---
title: "Приказ Росстандарта от 11.07.2012 N 495"
number: "495"
issuer: "Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии"
issued_on: 2012-07-11
status: действует
canonical: "https://bukva.ai/docs/prikaz-495-2012-rosstandart-federalnoe"
---

## Приказ Росстандарта от 11.07.2012 N 495

# Приказ Росстандарта от 11.07.2012 N 495

"О создании технического комитета по стандартизации "Зондовая и пучковая диагностика"


<a id="p100001"></a>**ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО**
**ПО ТЕХНИЧЕСКОМУ РЕГУЛИРОВАНИЮ И МЕТРОЛОГИИ**


## <a id="p100002"></a>ПРИКАЗ

от 11 июля 2012 г. N 495

<a id="p100003"></a>**О СОЗДАНИИ ТЕХНИЧЕСКОГО КОМИТЕТА ПО СТАНДАРТИЗАЦИИ**
**"ЗОНДОВАЯ И ПУЧКОВАЯ ДИАГНОСТИКА"**

<a id="p100004"></a>В целях реализации Федерального закона от 26 июня 2008 г. N 102-ФЗ "Об обеспечении единства измерений" и Федерального закона от 27 декабря 2002 г. N 184-ФЗ "О техническом регулировании", а также совершенствования организации работ по стандартизации, повышения эффективности работы технических комитетов по стандартизации на национальном уровне приказываю:
1. <a id="p100005"></a>Создать технический комитет по стандартизации (ТК) "Зондовая и пучковая диагностика".
2. <a id="p100006"></a>Возложить ведение секретариата ТК "Зондовая и пучковая диагностика" на Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума" (ОАО "НИЦПВ").
3. <a id="p100007"></a>Утвердить:
- <a id="p100008"></a>председателем ТК "Зондовая и пучковая диагностика" генерального директора ОАО "НИЦПВ", профессора Павла Андреевича Тодуа;
- <a id="p100009"></a>заместителем председателя ТК "Зондовая и пучковая диагностика" заместителя генерального директора по научной работе ОАО "НИЦПВ", профессора Валерия Петровича Гавриленко;
- <a id="p100010"></a>ответственным секретарем ТК "Зондовая и пучковая диагностика" научного сотрудника ОАО "НИЦПВ" Виктора Анатольевича Шаронова;
- <a id="p100011"></a>[структуру](#p100021) ТК "Зондовая и пучковая диагностика" согласно Приложению N 1;
- <a id="p100012"></a>[перечень](#p100030) организаций - членов ТК "Зондовая и пучковая диагностика" согласно Приложению N 2.
4. <a id="p100013"></a>Председателю ТК "Зондовая и пучковая диагностика" П.А. Тодуа в двухмесячный срок:
- <a id="p100014"></a>подготовить и представить на согласование в Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии Положение о ТК;
- <a id="p100015"></a>утвердить списочный состав ТК "Зондовая и пучковая диагностика".
5. <a id="p100016"></a>Поручить председателю ТК "Зондовая и пучковая диагностика" ежегодно до 1 февраля представлять в Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии отчет о деятельности ТК за прошедший год.
6. <a id="p100017"></a>Управлению метрологии (В.М. Лахов) обеспечить координацию и контроль за работами по стандартизации, проводимыми ТК.
7. <a id="p100018"></a>Контроль за исполнением настоящего Приказа оставляю за собой.

<a id="p100019"></a>Вр.и.о. Руководителя
Федерального агентства
**Е.Р.ПЕТРОСЯН**





<a id="p100020"></a>Приложение N 1
к Приказу Федерального
агентства по техническому
регулированию и метрологии
от 11 июля 2012 г. N 495

