---
title: "\"ГОСТ Р ИСО 21561-2-2023. Национальный стандарт Российской Федерации. Каучуки бутадиен-стирольные. Определение микроструктуры бутадиен-стирольных каучуков растворной полимеризации. Часть 2. Метод ИК-спектрометрии нарушенного полного внутреннего отражения с преобразованием Фурье\""
number: "ГОСТ Р ИСО 21561-2-2023"
issuer: "Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии"
status: действует
canonical: "https://bukva.ai/docs/standart-gost-r-iso-21561-2-2023"
---

## "ГОСТ Р ИСО 21561-2-2023. Национальный стандарт Российской Федерации. Каучуки бутадиен-стирольные. Определение микроструктуры бутадиен-стирольных каучуков растворной полимеризации. Часть 2. Метод ИК-спектрометрии нарушенного полного внутреннего отражения с преобразованием Фурье"

# "ГОСТ Р ИСО 21561-2-2023. Национальный стандарт Российской Федерации. Каучуки бутадиен-стирольные. Определение микроструктуры бутадиен-стирольных каучуков растворной полимеризации. Часть 2. Метод ИК-спектрометрии нарушенного полного внутреннего отражения с преобразованием Фурье"

(утв. и введен в действие Приказом Росстандарта от 14.07.2023 N 541-ст)

> [!IMPORTANT]
> Документ [введен](#p100011) в действие с 01.07.2024.


<a id="p100001"></a>Утвержден и введен в действие
Приказом Федерального
агентства по техническому
регулированию и метрологии
от 14 июля 2023 г. N 541-ст

<a id="p100002"></a>**НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ**

<a id="p100003"></a>**КАУЧУКИ БУТАДИЕН-СТИРОЛЬНЫЕ**

<a id="p100004"></a>**ОПРЕДЕЛЕНИЕ МИКРОСТРУКТУРЫ БУТАДИЕН-СТИРОЛЬНЫХ КАУЧУКОВ**
**РАСТВОРНОЙ ПОЛИМЕРИЗАЦИИ**

<a id="p100005"></a>**ЧАСТЬ 2**

<a id="p100006"></a>**МЕТОД ИК-СПЕКТРОМЕТРИИ НАРУШЕННОГО ПОЛНОГО ВНУТРЕННЕГО**
**ОТРАЖЕНИЯ С ПРЕОБРАЗОВАНИЕМ ФУРЬЕ**

<a id="p100007"></a>Styrene-butadiene rubbers. Determination
of the microstructure of solution-polymerized
styrene-butadiene rubbers. Part 2. Fourier transform
infrared spectrometry with attenuated total
reflection method

<a id="p100008"></a>[ISO 21561-2:2016, Styrene-butadiene rubber (SBR) -
Determination of the microstructure of solution-polymerized
SBR - Part 2: FTIR with ATR method, IDT]

<a id="p100009"></a>**ГОСТ Р ИСО 21561-2-2023**

<a id="p100010"></a>ОКС 83.060

<a id="p100011"></a>Дата введения
1 июля 2024 года


### <a id="p100012"></a>Предисловие


<a id="p100013"></a>1 ПОДГОТОВЛЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 160 "Продукция нефтехимического комплекса" на основе собственного перевода на русский язык англоязычной версии стандарта, указанного в [пункте 4](#p100016)
<a id="p100014"></a>2 ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 160 "Продукция нефтехимического комплекса"
<a id="p100015"></a>3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 14 июля 2023 г. N 541-ст
<a id="p100016"></a>4 Настоящий стандарт идентичен международному стандарту ИСО 21561-2:2016 "Бутадиен-стирольный каучук (SBR). Определение микроструктуры SBR растворной полимеризации. Часть 2. Метод ИК-спектрометрии нарушенного полного внутреннего отражения с преобразованием Фурье" [ISO 21561-2:2016 "Styrene-butadiene rubber (SBR) - Determination of the microstructure of solution-polymerized SBR - Part 2: FTIR with ATR method", IDT].
<a id="p100017"></a>Стандарт разработан подкомитетом ПК 2 "Испытания и анализ" Технического комитета ТК 45 "Каучук и резиновые изделия" Международной организации по стандартизации (ИСО).
<a id="p100018"></a>Наименование настоящего стандарта изменено относительно наименования указанного международного стандарта для приведения в соответствие с ГОСТ Р 1.5-2012 (пункт 3.5).
<a id="p100019"></a>При применении настоящего стандарта рекомендуется использовать вместо ссылочных международных стандартов соответствующие им межгосударственные стандарты, сведения о которых приведены в дополнительном [приложении ДА](#p100479)
<a id="p100020"></a>**5 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ**

<a id="p100021"></a>Правила применения настоящего стандарта установлены в статье 26 Федерального закона от 29 июня 2015 г. N 162-ФЗ "О стандартизации в Российской Федерации". Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на 1 января текущего года) информационном указателе "Национальные стандарты", а официальный текст изменений и поправок - в ежемесячном информационном указателе "Национальные стандарты". В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ближайшем выпуске ежемесячного информационного указателя "Национальные стандарты". Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользования - на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет (www.rst.gov.ru)

<a id="p100022"></a>Предупреждение 1 - Пользователи настоящего стандарта должны быть знакомы с нормальной лабораторной практикой. В настоящем стандарте не предусмотрено рассмотрения всех вопросов обеспечения безопасности, связанных с его применением. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление безопасности и охраны здоровья, а также определяет целесообразность применения законодательных ограничений перед его использованием.
<a id="p100023"></a>Предупреждение 2 - Некоторые процедуры, описанные в настоящем стандарте, могут включать использование или образование веществ, или образование отходов, которые могут представлять опасность для окружающей среды. Следует использовать документацию по безопасному обращению и утилизации данных веществ после использования.


