X1| должно быть не менее 60 мм.
<a id="p100090"></a>Наконец перемещают столик в направлении оси y, чтобы можно было видеть нижнюю кромку карты, регулируют столик и регистрируют значения (X1, Y3).
<a id="p100091"></a>Наклон $\phi$ вычисляют в соответствии с выражением

<a id="p100092"></a> ${}_{\phi =}|_{arctg}{_{(Y_{1} - Y_{0})(X_{1} - X_{0})}}_{- arctg}{_{(Y_{3} - Y_{2})(X_{1} - X_{0})}}|$ .


##### <a id="p100093"></a>5.2.3 Правила оформления результатов измерений

<a id="p100094"></a>Протокол испытаний должен содержать значения измеренного угла.

#### <a id="p100095"></a>5.3 Размер голограммы

<a id="p100096"></a>Размер голограммы не фиксирован, он должен определяться каждой отраслевой группой пользователей самостоятельно для более удобного применения карт при обмене информацией (см. ИСО/МЭК 11695-2).

##### <a id="p100097"></a>5.3.1 Средства измерений

<a id="p100098"></a>Размер голограммы измеряют с помощью микроскопа.

##### <a id="p100099"></a>5.3.2 Порядок проведения измерений

<a id="p100100"></a>Размер голограммы следует измерять, используя микроскоп.

##### <a id="p100101"></a>5.3.3 Правила оформления результатов измерений

<a id="p100102"></a>Протокол испытаний должен содержать значения измеренного размера голограммы.

#### <a id="p100103"></a>5.4 Компоновка из нескольких голограмм

<a id="p100104"></a>Оптическая зона может включать данные в форме одной или нескольких голограмм. Положение базовой голограммы определяется координатами X, Y относительно базовых кромок карты, а дополнительные голограммы должны быть расположены на базовой дорожке или на дорожках, параллельных базовой (см. [рисунки 1](#p100071) и [4](#p100108), а также ИСО/МЭК 11695-2).

<a id="p100105"></a> ![рис. 4](https://i.bukva.ai/6m0sbYYi/img_3.png) 

<a id="p100106"></a>dx >= hx
<a id="p100107"></a>dy >= hy

<a id="p100108"></a>Рисунок 4 - Компоновка из нескольких голограмм

<a id="p100109"></a>Минимальное расстояние между голограммами должно быть определено так, чтобы избежать перекрестного наложения от соседних голограмм при считывании одной голограммы. Расстояние (dx, dy) зависит от размера голограмм (см. ИСО/МЭК 11695-2).

##### <a id="p100110"></a>5.4.1 Средства измерений

<a id="p100111"></a>Расположение базовой голограммы, а также координаты относительно базовой голограммы должно измеряться с помощью микроскопа.

##### <a id="p100112"></a>5.4.2 Порядок проведения измерений

<a id="p100113"></a>Для измерения размера голограммы следует использовать микроскоп.
<a id="p100114"></a>На первом этапе положение базовой голограммы измеряют по отношению к базовым кромкам.
<a id="p100115"></a>На втором этапе измеряют положение и размеры соответствующих голограмм.

##### <a id="p100116"></a>5.4.3 Правила оформления результатов измерений

<a id="p100117"></a>Протокол испытаний должен содержать данные о положении базовой голограммы, а также о положении остальных голограмм по отношению к базовой голограмме.

#### <a id="p100118"></a>5.5 Оптические свойства

<a id="p100119"></a>При испытании карт с голографической памятью дифракционные решетки, записанные в запоминающем слое, измеряют в соответствии с ИСО/МЭК 11695-3.

##### <a id="p100120"></a>5.5.1 Средства испытания

<a id="p100121"></a>Дифракционные решетки должны считываться с помощью пучка считывания, а интенсивность дифрагированных пучков должна быть измерена с помощью светочувствительного датчика (камеры, фотодиода).

##### <a id="p100122"></a>5.5.2 Порядок проведения испытания

<a id="p100123"></a>Решетки должны быть изготовлены при помощи интерференции двух когерентных плоских волн O и R с длиной волны $\lambda$ , интенсивностью IO и IR и углами падения $\theta_{O}$ и $\theta_{R}$ .
<a id="p100124"></a>Период решетки $\Lambda$ связан с углами падения (см. [рисунок 5](#p100129))

<a id="p100125"></a> $\Lambda = \frac{\lambda}{sin\theta_{O} - sin\theta_{R}}$ .

<a id="p100126"></a>Результирующим профилем одиночных штрихов, формирующих решетку, является синусоидальный профиль.

<a id="p100127"></a> ![рис. 5](https://i.bukva.ai/6m0sbYYi/img_4.png) 

<a id="p100128"></a>*Примечание* - $\theta_{R}<0$ .