<a id="p100021"></a>**СТРУКТУРА ТЕХНИЧЕСКОГО КОМИТЕТА ПО СТАНДАРТИЗАЦИИ**
**ТК "ЗОНДОВАЯ И ПУЧКОВАЯ ДИАГНОСТИКА"**


| <a id="p100022"></a>Наименование ТК (ПК) | Организация, на базе которой создается ТК (ПК), реквизиты связи | Соответствующие ТК (ПК), КК МКМВ, ИСО, МЭК, МОЗМ | Область деятельности |
| --- | --- | --- | --- |
| <a id="p100023"></a>1 | 2 | 3 | 4 |
| <a id="p100024"></a>ТК<br>"Зондовая и пучковая диагностика" | Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума" (ОАО "НИЦПВ")<br>Адрес: 119421, г. Москва, ул. Новаторов, д. 40, корп. 1<br>Председатель ТК - директор ОАО "НИЦПВ", профессор Тодуа П.А.<br>Тел.: +7(495)935-97-77<br>e-mail: fgupnicpv@mail.ru<br>Заместитель председателя ТК - заместитель генерального директора по научной работе ОАО "НИЦПВ", профессор Гавриленко В.П.<br>Тел.: +7(495)935-97-77<br>e-mail: fgupnicpv@mail.ru<br>Ответственный секретарь ТК - научный сотрудник ОАО "НИЦПВ" Шаронов В.А.<br>Тел.: +7(495)935-97-77<br>e-mail: sharonovva@gmail.ru | ТК ИСО 201 "Химический анализ поверхности";<br>ТК ИСО 202 "Микропучковый анализ";<br>ТК ИСО 24 "Характеризация частиц, включая просеивание",<br>ПК-4 "Характеризация частиц" | Разработка документов по стандартизации в области метрологии: методик калибровки и поверки средств измерений; терминов и определений; методик измерений параметров поверхности и материалов на основе сканирующей зондовой микроскопии, масс-спектрометрии вторичных ионов, профилометрии, оптической спектрокопии, эллипсометрии и рефлектометрии, рентгеновской дифрактометрии и рефлектометрии, лазерной интерферометрии, электронной спектроскопии, растровой и просвечивающей электронной микроскопии, энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии, электронно-зондового микроанализа, на основе использования пучков ионов и нейтральных частиц, дифракции электронных пучков, а также методик характеризации поверхности, материалов и частиц на основе оптических методов, методов ультразвуковой спектроскопии, методов, основанных на использовании механических, ионных и электронных зондов, а также электроакустических и электрокинетических явлений.<br>Метрологическое и нормативное обеспечение и обслуживание реализации работ по ОКС 17.020, ОКС 17.040, ОКС 17.140, ОКС 17.180, ОКС 17.220, ОКС 17.240, ОКС 19.100 |
| <a id="p100025"></a>ПК 1<br>"Зондовая диагностика" | Национальный исследовательский университет "Московский физико-технический институт" (МФТИ)<br>Адрес: 141700, Московская обл., г. Долгопрудный, Институтский пер., дом 9<br>тел. +7(495)408-57-00<br>E-mail: sam@mail.mipt.ru<br>Председатель ПК 1 - Заместитель декана факультета физической и квантовой электроники МФТИ, к.ф.-м.