### <a id="p100024"></a>1 Область применения


<a id="p100025"></a>Настоящий стандарт устанавливает метод количественного определения микроструктуры бутадиеновой части и содержания стирольных звеньев в бутадиен-стирольных каучуках растворной полимеризации (S-SBR) с использованием ИК-спектрометрии нарушенного полного внутреннего отражения (ATR) с преобразованием Фурье (FTIR) (далее - FTIR ATR-спектрометрии). Содержание стирольных звеньев выражают в процентах по массе относительно всего полимера. Содержание винильных, транс- и цис-звеньев выражают в молярных процентах относительно бутадиена. Метод применим только для каучуков.
<a id="p100026"></a>Примечание 1 - Прецизионность, приведенная в [приложении A](#p100148), не может быть достигнута для S-SBR с блок-сополимером полистирола или с содержанием стирольных звеньев более 45% масс.
<a id="p100027"></a>*Примечание* 2 - В настоящем стандарте используют термины "винильные звенья", "транс-звенья" и "цис-звенья". Однако общепринятые выражения "винил", "транс" и "цис" означают следующее:
- <a id="p100028"></a>винил: винильное звено, винильная связь, 1,2-звено, 1,2-связь, 1,2-винильная группа или 1,2-винильная связь;
- <a id="p100029"></a>транс: 1,4-транс-звено, 1,4-транс-связь, транс-1,4-звено или транс-1,4-связь;
- <a id="p100030"></a>цис: 1,4-цис-звено, 1,4-цис-связь, цис-1,4-звено или цис-1,4-связь.


### <a id="p100031"></a>2 Нормативные ссылки


<a id="p100032"></a>В настоящем стандарте использована нормативная ссылка на следующий стандарт [для датированных ссылок применяют только указанное издание ссылочного стандарта, для недатированных - последнее издание (включая все изменения)]:
<a id="p100033"></a>ISO 1795, Rubber, raw natural and raw synthetic - Sampling and further preparative procedures (Каучук натуральный и синтетический. Отбор проб и дальнейшие подготовительные процедуры)


### <a id="p100034"></a>3 Сущность метода


<a id="p100035"></a>Измеряют ИК-спектр образца S-SBR с помощью FTIR ATR-спектрометрии. По специальным формулам определяют содержание стирольных звеньев и микроструктуры каждого компонента бутадиеновой части, используя оптические плотности, характерные для каждого компонента на определенных длинах волн.


### <a id="p100036"></a>4 Аппаратура



#### <a id="p100037"></a>4.1 FTIR-спектрометр со следующими характеристиками:

- <a id="p100038"></a>детектор: триглицинсульфат дейтерия (DTGS) или триглицинсульфат (TGS);
- <a id="p100039"></a>количество сканов: 32;
- <a id="p100040"></a>разрешение: 2 см-1;
- <a id="p100041"></a>диапазон волновых чисел: от 600 до 1800 см-1.

#### <a id="p100042"></a>4.2 Приставка ATR со следующими характеристиками:

- <a id="p100043"></a>тип: однократное отражение ATR;
- <a id="p100044"></a>кристалл: алмаз;
- <a id="p100045"></a>угол падения: 45°;
- <a id="p100046"></a>прижимное устройство для образца с вогнутым или плоским зажимом, способное поддерживать постоянное давление на образец. Рекомендуется использовать динамометрический ключ.


### <a id="p100047"></a>5 Калибровка



#### <a id="p100048"></a>5.1 FTIR-спектрометр


<a id="p100049"></a>Регулируют оптическую систему ИК-спектрометра в соответствии с инструкцией изготовителя.


#### <a id="p100050"></a>5.2 Приставка ATR


<a id="p100051"></a>Устанавливают приставку ATR в камере для образцов FTIR-спектрометра и регулируют оптическую систему приставки ATR в соответствии с инструкцией изготовителя.


### <a id="p100052"></a>6 Отбор проб



#### <a id="p100053"></a>6.1 Готовят пробу по ИСО 1795.

<a id="p100054"></a>*Примечание* - Экстракция обычных масел растворителем не требуется.

<a id="p100055"></a>6.2 Отрезают испытуемый образец от пробы. Образец должен иметь плоскую поверхность, обеспечивающую хороший контакт с кристаллом приставки ATR, и иметь приблизительно такой же размер, как кристалл, обычно несколько квадратных миллиметров.


### <a id="p100056"></a>7 Измерение спектра ATR


<a id="p100057"></a>7.1 Настраивают FTIR-спектрометр в соответствии с инструкцией изготовителя.
<a id="p100058"></a>7.2 Устанавливают приставку ATR в камере для образцов FTIR-спектрометра.

#### <a id="p100059"></a>7.3 Измеряют фоновый спектр при условиях по [4.1](#p100037).

<a id="p100060"></a>7.4 Помещают образец на кристалл ATR и максимально плотно прижимают его к поверхности кристалла, предпочтительно используя прижимное устройство, указанное в [4.2](#p100042). Контакт между образцом и кристаллом влияет на значение оптической плотности спектра ATR.

#### <a id="p100061"></a>7.5 Измеряют спектр образца при условиях по [4.1](#p100037).

<a id="p100062"></a>7.6 Во время измерений спектров фона и образцов атмосфера в камере для образцов FTIR-спектрометра должна поддерживаться постоянной, чтобы избежать влияния CO2 на поглощение при волновых числах 668 и 723 см-1.


### <a id="p100063"></a>8 Определение микроструктуры бутадиеновой части и содержания стирольных звеньев



#### <a id="p100064"></a>8.1 Измерение оптической плотности для каждого компонента микроструктуры


<a id="p100065"></a>Измеряют значения оптической плотности при волновых числах, соответствующих компонентам микроструктуры, как указано в таблице 1. Пики поглощения цис-звеньев являются слабыми и на положение пиков влияет содержание стирольных звеньев в полимере. Пример спектра ATR типичного S-SBR показан на [рисунке 1](#p100094).

<a id="p100066"></a>Таблица 1

<a id="p100067"></a>Измерение оптической плотности
для каждого компонента микроструктуры S-SBR


