Государственная поверочная схема для средств измерений относительных диэлектрической и магнитной проницаемостей и тангенса угла диэлектрических и магнитных потерь в диапазоне частот от 1 МГц до 40 ГГц
(утв. Приказом Росстандарта от 05.02.2026 № 205)
Примечание
Текст документа приведен в соответствии с публикацией на сайте https://www.rst.gov.ru/portal/gost по состоянию на 05.02.2026. В соответствии с Приказом Росстандарта от 05.02.2026 № 205 данный документ введен в действие с 20.02.2026.
ИСТОРИЯ ИЗМЕНЕНИЙ НОРМАТИВНО-ТЕХНИЧЕСКИХ АКТОВ
flowchart LR n0["ГОСТ 8.274-85"]:::rst click n0 "https://bukva.ai/docs/prikaz-gost-r-70637-2023" "ГОСТ 8.274-85. Государственный стандарт Союза ССР. Государственная система обеспечения единства измерений. Государственный специальный эталон и государственная поверочная схема для" n1["ГОСТ Р 8.768-2011"]:::rst click n1 "https://bukva.ai/docs/gost-r-8-768-2011" "ГОСТ Р 8.768-2011. Национальный стандарт Российской Федерации. Государственная система обеспечения единства измерений. Государственная поверочная схема для средств измерений... (ут" n2["Государственная поверочная схема... (от 28.05.2018 N 1044)"]:::rst click n2 "https://bukva.ai/docs/shema-1044" "Государственная поверочная схема для средств измерений относительных диэлектрической и магнитной проницаемостей в диапазоне частот от 1 МГц до 18 ГГц (утв. Приказом Росстандарта от" n3["Государственная поверочная схема... (от 05.02.2026 N 205)"]:::doc click n3 "https://bukva.ai/docs/shema-205" "Государственная поверочная схема для средств измерений относительных диэлектрической и магнитной проницаемостей и тангенса угла диэлектрических и магнитных потерь в диапазоне часто" n2 --> n3 n1 --> n2 n0 --> n1 classDef rst fill:#FFEBEB,stroke:#8B0000,color:#000; classDef doc fill:#EBFFEB,stroke:#006400,color:#000; classDef notEnt fill:#FFFFEB,stroke:#FF8C00,color:#000;
Утверждена Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 5 февраля 2026 г. № 205
ГОСУДАРСТВЕННАЯ ПОВЕРОЧНАЯ СХЕМА
ДЛЯ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЙ ОТНОСИТЕЛЬНЫХ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ И МАГНИТНОЙ ПРОНИЦАЕМОСТЕЙ И ТАНГЕНСА УГЛА ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ И МАГНИТНЫХ ПОТЕРЬ В ДИАПАЗОНЕ ЧАСТОТ ОТ 1 МГц ДО 40 ГГц
1 Область применения
Настоящая государственная поверочная схема для средств измерений относительных диэлектрической и магнитной проницаемостей и тангенса угла диэлектрических и магнитных потерь в диапазоне частот от 1 МГц до 40 ГГц распространяется на средства измерений относительной диэлектрической проницаемости в диапазоне значений от 1,2 до 4000, относительной магнитной проницаемости в диапазоне значений от 1,5 до 100, тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне значений от 5·10-5 до 8·10-1 и тангенса угла магнитных потерь в диапазоне значений от 1·10-3 до 1 в диапазоне частот от 1 МГц до 40 ГГц и устанавливает порядок передачи единиц относительных диэлектрической, магнитной проницаемостей и тангенса угла диэлектрических и магнитных потерь от Государственного первичного эталона единиц относительных диэлектрической, магнитной проницаемостей и тангенса угла диэлектрических и магнитных потерь (ГЭТ 174-2026) средствам измерений с помощью рабочих эталонов с указанием погрешностей, неопределенностей и методов передачи.
Графическая часть государственной поверочной схемы для средств измерений относительных диэлектрической и магнитной проницаемостей и тангенса угла диэлектрических и магнитных потерь в диапазоне частот от 1 МГц до 40 ГГц представлена в приложении А.
2 Государственный первичный эталон
2.1 Государственный первичный эталон единиц относительных диэлектрической и магнитной проницаемостей и тангенса угла диэлектрических и магнитных потерь в диапазоне частот от 1 МГц до 40 ГГц (далее — Государственный первичный эталон) предназначен для воспроизведения, хранения единиц диэлектрической, магнитной проницаемостей и тангенса угла диэлектрических и магнитных потерь в диапазоне частот от 1 МГц до 40 ГГц и передачи их рабочим эталонам и средствам измерений методом прямых измерений.