<a id="p100129"></a>Рисунок 5 - Запись дифракционной решетки в запоминающем слое
при помощи интерференции двух плоских волн

<a id="p100130"></a>При испытании должен использоваться период решетки в 2 мкм, что означает, что в запоминающем слое записаны 500 пар линий на 1 мм. Размер решетки должен находиться в пределах от 1 мм x 1 мм до 2 мм x 2 мм.
<a id="p100131"></a>Когда пучок падает на решетку под углом $\alpha$ (измеренным от нормали к решетке), он дифрагирует на несколько пучков. Пучок, который соответствует прямому пропусканию (или зеркальному отражению в случае отражательной дифракционной решетки), называется нулевым порядком и обозначается i = 0. Остальные порядки соответствуют углам дифракции, которые представлены отличными от нуля целыми числами i. Для периода штрихов d и длины падающей волны $\lambda$ уравнение дифракционной решетки дает значение угла дифракции $\beta_{i}(\lambda)$ порядка i (см. [рисунок 6](#p100137))

<a id="p100132"></a> $d(sin\beta_{i}(\lambda) + sin\alpha) = m\lambda$ .

<a id="p100133"></a>*Примечание* - Целое число i может быть положительным или отрицательным, в результате чего порядки дифракции наблюдаются по обеим сторонам от пучка нулевого порядка. Углы порядков дифракции зависят только от шага штрихов, а не от их формы.

<a id="p100134"></a> ![рис. 6](https://i.bukva.ai/6m0sbYYi/img_5.png) 

<a id="p100135"></a> $\alpha$ - угол падения,
<a id="p100136"></a> $\beta_{i}$ - углы дифракции, i = 0, +/- 1, +/- 2, ...

<a id="p100137"></a>Рисунок 6 - Дифракция пучка считывания
на дифракционной решетке


##### <a id="p100138"></a>5.5.3 Правила оформления результатов испытания

<a id="p100139"></a>Протокол испытаний должен содержать значение угла дифракции.





<a id="p100140"></a>Приложение ДА
(справочное)

<a id="p100141"></a>**СВЕДЕНИЯ О СООТВЕТСТВИИ ССЫЛОЧНЫХ МЕЖДУНАРОДНЫХ СТАНДАРТОВ**
**НАЦИОНАЛЬНЫМ СТАНДАРТАМ**

<a id="p100142"></a>Таблица ДА.1


<table>
<colgroup><col width="31%"><col width="12%"><col width="58%"></colgroup>
<tr><td><a id="p100143"></a>Обозначение ссылочного международного стандарта</td><td><a id="p100144"></a>Степень соответствия</td><td><a id="p100145"></a>Обозначение и наименование соответствующего национального стандарта</td></tr>
<tr><td><a id="p100146"></a>ISO/IEC 11695-2</td><td><a id="p100147"></a>IDT</td><td><a id="p100148"></a>ГОСТ Р ИСО/МЭК 11695-2-2011 "Карты идентификационные. Карты с оптической памятью. Метод голографической записи данных. Часть 2. Размеры и расположение оптической зоны"</td></tr>
<tr><td><a id="p100149"></a>ISO/IEC 11695-3</td><td><a id="p100150"></a>IDT</td><td><a id="p100151"></a>ГОСТ Р ИСО/МЭК 11695-3-2011 "Карты идентификационные. Карты с оптической памятью. Метод голографической записи данных. Часть 3. Оптические свойства и характеристики"</td></tr>
<tr><td colspan="3"><a id="p100152"></a><a id="p100153"></a>Примечание - В настоящей таблице использовано следующее условное обозначение степени соответствия стандартов:<br>- IDT - идентичные стандарты.</td></tr>
</table>






<a id="p100154"></a>Библиография


| <a id="p100155"></a>[1] | <a id="p100156"></a>ISO/IEC 7810 | <a id="p100157"></a>Identification cards - Physical characteristics (Карты идентификационные. Физические характеристики) |
| --- | --- | --- |
| <a id="p100158"></a>[2] | <a id="p100159"></a>ISO/IEC 11693 | <a id="p100160"></a>Identification cards - Optical memory cards - General characteristics (Карты идентификационные. Карты с оптической памятью. Общие характеристики) |
| <a id="p100161"></a>[3] | <a id="p100162"></a>ISO/IEC 11695-1 | <a id="p100163"></a>Identification cards - Optical memory cards - Holographic recording method - Part 1: Physical characteristics (Карты идентификационные. Карты с оптической памятью. Метод голографической записи данных. Часть 1. Физические характеристики) |







<table>
<colgroup><col width="50%"><col width="50%"></colgroup>
<tr><td><a id="p100164"></a>УДК 336.77:002:006.354</td><td><a id="p100165"></a>ОКС 35.240.15</td></tr>
<tr><td colspan="2"><a id="p100166"></a>Ключевые слова: обработка данных, обмен информацией, устройства хранения данных, идентификационные карты, оптическая память, метод голографической записи, методы испытаний</td></tr>
</table>




<a id="p100167"></a>

---