| <a id="p100068"></a>Обозначение оптической плотности | <a id="p100069"></a>Компонент микроструктуры | <a id="p100070"></a>Примечание |
| --- | --- | --- |
| <a id="p100071"></a>A10 | <a id="p100072"></a>Стирол | <a id="p100073"></a>Измеряют оптическую плотность в максимуме пика в диапазоне от 695 до 700 см-1 |
| <a id="p100074"></a>A20 | <a id="p100075"></a>цис-звенья | <a id="p100076"></a>На волновое число в этом максимуме пика влияет природа полимера, например содержание стирола. Когда максимум пика виден, измеряют оптическую плотность в максимуме пика в диапазоне от 720 до 730 см-1.<br>Если содержание стирольных звеньев более 30%, пик цис-связи скрывается между двумя большими пиками стирола при 758 см-1 и примерно при 698 см-1. В этом случае измеряют оптическую плотность при 726 см-1 |
| <a id="p100077"></a>A30 | <a id="p100078"></a>Стирол | <a id="p100079"></a>Измеряют оптическую плотность в максимуме пика в диапазоне от 755 до 761 см-1 |
| <a id="p100080"></a>A40 | <a id="p100081"></a>Винильные звенья | <a id="p100082"></a>Измеряют оптическую плотность в максимуме пика в диапазоне от 905 до 912 см-1 |
| <a id="p100083"></a>A50 | <a id="p100084"></a>транс-звенья | <a id="p100085"></a>Измеряют оптическую плотность в максимуме пика в диапазоне от 962 до 967 см-1 |
| <a id="p100086"></a>A60 | <a id="p100087"></a>Винильные звенья | <a id="p100088"></a>Измеряют оптическую плотность в максимуме пика в диапазоне от 991 до 996 см-1 |
| <a id="p100089"></a>A70 | <a id="p100090"></a>Базовая линия | <a id="p100091"></a>Измеряют оптическую плотность при 1200 см-1 как нулевую точку каждого значения оптической плотности |


<a id="p100092"></a> ![8 Определение микроструктуры бутадиеновой части и содержания стирольных звеньев](https://i.bukva.ai/jAWmKpwJ/img_0.png) 

<a id="p100093"></a>X - волновое число, см-1; Y - оптическая плотность

<a id="p100094"></a>Рисунок 1 - Спектр ATR типичного S-SBR


#### <a id="p100095"></a>8.2 Вычисление микроструктуры



##### <a id="p100096"></a>8.2.1 Общие положения

<a id="p100097"></a>Вычисляют микроструктуру S-SBR по формулам регрессии и измеренным значениям оптической плотности спектров ATR каждого образца. Формулы регрессии получены по результатам статистического анализа спектров ATR различных образцов S-SBR с известной микроструктурой. После корректировки базовой линии спектров ATR получают значения коэффициента поглощения соответствующих оптических плотностей в качестве параметра для вычисления микроструктуры. Микроструктуру вычисляют путем подстановки значений этого параметра в формулы регрессии.

##### <a id="p100098"></a>8.2.2 Корректировка базовой линии каждого пика поглощения

<a id="p100099"></a>Вычисляют поглощение каждого пика A11 - A61 со скорректированной базовой линией по формулам (1) - [(6)](#p100105):

<a id="p100100"></a>**A11 = A10 - A70; (1)**

<a id="p100101"></a>**A21 = A20 - A70; (2)**

<a id="p100102"></a>**A31 = A30 - A70; (3)**

<a id="p100103"></a>**A41 = A40 - A70; (4)**

<a id="p100104"></a>**A51 = A50 - A70; (5)**

<a id="p100105"></a>**A61 = A60 - A70. (6)**


##### <a id="p100106"></a>8.2.3 Коэффициент поглощения

<a id="p100107"></a>Вычисляют коэффициенты поглощения A12 - A62 по формулам (7) - [(12)](#p100113):

<a id="p100108"></a> $A12 = \frac{A11}{A11 + A21 + A31 + A41 + A51 + A61}$ ; (7)

<a id="p100109"></a> $A22 = \frac{A21}{A11 + A21 + A31 + A41 + A51 + A61}$ ; (8)

<a id="p100110"></a> $A32 = \frac{A31}{A11 + A21 + A31 + A41 + A51 + A61}$ ; (9)

<a id="p100111"></a> $A42 = \frac{A41}{A11 + A21 + A31 + A41 + A51 + A61}$ ; (10)

<a id="p100112"></a> $A52 = \frac{A51}{A11 + A21 + A31 + A41 + A51 + A61}$ ; (11)

<a id="p100113"></a> $A62 = \frac{A61}{A11 + A21 + A31 + A41 + A51 + A61}$ . (12)


##### <a id="p100114"></a>8.2.4 Члены второго порядка

<a id="p100115"></a>Вычисляют члены второго порядка как квадраты коэффициентов поглощения A12 - A62.

##### <a id="p100116"></a>8.2.5 Вычисление содержания стирольных звеньев и микроструктуры в процентах по массе по формулам регрессии

<a id="p100117"></a>Вычисляют содержание каждого компонента микроструктуры S-SBR по формулам регрессии (13) - [(16)](#p100121):

<a id="p100118"></a>Sm = <sub>9</sub>,0 + 12,9·A12 + 25,9·A122 - 111,2·A22 + 412,5·A222 +
**+ 105,0·A32 + 891,9·A322 - 0,5·A42 - 21,5·A422 - 30,7·A52 +**
**+ 28,9·A522 + 24,5·A62 - 47,2·A622; (13)**

<a id="p100119"></a>Vm = 32,9 + <sub>5</sub>,3·A12 - 12,9·A122 - 183,6·A22 + 1168,4·A222 +
**+ 13,2·A32 - 572,5·A322 + 33,7·A42 + 3,5·A422 - 90,5·A52 +**
**+ 33,5·A522 + 129,6·A62 + 168,9·A622, (14)**

<a id="p100120"></a>Tm = 42,5 - 16,3·A12 - 18,8·A122 + 61,4·A22 - 1368,2·A222 -
- 65,1·A32 - 127,7·A322 - 19,6·A42 + 14,9·A422 + 93,3·A52 -
- 13,9·A522 - 129,8·A62 - 116,6·A622; (15)

<a id="p100121"></a>Cm = 15,6 - 1,9·A12 + 5,8·A122 + 233,5·A22 - 212,6·A222 -
- 53,1·A32 - 191,7·A322 - 13,6·A42 + 3,1·A422 + 27,9·A52 -
- 48,5·A522 - 24,3·A62 - 5,1·A622, (16)

<a id="p100122"></a>где Sm - содержание стирольных звеньев в S-SBR, % масс.;
<a id="p100123"></a>Vm - содержание винильных звеньев в S-SBR, % масс.;
<a id="p100124"></a>Tm - содержание транс-звеньев в S-SBR, % масс.;
<a id="p100125"></a>Cm - содержание цис-звеньев в S-SBR, % масс.