2.2 Государственный первичный эталон состоит из 9 (девяти) эталонных установок, каждая из которых в свою очередь состоит из соответствующего компаратора, набора эталонных мер (стандартных образцов) для воспроизведения единицы, контроля стабильности и передачи единиц, серийной аппаратуры генерации и измерения сигналов, а также системы сбора и обработки информации на базе персонального компьютера.
2.2.1 Эталонная установка ЭУ-1 предназначена для воспроизведения, хранения и передачи единиц относительной магнитной проницаемости в диапазоне значений от 1,5 до 100 и тангенса угла магнитных потерь в диапазоне значений от 1·10-3 до 1 изотропных материалов в диапазоне частот от 1 до 200 МГц посредством компаратора, выполненного по схеме двойного Т-образного моста.
2.2.2 Эталонная установка ЭУ-2 предназначена для воспроизведения, хранения и передачи единицы относительной диэлектрической проницаемости в диапазоне значений от 1,5 до 10 изотропных материалов в диапазоне частот от 1 до 200 МГц посредством компаратора — измерителя диэлектрической проницаемости резонансного типа.
2.2.3 Эталонная установка ЭУ-3 предназначена для воспроизведения, хранения и передачи единиц относительной диэлектрической проницаемости в диапазоне значений от 1 до 10, относительной магнитной проницаемости в диапазоне значений от 1 до 10, тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне от 1·10-4 до 1·10-1 и тангенса угла магнитных потерь в диапазоне от 1·10-4 до 1·10-1 изотропных материалов в диапазоне частот от 600 МГц до 4 ГГц посредством компаратора на основе коаксиального резонатора переменной длины.
2.2.4 Эталонная установка ЭУ-4 предназначена для воспроизведения, хранения и передачи единиц относительной диэлектрической проницаемости в диапазоне от 1,2 до 30 и тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне от 1·10-4 до 1·10-1 изотропных материалов в диапазоне частот от 200 МГц до 2 ГГц посредством компаратора на основе тороидального резонатора с частичным заполнением измерительной ячейки, в который введен дополнительный измерительный коаксиальный конденсатор.
2.2.5 Эталонная установка ЭУ-5 предназначена для воспроизведения, хранения и передачи единиц относительной диэлектрической проницаемости в диапазоне от 1,2 до 400,0 и тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне от 5·10-5 до 1·10-2 изотропных материалов в диапазоне частот от 1 до 18 ГГц посредством компаратора на основе электромагнитной системы, состоящей из волноводно-диэлектрического резонатора — радиального волновода и подвижных элементов возбуждения электромагнитных колебаний.
2.2.6 Эталонная установка ЭУ-6 предназначена для воспроизведения, хранения и передачи единиц относительной диэлектрической проницаемости в диапазоне от 1,2 до 400,0 и тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне от 5·10-5 до 1·10-2 изотропных материалов в диапазоне частот от 1 до 18 ГГц посредством компаратора на основе электромагнитной системы, состоящей из волноводно-диэлектрического резонатора — отрезка круглого волновода и подвижных элементов возбуждения осесимметричных электромагнитных колебаний.
2.2.7 Эталонная установка ЭУ-7 предназначена для воспроизведения, хранения и передачи единиц относительной диэлектрической проницаемости в диапазоне от 2 до 20 и тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне от 5·10-5 до 1·10-2 анизотропных материалов в диапазоне частот от 2 до 18 ГГц посредством компаратора на основе электромагнитной системы, состоящей из волноводно-диэлектрического резонатора — отрезка круглого волновода и подвижных элементов возбуждения осесимметричных электрических и магнитных волн различного типа.
2.2.8. Эталонная установка ЭУ-8 предназначена для воспроизведения, хранения и передачи единиц относительной диэлектрической проницаемости в диапазоне значений от 400 до 4000, тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне от 1·10-3 до 8·10-1 сегнетоэлектриков в диапазоне частот от 500 МГц до 4 ГГц посредством компаратора на основе коаксиального резонатора переменной длины.