н. Заблоцкий Алексей Васильевич<br>Тел.: +7(495)408-59-66<br>e-mail: zalexx@gmail.com | ТК ИСО 201 "Химический анализ поверхности" | Разработка документов по стандартизации в области метрологии: методик калибровки и поверки средств измерений; терминов и определений; методик измерений параметров поверхности и материалов на основе сканирующей зондовой микроскопии, масс-спектрометрии вторичных ионов, профилометрии, оптической спектроскопии, эллипсометрии и рефлектометрии, рентгеновской дифрактометрии и рефлектометрии, лазерной интерферометрии, электронной спектроскопии.<br>Метрологическое и нормативное обеспечение и обслуживание реализации работ по ОКС 17.020, ОКС 17.180, ОКС 17.220, ОКС 17.240, ОКС 19.100 |
| <a id="p100026"></a>ПК 2<br>"Пучковая диагностика" | Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума" (ОАО "НИЦПВ")<br>Адрес: 119421, г. Москва, ул. Новаторов, д. 40, корп. 1<br>Председатель ПК 2 - Заместитель генерального директора по научной работе ОАО "НИЦПВ", профессор Гавриленко Валерий Петрович<br>Тел.: +7(495)935-97-77<br>e-mail: fgupnicpv@mail.ru | ТК ИСО 202 "Микропучковый анализ" | Разработка документов по стандартизации в области метрологии: методик калибровки и поверки средств измерений; терминов и определений; методик измерений параметров поверхности и материалов на основе растровой и просвечивающей электронной микроскопии, энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии, электронно-зондового микроанализа, на основе использования пучков ионов и нейтральных частиц, дифракции электронных пучков.<br>Метрологическое и нормативное обеспечение и обслуживание реализации работ по ОКС 17.020, ОКС 17.040, ОКС 17.180, ОКС 17.220, ОКС 17.240, ОКС 19.100 |
| <a id="p100027"></a>ПК 3<br>"Измерения и характеризация поверхности, материалов и частиц" | ООО "Метрологический центр РОСНАНО" (ООО "МЦ РОСНАНО")<br>Адрес: 117036, Москва, 60-летия Октября пр-т, 10А<br>тел. +7(495)988-53-38<br>E-mail: info@rusnano-mc.com<br>Председатель ПК 3 - Генеральный директор ООО "МЦ РОСНАНО", член-корреспондент РАН Иванов Виктор Владимирович<br>тел. +7(495)988-53-38<br>E-mail: viktor.ivanov@rusnano.com | ТК ИСО 24 "Характеризация частиц, включая просеивание",<br>ПК-4 "Характеризация частиц" | Разработка документов по стандартизации в области метрологии: методик калибровки и поверки средств измерений; терминов и определений; методик измерений и характеризации поверхности, материалов и частиц на основе оптических методов, методов ультразвуковой спектроскопии, методов, основанных на использовании механических, ионных и электронных зондов, а также электроакустических и электрокинетических явлений.<br>Метрологическое и нормативное обеспечение и обслуживание реализации работ по ОКС 17.020, ОКС 17.040, ОКС 17.180, ОКС 17.220, ОКС 17.240, ОКС 19.100 |