##### <a id="p100126"></a>8.2.6 Вычисление микроструктуры в молярных процентах

<a id="p100127"></a>Вычисляют содержание каждого компонента микроструктуры бутадиеновой части S-SBR по формулам (17) - [(19)](#p100130):

<a id="p100128"></a> $V = \frac{V_{m}}{V_{m} + T_{m} + C_{m}} \cdot 100$ ; (17)

<a id="p100129"></a> $T = \frac{T_{m}}{V_{m} + T_{m} + C_{m}} \cdot 100$ ; (18)

<a id="p100130"></a> $C = \frac{C_{m}}{V_{m} + T_{m} + C_{m}} \cdot 100$ , (19)

<a id="p100131"></a>где V - содержание винильных звеньев в бутадиеновой части S-SBR, % мол.;
<a id="p100132"></a>T - содержание транс-звеньев в бутадиеновой части S-SBR, % мол.;
<a id="p100133"></a>C - содержание цис-звеньев в бутадиеновой части S-SBR, % мол.


### <a id="p100134"></a>9 Прецизионность


<a id="p100135"></a>Прецизионность метода приведена в [приложении A](#p100148).


### <a id="p100136"></a>10 Протокол испытаний


<a id="p100137"></a>Протокол испытаний должен содержать:
<a id="p100138"></a>a) описание образца:
1) <a id="p100139"></a>полную идентификацию образца и его происхождения;
2) <a id="p100140"></a>способ приготовления испытуемого образца из пробы, при необходимости;
<a id="p100141"></a>b) обозначение настоящего стандарта;
<a id="p100142"></a>c) сведения об отклонениях от указанной процедуры;
<a id="p100143"></a>d) результаты испытания:
1) <a id="p100144"></a>количество использованных образцов;
2) <a id="p100145"></a>результаты определений, выраженные в процентах и округленные до первого десятичного знака;
<a id="p100146"></a>e) дату проведения испытаний.





<a id="p100147"></a>Приложение A
(справочное)

<a id="p100148"></a>**ПРЕЦИЗИОННОСТЬ, УСТАНОВЛЕННАЯ ПО РЕЗУЛЬТАТАМ ПРОГРАММЫ**
**МЕЖЛАБОРАТОРНЫХ ИСПЫТАНИЙ**

<a id="p100149"></a>A.1 Общие положения

<a id="p100150"></a>Программа межлабораторных испытаний (ITP) была проведена в 2014 г.
<a id="p100151"></a>Все расчеты для повторяемости и воспроизводимости выполнены в соответствии с ISO/TR 9272 [[2]](#p100493). Термины и номенклатура прецизионности также приведены в ISO/TR 9272.

<a id="p100152"></a>A.2 Прецизионность, установленная по результатам программы межлабораторных испытаний

<a id="p100153"></a>A.2.1 Детали программы
<a id="p100154"></a>ITP организована и проведена в Японии в 2014 г. Испытуемые образцы были подготовлены в одной лаборатории и отправлены 16 лабораториям-участникам.
<a id="p100155"></a>В программе использовали два типа S-SBR каучука, обозначенные S-33 и S-34.
<a id="p100156"></a>Количество лабораторий, которые представили данные прецизионности для каждого свойства, указано в [таблицах A.1](#p100171) - [A.4](#p100261). Количество участвующих лабораторий в этих таблицах является окончательным после исключения значений определенных лабораторий как выбросов.
<a id="p100157"></a>ITP проводили последовательно в 2 нед. В одну из 2 нед. в течение дня определяли фон и испытывали каждый тип каучука (n = 1 x 2). Через неделю повторяли холостой опыт и определения (n = 1 x 2). Затем анализировали полученные результаты испытаний.
<a id="p100158"></a>A.2.2 Результаты определения прецизионности
<a id="p100159"></a>Результаты прецизионности приведены в [таблицах A.1](#p100171) - [A.4](#p100261).
<a id="p100160"></a>Повторяемость r метода установлена как соответствующее значение, приведенное в [таблицах A.1](#p100171) - [A.4](#p100261). Два отдельных результата испытания, расхождение между которыми превышает указанное значение, считают сомнительными и требующими принятия корректирующих действий.
<a id="p100161"></a>Воспроизводимость R метода установлена как соответствующее значение, приведенное в [таблицах A.1](#p100171) - [A.4](#p100261). Два отдельных результата испытания, расхождение между которыми превышает указанное значение, считают сомнительными и требующими принятия корректирующих действий.
<a id="p100162"></a>Показатели прецизионности не следует использовать для принятия или отклонения какой-либо группы материалов без документального свидетельства о том, что они применимы к конкретной группе материалов и конкретным протоколам испытаний.
<a id="p100163"></a>В [таблицах A.1](#p100171) - [A.4](#p100261) использованы следующие обозначения:
<a id="p100164"></a>sr - внутрилабораторное стандартное отклонение, единицы измерения;
<a id="p100165"></a>r - повторяемость, единицы измерения;
<a id="p100166"></a>(r) - повторяемость, проценты от среднего значения;
<a id="p100167"></a>sR - межлабораторное стандартное отклонение, единицы измерения;
<a id="p100168"></a>R - воспроизводимость, единицы измерения;
<a id="p100169"></a>(R) - воспроизводимость, проценты от среднего значения.

<a id="p100170"></a>Таблица A.1

<a id="p100171"></a>Прецизионность определения содержания
стирольных звеньев в S-SBR


<table>
<colgroup><col width="13%"><col width="14%"><col width="9%"><col width="9%"><col width="9%"><col width="9%"><col width="9%"><col width="9%"><col width="18%"></colgroup>
<tr><td><a id="p100172"></a>Образец</td><td><a id="p100173"></a>Среднее значение, %</td><td><a id="p100174"></a>sr</td><td><a id="p100175"></a>r</td><td><a id="p100176"></a>(r)</td><td><a id="p100177"></a>sR</td><td><a id="p100178"></a>R</td><td><a id="p100179"></a>(R)</td><td><a id="p100180"></a>Число лабораторий <sup><a href="#p100199">a</a></sup></td></tr>
<tr><td><a id="p100181"></a>S-33</td><td><a id="p100182"></a>24,8</td><td><a id="p100183"></a>0,80</td><td><a id="p100184"></a>0,65</td><td><a id="p100185"></a>2,61</td><td><a id="p100186"></a>0,64</td><td><a id="p100187"></a>1,80</td><td><a id="p100188"></a>7,27</td><td><a id="p100189"></a>14</td></tr>
<tr><td><a id="p100190"></a>S-34</td><td><a id="p100191"></a>34,5</td><td><a id="p100192"></a>0.12</td><td><a id="p100193"></a>0,35</td><td><a id="p100194"></a>1,00</td><td><a id="p100195"></a>0,60</td><td><a id="p100196"></a>1,69</td><td><a id="p100197"></a>4,91</td><td><a id="p100198"></a>15</td></tr>
<tr><td colspan="9"><a id="p100199"></a><sup>a</sup> Количество лабораторий после удаления выбросов (в ITP участвовали 16 лабораторий).</td></tr>
</table>