2.2.9. Эталонная установка ЭУ-9 предназначена для воспроизведения, хранения и передачи единиц относительной диэлектрической проницаемости в диапазоне от 1,2 до 400,0 и тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне от 5·10-5 до 1·10-2 изотропных материалов в диапазоне частот от 18 до 40 ГГц посредством компаратора на основе электромагнитной системы, состоящей из волноводно-диэлектрического резонатора — отрезка круглого волновода и подвижных элементов возбуждения осесимметричных электромагнитных колебаний.
2.3 Государственный первичный эталон обеспечивает воспроизведение единиц относительных диэлектрической, магнитной проницаемостей и тангенса угла диэлектрических и магнитных потерь со следующими метрологическими характеристиками.
2.3.1 Относительной диэлектрической проницаемости изотропных материалов (установки ЭУ-1, ЭУ-2, ЭУ-3, ЭУ-4, ЭУ-5, ЭУ-6, ЭУ-9) с относительным средним квадратическим отклонением (СКО) результатов измерений SО от 2·10-4 до 4·10-3 при 10 независимых измерениях, и относительной неисключенной систематической погрешности (НСП) \Theta_{\text{О}} от 6·10-4 до 8·10-3 при доверительной вероятности 0,99.
2.3.2 Тангенса угла диэлектрических потерь изотропных материалов (установки ЭУ-1, ЭУ-2, ЭУ-3, ЭУ-4, ЭУ-5, ЭУ-6, ЭУ-9) с СКО результатов измерений SО от 1·10-2 до 5·10-2 при 10 независимых измерениях, и с доверительными границами НСП \Theta_{\text{О}} от 3·10-2 до 1·10-1 при доверительной вероятности 0,99.
2.3.3 Неопределенности воспроизведения относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь изотропных материалов в соответствии с таблицей 1.
Неопределенности воспроизведения относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь изотропных материалов
2.3.4 Относительной магнитной проницаемости изотропных материалов (установки ЭУ-1, ЭУ-3) с СКО результатов измерений SО от 2·10-4 до 2·10-3 при 10 независимых измерениях, и НСП \Theta_{\text{О}} от 6·10-4 до 6·10-3 при доверительной вероятности 0,99.
2.3.5 Тангенса угла магнитных потерь изотропных материалов (установки ЭУ-1, ЭУ-3) с СКО результатов измерений SО от 1·10-2 до 5·10-2 при 10 независимых измерениях, и НСП \Theta_{\text{О}} от 3·10-2 до 1·10-1 при доверительной вероятности 0,99.
2.3.6 Неопределенности воспроизведения относительной магнитной проницаемости и тангенса угла магнитных потерь изотропных материалов в соответствии с таблицей 2.
Неопределенности воспроизведения относительной магнитной проницаемости и тангенса угла магнитных потерь изотропных материалов
2.3.7 Относительной диэлектрической проницаемости анизотропных материалов (установка ЭУ-7) с СКО результатов измерений SО от 1·10-4 до 1·10-3 при 10 независимых измерениях, и НСП \Theta_{\text{О}} от 6·10-4 до 1·10-3 при доверительной вероятности 0,99.
2.3.8 Тангенса угла диэлектрических потерь анизотропных материалов (установка ЭУ-7) с СКО результатов измерений SО от 1·10-2 до 4·10-2 при 10 независимых измерениях, и НСП \Theta_{\text{О}} от 3·10-2 до 2·10-1 при доверительной вероятности 0,99.
2.3.9 Неопределенности воспроизведения относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь анизотропных материалов в соответствии с таблицей 3.
Неопределенности воспроизведения относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь анизотропных материалов
2.3.10 Относительной диэлектрической проницаемости сегнетоэлектриков (установка ЭУ-8) с СКО результатов измерений SО не более 1·10-2 при 10 независимых измерениях, и НСП \Theta_{\text{О}} не более 3·10-2 при доверительной вероятности 0,99.
2.3.11 Тангенса угла диэлектрических потерь сегнетоэлектриков (установка ЭУ-8) с СКО результатов измерений SО не более 1·10-1 при 10 независимых измерениях, и НСП \Theta_{\text{О}} не более 7,5·10-1 при доверительной вероятности 0,99.
2.3.12 Неопределенности воспроизведения относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь сегнетоэлектриков в соответствии с таблицей 4.
Неопределенности воспроизведения относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь сегнетоэлектриков
2.4 Для обеспечения воспроизведения единиц относительных диэлектрической и магнитной проницаемостей, тангенса угла диэлектрических и магнитных потерь с указанной точностью должны быть соблюдены правила хранения и применения Государственного первичного эталона, утвержденные в установленном порядке.
