---
title: "\"ОФС.1.2.1.1.0010.15. Общая фармакопейная статья. Рентгеновская флуоресцентная спектрометрия\""
number: "ОФС.1.2.1.1.0010.15"
issuer: "Министерство здравоохранения Российской Федерации"
status: утратил силу
canonical: "https://bukva.ai/docs/prikaz-ofs-1-2-1-1-0010-15"
---

## "ОФС.1.2.1.1.0010.15. Общая фармакопейная статья. Рентгеновская флуоресцентная спектрометрия"

# "ОФС.1.2.1.1.0010.15. Общая фармакопейная статья. Рентгеновская флуоресцентная спектрометрия"

(утв. и введена в действие Приказом Минздрава России от 31.10.2018 N 749)

("Государственная фармакопея Российской Федерации. XIV издание. Том I")

> [!WARNING]
> Документ утратил силу с 01.09.2023 в связи с введением в действие [ОФС.1.2.1.1.0010](https://bukva.ai/docs/prikaz-ofs-1-2-1-1-0010), утв. Приказом Минздрава России от 20.07.2023 N 377.
> В соответствии с Приказом Минздрава России от 31.10.2018 N 749 данный документ введен в действие с 01.12.2018.
> Текст документа приведен в соответствии с публикацией на сайте http://femb.ru/femb/pharmacopea.php по состоянию на 13.03.2019 и разделен в Информационном банке на отдельные фармакопейные статьи.

> [!NOTE]
> ИСТОРИЯ ИЗМЕНЕНИЙ НОРМАТИВНО-ТЕХНИЧЕСКИХ АКТОВ

```mermaid
flowchart LR
  n0["ОФС.1.2.1.1.0010.15"]:::rst
  click n0 "https://bukva.ai/docs/prikaz-ofs-1-2-1-1-0010-15" "ОФС.1.2.1.1.0010.15. Общая фармакопейная статья. Рентгеновская флуоресцентная спектрометрия (утв. и введена в действие Приказом Минздрава России от 31.10.2018 N 749)"
  n1["ОФС.1.2.1.1.0010"]:::doc
  click n1 "https://bukva.ai/docs/prikaz-ofs-1-2-1-1-0010" "ОФС.1.2.1.1.0010. Общая фармакопейная статья. Рентгеновская флуоресцентная спектрометрия (утв. и введена в действие Приказом Минздрава России от 20.07.2023 N 377)"
  n0 --> n1
classDef rst fill:#FFEBEB,stroke:#8B0000,color:#000;
classDef doc fill:#EBFFEB,stroke:#006400,color:#000;
classDef notEnt fill:#FFFFEB,stroke:#FF8C00,color:#000;
```


<a id="p100001"></a>**МИНИСТЕРСТВО ЗДРАВООХРАНЕНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ**

<a id="p100002"></a>**ОБЩАЯ ФАРМАКОПЕЙНАЯ СТАТЬЯ**


| <a id="p100003"></a>Рентгеновская флуоресцентная спектрометрия | <a id="p100004"></a><a id="p100005"></a>ОФС.1.2.1.1.0010.15<br>Вводится впервые |
| --- | --- |


<a id="p100006"></a>Рентгеновская флуоресцентная спектрометрия - метод анализа, используемый для определения концентраций элементов от бериллия (N 4) до урана (N 92) в диапазоне от долей ppm до 100% в веществах и материалах различного происхождения. Погрешность рентгенофлуоресцентного анализа варьируется в пределах 0,2 - 3%.


## <a id="p100007"></a>Метод


<a id="p100008"></a>Метод основан на зависимости интенсивности рентгеновской флуоресценции от концентрации элемента в образце. При облучении образца потоком рентгеновского излучения возникает характеристическое флуоресцентное излучение, которое пропорционально концентрации элемента в образце. Излучение разлагается в спектр при помощи кристалл-анализаторов, далее с помощью детекторов и счетной электроники измеряется его интенсивность. Математическая обработка спектра позволяет проводить количественный и качественный анализ.
<a id="p100009"></a>При облучении атомов образца фотонами с высокой энергией первичным рентгеновским излучением от рентгеновской трубки атомы переходят в возбужденное состояние, но спустя доли секунды возвращаются к стабильному (основному) состоянию.
<a id="p100010"></a>Такой переход электронов сопровождается испусканием энергии в виде вторичного фотона с возникновением флуоресценции. Энергия вторичного фотона находится в диапазоне энергий рентгеновского излучения, которое располагается в спектре электромагнитных колебаний между ультрафиолетом и гамма-излучением. Рентгенофлуоресцентный анализ охватывает следующие диапазоны энергий и длин волн:
<a id="p100011"></a>E = 0,11 - 60 кэВ, $\lambda = 11,30 - 0,02\text{нм}$ .
<a id="p100012"></a>Разница энергии между энергетическими уровнями и частота колебаний поглощенного кванта соотносятся между собой уравнением:

<a id="p100013"></a> $E = E_{1} - E_{2} = h\nu = hc\lambda$ ,

<a id="p100014"></a>где E1 и E2 - энергии орбиталей, между которыми произошел переход электрона, эВ;
<a id="p100015"></a>h - постоянная Планка (6,626·10-34 Дж·с);
<a id="p100016"></a>c - скорость света, с;
<a id="p100017"></a> $\lambda$ - длина волны, нм;
<a id="p100018"></a> $\nu$ - частота испускаемого (вторичного) фотона.
<a id="p100019"></a>Длина волны флуоресценции является индивидуальной характеристикой каждого элемента и называется характеристической флуоресценцией. В то же время интенсивность (число квантов, поступающих за единицу времени) пропорциональна концентрации (количеству атомов) соответствующего элемента. Это позволяет проводить количественный элементный анализ вещества.
<a id="p100020"></a>В качестве единицы измерения интенсивности используется величина, равная числу рентгеновских квантов, измеренных за секунду, имп/с (количество импульсов за секунду) или кимп/с (количество килоимпульсов за секунду).
<a id="p100021"></a>Существуют два метода регистрации рентгеновской флуоресценции: волнодисперсионная и энергодисперсионная.


## <a id="p100022"></a>Качественный анализ


<a id="p100023"></a>При прохождении рентгеновского излучения через образец происходит ослабление его интенсивности. Степень ослабления зависит как от энергии излучения, так и от химического состава поглощающего образца.
<a id="p100024"></a>Удельной характеристикой поглощения элемента является массовый коэффициент ослабления $(\mu_{M})$ , связанный с плотностью $\rho[\text{г}/\text{см}^{3}]$ поглощающего материала и линейным коэффициентом поглощения $\mu[1/\text{см}]$ :

<a id="p100025"></a> $\mu_{M} = \mu\rho$ 

<a id="p100026"></a>Коэффициент $\mu_{M}$ имеет размерность [см2/г]. Он зависит лишь от атомного номера поглощающего элемента и от энергии поглощаемых рентгеновских квантов. Рассчитывают $\mu_{M}$ по справочным значениям массовых коэффициентов ослабления элементов по известной формуле исследуемого образца.
<a id="p100027"></a>В случае неизвестного элементного состава измеряют интенсивность комптоновского рассеяния IU и рассчитывают величину $\mu_{M}$ по уравнению:

<a id="p100028"></a> $\frac{1}{\mu_{M}} = a + bI_{U}$ ,

<a id="p100029"></a>где a и b - угловые коэффициенты калибровочной кривой.


## <a id="p100030"></a>Количественный анализ


<a id="p100031"></a>Для определения концентрации элемента в образце измеряют скорость счета для нескольких стандартных образцов, содержащих известные количества данного элемента в матрицах определенного состава, и рассчитывают или измеряют массовый коэффициент ослабления матрицы анализируемого образца.
<a id="p100032"></a>Калибровка. С целью точной оценки состава образца необходимо установить зависимость между измеренной интенсивностью линии и концентрацией соответствующего элемента в образце.
<a id="p100033"></a>При анализе водных растворов и сложных по составу образцов для калибровки применяют метод разбавления (прямой способ внешнего стандарта) добавлением к изучаемому образцу больших количеств слабого поглотителя или малых количеств сильного поглотителя. На графике зависимости $I_{C}^{N} = f(C_{A})$ определяют наклон калибровочной кривой b0 по уравнению:

<a id="p100034"></a> $b_{0} \frac{1}{\mu_{M}} = \frac{I_{C}^{N}}{C}$ ,

<a id="p100035"></a>где $\mu_{M}$ - рассчитанный или измеренный массовый коэффициент ослабления матрицы M;
<a id="p100036"></a> $I_{C}^{N}$ - суммарная интенсивность;
<a id="p100037"></a>C - концентрация определяемого элемента в образце.
<a id="p100038"></a>Определение суммарной интенсивности элемента в образце. Интенсивность флуоресценции, например, $K_{\alpha} - \text{линии}$ элемента, $(N_{K\alpha})$ пропорциональна числу квантов, поглощенных K-уровнем, и выходу флуоресценции для K-серии.
<a id="p100039"></a>Рассчитывают суммарную интенсивность излучения $(I_{C}^{N})$ определяемого элемента по измеренным интенсивностям флуоресцентной и фоновой линий, в предположении наличия в образце посторонних примесей.
<a id="p100040"></a>Определение следовых количеств элемента. Для разбавленных растворов, если концентрация элемента находится в линейной части калибровочной кривой, методом рентгенофлуоресцентного анализа можно рассчитать концентрацию (C) по уравнению:

<a id="p100041"></a> $C = \frac{I_{C}^{N}}{b_{0} \frac{1}{\mu_{M}}} \cdot f,$ 

<a id="p100042"></a>где f - коэффициент разбавления.