<a id="p100200"></a>Таблица A.2

<a id="p100201"></a>Прецизионность определения содержания
винильных звеньев в S-SBR


<table>
<colgroup><col width="13%"><col width="14%"><col width="9%"><col width="9%"><col width="9%"><col width="9%"><col width="9%"><col width="9%"><col width="18%"></colgroup>
<tr><td><a id="p100202"></a>Образец</td><td><a id="p100203"></a>Среднее значение, %</td><td><a id="p100204"></a>sr</td><td><a id="p100205"></a>r</td><td><a id="p100206"></a>(r)</td><td><a id="p100207"></a>sR</td><td><a id="p100208"></a>R</td><td><a id="p100209"></a>(R)</td><td><a id="p100210"></a>Число лабораторий <sup><a href="#p100229">a</a></sup></td></tr>
<tr><td><a id="p100211"></a>S-33</td><td><a id="p100212"></a>61,1</td><td><a id="p100213"></a>0,35</td><td><a id="p100214"></a>1,00</td><td><a id="p100215"></a>1,64</td><td><a id="p100216"></a>0,80</td><td><a id="p100217"></a>2,25</td><td><a id="p100218"></a>3,69</td><td><a id="p100219"></a>14</td></tr>
<tr><td><a id="p100220"></a>S-34</td><td><a id="p100221"></a>42,3</td><td><a id="p100222"></a>0,20</td><td><a id="p100223"></a>0,55</td><td><a id="p100224"></a>1,31</td><td><a id="p100225"></a>0,81</td><td><a id="p100226"></a>2,30</td><td><a id="p100227"></a>5,44</td><td><a id="p100228"></a>15</td></tr>
<tr><td colspan="9"><a id="p100229"></a><sup>a</sup> Количество лабораторий после удаления выбросов (в ITP участвовали 16 лабораторий).</td></tr>
</table>


<a id="p100230"></a>Таблица A.3

<a id="p100231"></a>Прецизионность определения содержания
транс-звеньев в S-SBR


<table>
<colgroup><col width="13%"><col width="14%"><col width="9%"><col width="9%"><col width="9%"><col width="9%"><col width="9%"><col width="9%"><col width="18%"></colgroup>
<tr><td><a id="p100232"></a>Образец</td><td><a id="p100233"></a>Среднее значение, %</td><td><a id="p100234"></a>sr</td><td><a id="p100235"></a>r</td><td><a id="p100236"></a>(r)</td><td><a id="p100237"></a>sR</td><td><a id="p100238"></a>R</td><td><a id="p100239"></a>(R)</td><td><a id="p100240"></a>Число лабораторий <sup><a href="#p100259">a</a></sup></td></tr>
<tr><td><a id="p100241"></a>S-33</td><td><a id="p100242"></a>21,9</td><td><a id="p100243"></a>0,16</td><td><a id="p100244"></a>0,45</td><td><a id="p100245"></a>2,07</td><td><a id="p100246"></a>0,26</td><td><a id="p100247"></a>0,73</td><td><a id="p100248"></a>3,35</td><td><a id="p100249"></a>12</td></tr>
<tr><td><a id="p100250"></a>S-34</td><td><a id="p100251"></a>33,8</td><td><a id="p100252"></a>0,14</td><td><a id="p100253"></a>0,38</td><td><a id="p100254"></a>1,13</td><td><a id="p100255"></a>0,47</td><td><a id="p100256"></a>1,34</td><td><a id="p100257"></a>3,97</td><td><a id="p100258"></a>12</td></tr>
<tr><td colspan="9"><a id="p100259"></a><sup>a</sup> Количество лабораторий после удаления выбросов (в ITP участвовали 16 лабораторий).</td></tr>
</table>


<a id="p100260"></a>Таблица A.4

<a id="p100261"></a>Прецизионность определения содержания
цис-звеньев в S-SBR


<table>
<colgroup><col width="13%"><col width="14%"><col width="9%"><col width="9%"><col width="9%"><col width="9%"><col width="9%"><col width="9%"><col width="18%"></colgroup>
<tr><td><a id="p100262"></a>Образец</td><td><a id="p100263"></a>Среднее значение, %</td><td><a id="p100264"></a>sr</td><td><a id="p100265"></a>r</td><td><a id="p100266"></a>(r)</td><td><a id="p100267"></a>sR</td><td><a id="p100268"></a>R</td><td><a id="p100269"></a>(R)</td><td><a id="p100270"></a>Число лабораторий <sup><a href="#p100289">a</a></sup></td></tr>
<tr><td><a id="p100271"></a>S-33</td><td><a id="p100272"></a>17,0</td><td><a id="p100273"></a>0,21</td><td><a id="p100274"></a>0,58</td><td><a id="p100275"></a>3,43</td><td><a id="p100276"></a>0,74</td><td><a id="p100277"></a>2,10</td><td><a id="p100278"></a>12,38</td><td><a id="p100279"></a>13</td></tr>
<tr><td><a id="p100280"></a>S-34</td><td><a id="p100281"></a>23,5</td><td><a id="p100282"></a>0,24</td><td><a id="p100283"></a>0,69</td><td><a id="p100284"></a>2,95</td><td><a id="p100285"></a>0,95</td><td><a id="p100286"></a>2,69</td><td><a id="p100287"></a>11,45</td><td><a id="p100288"></a>13</td></tr>
<tr><td colspan="9"><a id="p100289"></a><sup>a</sup> Количество лабораторий после удаления выбросов (в ITP участвовали 16 лабораторий).</td></tr>
</table>






<a id="p100290"></a>Приложение B
(справочное)

<a id="p100291"></a>**ВЫВЕДЕНИЕ ФОРМУЛ РЕГРЕССИИ ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МИКРОСТРУКТУРЫ**

<a id="p100292"></a>B.1 Формулы регрессии для определения микроструктуры каучука получены методами частных наименьших квадратов (PLS).
<a id="p100293"></a>B.2 Анализировали 19 образцов S-SBR с известной микроструктурой, показанной в таблице B.1, с использованием 1H-ЯМР- и 13C-ЯМР-спектрометрии. Содержание стирольных, винильных, транс- и цис-звеньев определяли в соответствии с [приложением C](#p100408). Испытания проводили в трех лабораториях, результаты усреднены. Значения, полученные методом ЯМР-спектрометрии, использовали в качестве зависимых переменных в регрессионном анализе методом PLS.