3 Рабочие эталоны
3.1 В качестве рабочих эталонов единиц относительных диэлектрической и магнитной проницаемостей используют:
3.1.1 Измерители комплексной диэлектрической проницаемости в диапазоне частот от 1 МГц до 40 ГГц с значениями относительной диэлектрической проницаемости от 1,2 до 4000 и тангенса угла диэлектрических потерь от 5·10-5 до 8·10-1; измерители комплексной магнитной проницаемости в диапазоне частот от 1 МГц до 4 ГГц с значениями относительной магнитной проницаемости от 1,5 до 100,0 и тангенса угла магнитных потерь от 1·10-3 до 1.
3.1.2 Меры комплексной диэлектрической проницаемости в диапазоне частот от 1 МГц до 40 ГГц с значениями диэлектрической проницаемости от 1,2 до 4000 и тангенса угла диэлектрических потерь от 5·10-5 до 8·10-1; меры комплексной магнитной проницаемости в диапазоне частот от 1 МГц до 4 ГГц с значениями относительной магнитной проницаемости от 1,5 до 100,0 и тангенса угла магнитных потерь от 1·10-3 до 1.
3.2 Предел допускаемых значений доверительных границ относительной погрешности \delta_{\text{О}} рабочих эталонов при доверительной вероятности 0,95 составляют:
\delta_{\text{О}\epsilon,\mu} от 0,3 до 3% для относительной диэлектрической и относительной магнитной проницаемостей;
\delta_{\text{О}tg\delta} от 10 до 15% для тангенса угла диэлектрических и магнитных потерь.
3.3 Рабочие эталоны комплексных диэлектрической и магнитной проницаемостей применяют для передачи единиц средствам измерений методом прямых измерений.
3.4 Соотношение предела допускаемых значений доверительных границ относительной погрешности рабочих эталонов и предела допускаемой относительной погрешности средств измерений должно быть не более 1:2.
4 Средства измерений
4.1 В качестве средств измерений используют измерители параметров диэлектрических и магнитных материалов, измерители параметров диэлектрических и магнитных пленок, резонаторы волноводно-диэлектрические, меры.
4.2 Предел допускаемой относительной погрешности \Delta_{\text{О}} средств измерений составляет:
для измерителей магнитных параметров изотропных материалов, мер в диапазоне частот от 0,2 до 2,0 МГц: от 3 до 10% для относительной магнитной проницаемости, от 10 до 40% для тангенса угла магнитных потерь;
для измерителей диэлектрических параметров изотропных материалов, мер в диапазоне частот от 1 до 200 МГц: от 3 до 5% для относительной диэлектрической проницаемости;
для измерителей бикомплексной проницаемости изотропных материалов, мер в диапазоне частот от 0,6 до 4,0 ГГц: от 3 до 10% для относительных диэлектрической и магнитной проницаемостей, от 20 до 40% для тангенса угла диэлектрических и магнитных потерь;
для измерителей диэлектрических параметров изотропных материалов, мер в диапазоне частот от 0,2 до 2,0 ГГц: от 3 до 10% для относительной диэлектрической проницаемости, от 20 до 40% для тангенса угла диэлектрических потерь;
для измерителей диэлектрических параметров изотропных материалов, мер в диапазоне частот от 1 до 40 ГГц: от 1 до 10% для относительной диэлектрической проницаемости, от 20 до 30% для тангенса угла диэлектрических потерь;
для измерителей диэлектрических параметров анизотропных материалов, мер в диапазоне частот от 2 до 18 ГГц: от 1 до 10% для относительной диэлектрической проницаемости, от 20 до 40% для тангенса угла диэлектрических потерь;
для измерителей диэлектрических параметров сегнетоэлектриков, мер в диапазоне частот от 0,5 до 4,0 ГГц: от 3 до 10% для относительной диэлектрической проницаемости, от 20 до 40% для тангенса угла диэлектрических потерь.
ГОСУДАРСТВЕННАЯ ПОВЕРОЧНАЯ СХЕМА ДЛЯ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЙ ОТНОСИТЕЛЬНЫХ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ И МАГНИТНОЙ ПРОНИЦАЕМОСТЕЙ И ТАНГЕНСА УГЛА ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ И МАГНИТНЫХ ПОТЕРЬ В ДИАПАЗОНЕ ЧАСТОТ ОТ 1 МГц ДО 40 ГГц