## <a id="p100043"></a>Оборудование


<a id="p100044"></a>Приборы рентгенофлуоресцентного анализа состоят из рентгеновского источника, держателя пробы и спектрометра. Спектрометр измеряет длину волны $(\lambda)$ или энергию (E) и интенсивность флуоресцентного излучения, испускаемого пробой. В зависимости от параметра, непосредственно измеряемого спектрометром ( $\lambda$ или E), различают приборы с волновой и энергетической дисперсией, устройство которых принципиально различно.
<a id="p100045"></a>Рентгеновские источники, используемые для возбуждения атомов в пробе, как правило, не имеют принципиальных отличий в приборах с волновой и энергетической дисперсией. Наиболее широко используемым источником первичного рентгеновского излучения являются рентгеновские трубки.
<a id="p100046"></a>Волнодисперсионные спектрометры. Для разложения излучения в спектр (выделения различных длин волн) в волнодисперсионном методе используют разные кристаллы-анализаторы с кристаллическими плоскостями, параллельными поверхности и имеющими межплоскостное расстояние d. Для волнодисперсионных спектрометров существуют разные типы детекторов. Для относительно больших длин волн при анализе легких элементов используются газонаполненные пропорциональные детекторы (проточные и запаянные). Их действие основано на ионизации газа излучением и измерении числа электрических импульсов, прошедших через ионизированный газ. Для коротких длин волн (соответствуют тяжелым элементам) применяются сцинтилляционные детекторы, в которых измеряется ток фотоэлемента, чувствительного к светимости специального вещества - сцинтиллятора (NaI/Tl) при попадании на него рентгеновского излучения. Количество регистрируемых импульсов прямо пропорционально содержанию элемента в пробе. Многоэлементный анализ для фиксированного набора элементов на спектрометре с волновой дисперсией можно выполнить за несколько минут.
<a id="p100047"></a>Энергодисперсионные спектрометры. В энергодисперсионных спектрометрах диапазон энергий вторичного (характеристического) излучения от пробы регистрируется в один этап. Спектр представляет зависимость интенсивности пиков от энергий излучения элементов. Выделенное излучение поступает в детектор рентгеновского излучения для измерения его интенсивности. Детектирование флуоресцентного излучения основано на преобразовании энергии квантов флуоресцентного излучения в импульсы напряжения определенной амплитуды. Для детектирования флуоресцентного излучения используются полупроводниковые твердотельные детекторы, действие которых основано на ионизации внутри полупроводника. Полупроводниковый детектор изготавливается из Si или Ge.
<a id="p100048"></a>Энергодисперсионный метод обладает крайне высокой чувствительностью и экспрессностью, что позволяет определять в образцах элементы от натрия (Na) до урана (U), получать рентгенограммы в проходящих лучах, проводить двумерное и трехмерное картирование образцов по содержанию тех или иных элементов.


## <a id="p100049"></a>Пробоподготовка


<a id="p100050"></a>Для уменьшения ошибки анализа, связанной с пробоподготовкой, образцы должны быть гомогенизированы.
<a id="p100051"></a>Твердые образцы подготавливают следующим образом:
<a id="p100052"></a>а) тщательно растирают стандарт и образцы в ступке по отдельности;
<a id="p100053"></a>б) берут одинаковые навески.
<a id="p100054"></a>Для уменьшения эффектов поглощения и возбуждения, искривляющих калибровочные графики, анализируемую пробу разбавляют прозрачным для рентгеновских лучей веществом (полистирол, борная кислота, крахмал, алюминия гидроксид, вода и т.д.). Степень разбавления определяют экспериментально. Порошкообразную пробу с равномерно распределенным разбавителем и внутренним стандартом брикетируют или растворяют. Толщина брикета (таблетки) должна быть достаточно большой (около 1 - 2 мм), чтобы интенсивность излучения образца не зависела от величины навески.
<a id="p100055"></a>Если критическая толщина не достигнута, то интенсивность флуоресценции зависит от толщины образца, вследствие чего возникают ошибки измерения. Оценить критическую толщину образца можно по формуле:

<a id="p100056"></a> $d \approx 4,6\mu(\lambda\text{с})$ ,

<a id="p100057"></a>где d - критическая толщина образца (см), ниже которой интенсивность флуоресценции зависит от толщины;
<a id="p100058"></a> $\mu(\lambda\text{с})$ - коэффициент ослабления образца для флуоресцентного излучения с длиной волны $\lambda\text{с}$ , см-1.
<a id="p100059"></a>Приготовленные брикеты (таблетки) пригодны для многократных измерений. Испытуемое вещество может быть помещено в виде порошка непосредственно в кюветы прибора. Порошок образца может быть помещен в держатель из плексигласа и запрессован под полимерной пленкой или нанесен на клейкую пленку.
<a id="p100060"></a>Для уменьшения погрешности пробоподготовки следует прессовать образцы.



<a id="p100061"></a>

---