<a id="p100294"></a>Таблица B.1

<a id="p100295"></a>Микроструктура образцов, использованных
для регрессионного анализа методом PLS


<table>
<colgroup><col width="14%"><col width="22%"><col width="22%"><col width="22%"><col width="22%"></colgroup>
<tr><td><a id="p100296"></a>Образец</td><td><a id="p100297"></a>Содержание стирольных звеньев в S-SBR, % масс.</td><td><a id="p100298"></a>Содержание винильных звеньев в бутадиеновой части, % мол.</td><td><a id="p100299"></a>Содержание транс-звеньев в бутадиеновой части, % мол.</td><td><a id="p100300"></a>Содержание цис-звеньев в бутадиеновой части, % мол.</td></tr>
<tr><td><a id="p100301"></a>R-01</td><td><a id="p100302"></a>18,1</td><td><a id="p100303"></a>10,2</td><td><a id="p100304"></a>52,2</td><td><a id="p100305"></a>37,6</td></tr>
<tr><td><a id="p100306"></a>R-02</td><td><a id="p100307"></a>25,7</td><td><a id="p100308"></a>10,3</td><td><a id="p100309"></a>53,8</td><td><a id="p100310"></a>35,9</td></tr>
<tr><td><a id="p100311"></a>R-03</td><td><a id="p100312"></a>20,7</td><td><a id="p100313"></a>62,8</td><td><a id="p100314"></a>21,4</td><td><a id="p100315"></a>15,7</td></tr>
<tr><td><a id="p100316"></a>R-04</td><td><a id="p100317"></a>4,8</td><td><a id="p100318"></a>20,1</td><td><a id="p100319"></a>46,4</td><td><a id="p100320"></a>33,5</td></tr>
<tr><td><a id="p100321"></a>R-05</td><td><a id="p100322"></a>23,2</td><td><a id="p100323"></a>32,6</td><td><a id="p100324"></a>42,2</td><td><a id="p100325"></a>25,2</td></tr>
<tr><td><a id="p100326"></a>R-06</td><td><a id="p100327"></a>13,4</td><td><a id="p100328"></a>48,1</td><td><a id="p100329"></a>30,9</td><td><a id="p100330"></a>21,0</td></tr>
<tr><td><a id="p100331"></a>R-07</td><td><a id="p100332"></a>0,0</td><td><a id="p100333"></a>10,6</td><td><a id="p100334"></a>51,9</td><td><a id="p100335"></a>37,5</td></tr>
<tr><td><a id="p100336"></a>R-08</td><td><a id="p100337"></a>24,8</td><td><a id="p100338"></a>34,5</td><td><a id="p100339"></a>39,7</td><td><a id="p100340"></a>25,8</td></tr>
<tr><td><a id="p100341"></a>R-09</td><td><a id="p100342"></a>41,4</td><td><a id="p100343"></a>46,1</td><td><a id="p100344"></a>31,2</td><td><a id="p100345"></a>22,7</td></tr>
<tr><td><a id="p100346"></a>R-10</td><td><a id="p100347"></a>34,7</td><td><a id="p100348"></a>56,4</td><td><a id="p100349"></a>24,0</td><td><a id="p100350"></a>19,5</td></tr>
<tr><td><a id="p100351"></a>R-11</td><td><a id="p100352"></a>36,3</td><td><a id="p100353"></a>41,3</td><td><a id="p100354"></a>33,9</td><td><a id="p100355"></a>24,8</td></tr>
<tr><td><a id="p100356"></a>R-12</td><td><a id="p100357"></a>41,9</td><td><a id="p100358"></a>34,5</td><td><a id="p100359"></a>39,8</td><td><a id="p100360"></a>25,7</td></tr>
<tr><td><a id="p100361"></a>R-13</td><td><a id="p100362"></a>26,2</td><td><a id="p100363"></a>9,9</td><td><a id="p100364"></a>53,7</td><td><a id="p100365"></a>36,4</td></tr>
<tr><td><a id="p100366"></a>R-14</td><td><a id="p100367"></a>0,0</td><td><a id="p100368"></a>55,9</td><td><a id="p100369"></a>24,6</td><td><a id="p100370"></a>19,5</td></tr>
<tr><td><a id="p100371"></a>R-15</td><td><a id="p100372"></a>0,0</td><td><a id="p100373"></a>70,5</td><td><a id="p100374"></a>16,7</td><td><a id="p100375"></a>12,8</td></tr>
<tr><td><a id="p100376"></a>R-16</td><td><a id="p100377"></a>8,6</td><td><a id="p100378"></a>37,3</td><td><a id="p100379"></a>37,8</td><td><a id="p100380"></a>24,9</td></tr>
<tr><td><a id="p100381"></a>R-17</td><td><a id="p100382"></a>4,9</td><td><a id="p100383"></a>77,2</td><td><a id="p100384"></a>12,5</td><td><a id="p100385"></a>10,4</td></tr>
<tr><td><a id="p100386"></a>R-18</td><td><a id="p100387"></a>25,5</td><td><a id="p100388"></a>49,2</td><td><a id="p100389"></a>29,2</td><td><a id="p100390"></a>21,7</td></tr>
<tr><td><a id="p100391"></a>R-19</td><td><a id="p100392"></a>29,7</td><td><a id="p100393"></a>30,0</td><td><a id="p100394"></a>44,6</td><td><a id="p100395"></a>25,4</td></tr>
<tr><td colspan="5"><a id="p100396"></a>Примечание - Значения микроструктуры получены с использованием 1H-ЯМР- и 13C-ЯМР-спектрометрии.</td></tr>
</table>


<a id="p100397"></a>B.3 Измеряли спектры ATR образцов в соответствии с [разделом 7](#p100056). Измерения проводили в семи лабораториях по одному разу.
<a id="p100398"></a>B.4 Измеренные значения оптической плотности спектров ATR преобразовали в коэффициенты поглощения по [8.1](#p100064) - [8.2.3](#p100106).
<a id="p100399"></a>B.5 Вычисляли члены второго порядка как квадраты значений A12 - A62. Значения A12 - A62 и их квадраты использовали в качестве независимых переменных в регрессионном анализе методом PLS (см. [8.2.4](#p100114)).
<a id="p100400"></a>B.6 Формулы регрессии [(13)](#p100118) - [(16)](#p100121) для определения микроструктуры, приведенные в [разделе 8](#p100063), были получены следующим образом:
<a id="p100401"></a>a) применяли готовое программное обеспечение для регрессии методом PLS ( $JMP®$ <1> от SAS Institute Inc.).