<a id="p100028"></a>Начальник
Управления метрологии
**В.М.ЛАХОВ**





<div align="center">

<a id="p100029"></a>Приложение N 2<br>
к Приказу Федерального<br>
агентства по техническому<br>
регулированию и метрологии

</div>

от 11 июля 2012 г. N 495

<a id="p100030"></a>**ПЕРЕЧЕНЬ**
**ОРГАНИЗАЦИЙ - ЧЛЕНОВ ТК "ЗОНДОВАЯ И ПУЧКОВАЯ ДИАГНОСТИКА"**


| <a id="p100031"></a>Наименование предприятия (организации) | Адрес предприятия (организации) - члена ТК |
| --- | --- |
| <a id="p100032"></a>Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума | 119421, Москва, ул. Новаторов, дом 40, корп. 1<br>тел. +7(495)935-97-77, 935-97-66<br>факс +7(495)935-59-11, 935-96-90<br>E-mail: fgupnicpv@mail.ru nicpv@mail.ru |
| <a id="p100033"></a>РНЦ "Курчатовский институт" | 123182, Москва, площадь Курчатова, дом 1<br>тел. +7(499)196-97-69<br>факс +7(499)196-64-53<br>E-mail: kashkarov_pk@rrcki.ru |
| <a id="p100034"></a>Институт радиотехники и электроники РАН | 125009, Москва, ул. Моховая, дом 11, корп. 7<br>тел. +7(495)629-35-91<br>факс +7(495)629-36-78<br>E-mail: gulyaev@cplire.ru |
| <a id="p100035"></a>Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН | 119333, Москва, Ленинский пр., дом 59<br>тел. +7(499)135-41-60<br>факс +7(499)135-10-11<br>E-mail: secr@ns.crys.ras.ru |
| <a id="p100036"></a>Физико-технологический институт РАН | 117218, Москва, Нахимовский пр., д. 36, к. 1<br>тел. +7(499)129-50-04<br>факс +7(499)129-31-41<br>E-mail: orlikovsky@ftian.ru |
| <a id="p100037"></a>Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН | 194021, Санкт-Петербург, Политехническая ул., дом 26<br>тел. +7(812)297-91-56<br>факс +7(812)297-10-17<br>E-mail: konnikov@mail.ioffe.ru |
| <a id="p100038"></a>Институт Общей физики им. А.М. Прохорова РАН | 119991, Москва, ул. Вавилова, д. 38, к. "Л2"<br>тел. +7(499)135-76-28<br>факс +7(499)232-38-62<br>E-mail: viaik@gpi.ru |
| <a id="p100039"></a>Центр фотохимии РАН | 119421, Москва, ул. Новаторов, дом 7-а<br>тел. +7(495)936-77-53<br>факс +7(495)936-12-55<br>E-mail: alfimov@photonics.ru |
| <a id="p100040"></a>Научно-технологический центр уникального приборостроения РАН | 117342, Москва, ул. Бутлерова, дом 15<br>тел. +7(495)333-61-02<br>факс +7(495)334-75-00<br>E-mail: np@ckbup.dol.ru |
| <a id="p100041"></a>Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН | 630090, Новосибирск, проспект Академика Лаврентьева, дом 13<br>тел. +7(383)333-39-50<br>факс +7(383)333-27-71<br>E-mail: IFP@isp.nsc.ru |
| <a id="p100042"></a>Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН | 142432, Московская обл., Ногинский район, Черноголовка, ИПТМ РАН<br>тел. +7(495)962-80-74<br>факс +7(495)962-80-47<br>E-mail: general@ipmt-hpm.ac.ru |
| <a id="p100043"></a>Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов | 142190, Московская обл., Троицк, ул. Центральная, дом 7-а<br>тел. +7(495)334-05-63<br>факс +7(495)330-99-60<br>E-mail: ila@ntcstm.troitsk.ru |
| <a id="p100044"></a>Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности | 119017, Москва, Б. Толмачевский пер., дом 5-а, "ГИРЕДМЕТ"<br>тел. +7(495)981-30-11<br>факс +7(495)951-62-25<br>E-mail: pyn@giredmet.ru |
| <a id="p100045"></a>ЗАО "Нанотехнология МДТ" | 124482, Москва, Зеленоград, к. 317а, а/я 158<br>тел. +7(499)735-03-05, 913-57-36<br>факс +7(499)735-64-10, 913-57-39<br>E-mail: secretary@ntmdt.ru |
| <a id="p100046"></a>Центральный научно-исследовательский технологический институт "Техномаш" | 121108, Москва, ул. Ивана Франко, дом 4<br>тел. +7(499)144-75-15<br>факс +7(499)144-85-14<br>E-mail: cniti.technomash@mtu-net.ru |
| <a id="p100047"></a>Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы | 119361, Москва, ул. Озерная, дом 46<br>тел. +7(495)437-55-77<br>факс +7(495)437-56-66<br>E-mail: office@vniims.ru |
| <a id="p100048"></a>Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений | 119361, Москва, ул. Озерная, дом 46<br>тел. +7(495)437-56-33<br>факс +7(495)437-31-47<br>E-mail: vniiofi@vniiofi.ru |
| <a id="p100049"></a>Национальный исследовательский технологический университет "Московский институт стали и сплавов" | 119991, Москва, Ленинский пр., дом 4<br>тел. +7(495)955-00-32, 237-22-25<br>факс +7(495)236-21-05<br>E-mail: borovikova_n_a@mail.ru |
| <a id="p100050"></a>Национальный исследовательский университет "Московский физико-технический институт" | 141700, Московская обл., г. Долгопрудный, Институтский пер., дом 9<br>тел. +7(495)408-57-00<br>факс +7(495)408-68-69<br>E-mail: sam@mail.mipt.ru baturin@mail.mipt.ru |
| <a id="p100051"></a>ООО "Метрологический центр "РОСНАНО" | 117036, Москва, пр-т 60-летия Октября, 10А<br>тел. +7(495)988-53-38<br>факс +7(495)988-56-60<br>E-mail: info@rusnano-mc.com |


<a id="p100052"></a>Начальник
Управления метрологии
**В.М.ЛАХОВ**



<a id="p100053"></a>

---