<a id="p100402"></a>

---

<a id="p100403"></a><1> Пример подходящего программного обеспечения, доступного на рынке. Эта информация предоставлена для удобства пользователей настоящего стандарта и не является одобрением ИСО данного программного обеспечения.

<a id="p100404"></a>b) значения содержания стирольных, винильных, транс- и цис-звеньев 19 образцов, полученные методами ЯМР по [B.2](#p100293), использовали в качестве зависимых переменных в методе PLS.
<a id="p100405"></a>c) значения, полученные из оптических плотностей ATR спектров соответствующими лабораториями по [B.5](#p100399), использовали в качестве независимых переменных в методе PLS;
<a id="p100406"></a>d) коэффициенты, полученные с помощью регрессионного анализа методом PLS, соответствуют коэффициентам в [формулах (13)](#p100118) - [(16)](#p100121) для содержания стирольных, винильных, транс- и цис-звеньев (см. [8.2.5](#p100116)).





<a id="p100407"></a>Приложение C
(справочное)

<a id="p100408"></a>**ОПРЕДЕЛЕНИЕ МИКРОСТРУКТУРЫ МЕТОДОМ ЯМР-СПЕКТРОМЕТРИИ**

<a id="p100409"></a>C.1 Общие положения

<a id="p100410"></a>Содержание стирольных звеньев и микроструктуры бутадиеновой части для 19 образцов каучука, использованных для выведения формул регрессии, определяли с использованием 1H-ЯМР-спектрометрии и 13C-ЯМР-спектрометрии.

<a id="p100411"></a>C.2 Определение содержания стирольных, винильных звеньев и суммы транс- и цис-звеньев в S-SBR с использованием 1H-ЯМР-спектрометрии

<a id="p100412"></a>Содержание стирольных, винильных звеньев и суммы транс- и цис-звеньев определяли с использованием 1H-ЯМР-спектрометрии в соответствии с ИСО 21561-1:2015, подраздел 3.6 [[1]](#p100490). Дополнительно использовали следующие формулы:

<a id="p100413"></a> $V_{m} = \frac{(100 - S_{m})V}{V + G}$ ; (C.1)

<a id="p100414"></a>Gm = 100 - Sm - Vm, (C.2)

<a id="p100415"></a>где Vm - содержание винильных звеньев в бутадиеновой части S-SBR, % масс.;
<a id="p100416"></a>Sm - содержание стирольных звеньев в S-SBR, % масс.;
<a id="p100417"></a>V - содержание винильных звеньев в бутадиеновой части S-SBR, мол. %;
<a id="p100418"></a>G - содержание транс- и цис-звеньев в бутадиеновой части S-SBR, % мол;
<a id="p100419"></a>Gm - суммарное содержание транс- и цис-звеньев в S-SBR, мас. %.

<a id="p100420"></a>C.3 Определение транс- и цис-звеньев с использованием 13C-ЯМР-спектрометрии

<a id="p100421"></a>C.3.1 Условия измерения спектров 13C-ЯМР
<a id="p100422"></a>Измеряли спектры 13C-ЯМР с помощью ЯМР-спектрометра с рабочей частотой 400 МГц и двух ЯМР-спектрометров с рабочей частотой 500 МГц при следующих условиях:
- <a id="p100423"></a>растворитель: CDCl<sub>3</sub>, содержащий 0,03% тетраметилсилана (TMS) в качестве внутреннего стандарта; чистота CDCl<sub>3</sub> не менее 99,8%;
- <a id="p100424"></a>концентрация образца: 50 мг/мл;
- <a id="p100425"></a>режим: полная развязка 1H.
<a id="p100426"></a>Примечание - Для количественного анализа методом 13C-ЯМР-спектрометрии в основном используют "обратную прерываемую развязку". Однако в данном анализе использована "полная развязка 1H", которая является распространенным методом качественного анализа. Причина применения полной развязки 1H заключалась в том, что в отношении пиков 13C-ЯМР как для транс-метиленовых, так и для цис-метиленовых атомов углерода, использовавшихся для количественного анализа, различие по ядерному эффекту Оверхаузера (NOE) считали небольшим, поскольку эти метиленовые атомы углерода магнитно-эквивалентные. Фактически значения, полученные методом полной развязки 1H, сопоставимы со значениями, полученными с использованием метода обратной прерываемой развязки, как показано в [таблице C.1](#p100438);

- <a id="p100427"></a>температура измерения: комнатная температура;
- <a id="p100428"></a>количество точек данных: 32 000;
- <a id="p100429"></a>смещение: 100 ppm;
- <a id="p100430"></a>ширина развертки: 250 ppm;
- <a id="p100431"></a>ширина импульса: 30°;
- <a id="p100432"></a>время повторения: 3 с;
- <a id="p100433"></a>количество сканирований: 5000 раз;
- <a id="p100434"></a>количество холостых сканирований: 4 раза;
- <a id="p100435"></a>скорость вращения: 15 Гц;
- <a id="p100436"></a>регулировка резонанса эталонного пика до 0,00 ppm для TMS.

<a id="p100437"></a>Таблица C.1

<a id="p100438"></a>Сравнение значений содержания транс- и цис-звеньев,
полученных с использованием различных режимов определения


| <a id="p100439"></a>Содержание компонента микроструктуры, % мол. | <a id="p100440"></a>Обратная прерываемая развязка (обычно применяют для количественного анализа) | <a id="p100441"></a>Полная развязка 1H (обычно применяют для качественного анализа) |
| --- | --- | --- |
| <a id="p100442"></a>транс-звенья | <a id="p100443"></a>63,2 | <a id="p100444"></a>62,4 |
| <a id="p100445"></a>цис-звенья | <a id="p100446"></a>36,8 | <a id="p100447"></a>37,6 |


<a id="p100448"></a>C.3.2 Анализ спектра 13C-ЯМР
<a id="p100449"></a>Области сигналов спектра 13C-ЯМР приведены в [таблице C.2](#p100453).
<a id="p100450"></a>На [рисунке C.1](#p100470) приведен пример спектра 13C-ЯМР, показывающий области от Na до Nf.
<a id="p100451"></a>Для определения содержания транс- и цис-звеньев получены интегральные значения площадей от Na до Nf.

<a id="p100452"></a>Таблица C.2

<a id="p100453"></a>Определение областей интеграции сигналов


| <a id="p100454"></a>Область | <a id="p100455"></a>Диапазон интеграции сигнала |
| --- | --- |
| <a id="p100456"></a>Na | <a id="p100457"></a>От точки минимальной интенсивности примерно 24,7 ppm до точки минимальной интенсивности примерно 25,6 ppm |
| <a id="p100458"></a>Nb | <a id="p100459"></a>От точки минимальной интенсивности примерно 27,1 ppm до точки минимальной интенсивности примерно 27,7 ppm |
| <a id="p100460"></a>Nc | <a id="p100461"></a>От точки минимальной интенсивности примерно 29,8 ppm до точки минимальной интенсивности примерно 30,7 ppm |
| <a id="p100462"></a>Nd | <a id="p100463"></a>От точки минимальной интенсивности примерно 32,4 ppm до точки минимальной интенсивности примерно 33,0 ppm |
| <a id="p100464"></a>Ne | <a id="p100465"></a>От точки минимальной интенсивности примерно 33,8 ppm до точки минимальной интенсивности примерно 34,2 ppm |
| <a id="p100466"></a>Nf | <a id="p100467"></a>От точки минимальной интенсивности примерно 38,05 ppm до точки минимальной интенсивности примерно 38,35 ppm |


<a id="p100468"></a> ![10 Протокол испытаний](https://i.bukva.ai/jAWmKpwJ/img_1.png) 

<a id="p100469"></a>X - сдвиг, ppm; Na - Nf - области интеграции сигналов

<a id="p100470"></a>Рисунок C.1 - Пример спектра 13C ЯМР S-SBR

<a id="p100471"></a>C.3.3 Определение содержания транс- и цис-звеньев
<a id="p100472"></a>Используя значения площадей пиков от Na до Nf, полученные по [C.2.2](#p100448), и значение Gm, вычисленное по [формуле (C.2)](#p100414), вычисляют содержание транс- и цис-звеньев в S-SBR по следующим формулам:

<a id="p100473"></a> $T_{m} = \frac{N_{c} + \frac{N_{d} - N_{e} + N_{f}}{2}}{N_{a} + \frac{N_{b}}{2} + N_{c} + \frac{N_{d} - N_{e} + N_{f}}{2}} \cdot G_{m}$ ; (C.3)

<a id="p100474"></a> $C_{m} = \frac{N_{a} + \frac{N_{b}}{2}}{N_{a} + \frac{N_{b}}{2} + N_{c} + \frac{N_{d} - N_{e} + N_{f}}{2}} \cdot G_{m}$ , (C.4)

<a id="p100475"></a>где Tm - содержание транс-звеньев в S-SBR, % масс.;
<a id="p100476"></a>Gm - сумма значений содержания транс- и цис-звеньев в S-SBR, полученная по [формуле (C.2)](#p100414), % масс.
<a id="p100477"></a>Cm - содержание цис-звеньев в S-SBR, % масс.





<a id="p100478"></a>Приложение ДА
(справочное)

<a id="p100479"></a>**СВЕДЕНИЯ О СООТВЕТСТВИИ ССЫЛОЧНЫХ МЕЖДУНАРОДНЫХ СТАНДАРТОВ**
**МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫМ СТАНДАРТАМ**

<a id="p100480"></a>Таблица ДА.1


<table>
<colgroup><col width="25%"><col width="12%"><col width="63%"></colgroup>
<tr><td><a id="p100481"></a>Обозначение ссылочного международного стандарта</td><td><a id="p100482"></a>Степень соответствия</td><td><a id="p100483"></a>Обозначение и наименование соответствующего межгосударственного стандарта</td></tr>
<tr><td><a id="p100484"></a>ISO 1795</td><td><a id="p100485"></a>IDT</td><td><a id="p100486"></a><a href="https://bukva.ai/docs/gost-iso-1795-2020">ГОСТ ISO 1795-2020</a> "Каучук натуральный и синтетический. Отбор проб и дальнейшие подготовительные процедуры"</td></tr>
<tr><td colspan="3"><a id="p100487"></a><a id="p100488"></a>Примечание - В настоящей таблице использовано следующее условное обозначение степени соответствия стандарта:<br>- IDT - идентичный стандарт.</td></tr>
</table>







## <a id="p100489"></a>БИБЛИОГРАФИЯ



| <a id="p100490"></a>[1] | <a id="p100491"></a>ISO 21561-1:2015 | <a id="p100492"></a>Styrene-butadiene rubber (SBR) - Determination of the microstructure of solution-polymerized SBR - Part 1: 1H-NMR and IR with cast-film method [Бутадиен-стирольный каучук (SBR). Определение микроструктуры SBR растворной полимеризации. Часть 1. Методы протонного магнитного резонанса и ИК-спектрометрии с использованием литой пленки] |
| --- | --- | --- |
| <a id="p100493"></a>[2] | <a id="p100494"></a>ISO/TR 9272:2005 [<1>](#p100497) | <a id="p100495"></a>Rubber and rubber products - Determination of precision for test method standards (Каучук и резиновые изделия. Определение прецизионности стандартных методов испытаний) |



<a id="p100496"></a>

---

<a id="p100497"></a><1> Действует ISO 19983:2022, Rubber - Determination of precision of test methods (Резина. Определение прецизионности методов испытаний).






<table>
<colgroup><col width="69%"><col width="31%"></colgroup>
<tr><td><a id="p100498"></a>УДК 678.766.2:678.012.4:006.354</td><td><a id="p100499"></a>ОКС 83.060</td></tr>
<tr><td colspan="2"><a id="p100500"></a>Ключевые слова: каучуки бутадиен-стирольные, определение микроструктуры бутадиен-стирольных каучуков растворной полимеризации, метод ИК-спектрометрии нарушенного полного внутреннего отражения с преобразованием Фурье</td></tr>
</table>




<a id="p100501"></a>

---