Приказ Росстандарта от 11.07.2012 № 495
Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии · № 495 от 11.07.2012Действующий акт
Актуально на 09.11.2026.
Как цитировать: Приказ Росстандарта от 11.07.2012 N 495. 495. 11.07.2012. https://bukva.ai/docs/prikaz-495-2012-rosstandart-federalnoe
«О создании технического комитета по стандартизации „Зондовая и пучковая диагностика“»
ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ТЕХНИЧЕСКОМУ РЕГУЛИРОВАНИЮ И МЕТРОЛОГИИ
ПРИКАЗ
от 11 июля 2012 г. № 495
О СОЗДАНИИ ТЕХНИЧЕСКОГО КОМИТЕТА ПО СТАНДАРТИЗАЦИИ «ЗОНДОВАЯ И ПУЧКОВАЯ ДИАГНОСТИКА»
В целях реализации Федерального закона от 26 июня 2008 г. № 102-ФЗ «Об обеспечении единства измерений» и Федерального закона от 27 декабря 2002 г. № 184-ФЗ «О техническом регулировании», а также совершенствования организации работ по стандартизации, повышения эффективности работы технических комитетов по стандартизации на национальном уровне приказываю:
1. Создать технический комитет по стандартизации (ТК) «Зондовая и пучковая диагностика».
2. Возложить ведение секретариата ТК «Зондовая и пучковая диагностика» на Открытое акционерное общество «Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума» (ОАО «НИЦПВ»).
- председателем ТК «Зондовая и пучковая диагностика» генерального директора ОАО «НИЦПВ», профессора Павла Андреевича Тодуа;
- заместителем председателя ТК «Зондовая и пучковая диагностика» заместителя генерального директора по научной работе ОАО «НИЦПВ», профессора Валерия Петровича Гавриленко;
- ответственным секретарем ТК «Зондовая и пучковая диагностика» научного сотрудника ОАО «НИЦПВ» Виктора Анатольевича Шаронова;
- структуру ТК «Зондовая и пучковая диагностика» согласно Приложению № 1;
- перечень организаций — членов ТК «Зондовая и пучковая диагностика» согласно Приложению № 2.
4. Председателю ТК «Зондовая и пучковая диагностика» П.А. Тодуа в двухмесячный срок:
- подготовить и представить на согласование в Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии Положение о ТК;
- утвердить списочный состав ТК «Зондовая и пучковая диагностика».
5. Поручить председателю ТК «Зондовая и пучковая диагностика» ежегодно до 1 февраля представлять в Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии отчет о деятельности ТК за прошедший год.
6. Управлению метрологии (В.М. Лахов) обеспечить координацию и контроль за работами по стандартизации, проводимыми ТК.
7. Контроль за исполнением настоящего Приказа оставляю за собой.
Вр.и.о. Руководителя Федерального агентства Е. Р. Петросян
Приложение № 1 к Приказу Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 11 июля 2012 г. № 495
СТРУКТУРА ТЕХНИЧЕСКОГО КОМИТЕТА ПО СТАНДАРТИЗАЦИИ ТК «ЗОНДОВАЯ И ПУЧКОВАЯ ДИАГНОСТИКА»
| Наименование ТК (ПК) | Организация, на базе которой создается ТК (ПК), реквизиты связи | Соответствующие ТК (ПК), КК МКМВ, ИСО, МЭК, МОЗМ | Область деятельности |
|---|---|---|---|
| 1 | 2 | 3 | 4 |
| ТК «Зондовая и пучковая диагностика» |
Открытое акционерное общество «Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума» (ОАО «НИЦПВ») Адрес: 119421, г. Москва, ул. Новаторов, д. 40, корп. 1 Председатель ТК — директор ОАО «НИЦПВ», профессор Тодуа П.А. Тел.: +7(495)935-97-77 e-mail: fgupnicpv@mail.ru Заместитель председателя ТК — заместитель генерального директора по научной работе ОАО «НИЦПВ», профессор Гавриленко В.П. Тел.: +7(495)935-97-77 e-mail: fgupnicpv@mail.ru Ответственный секретарь ТК — научный сотрудник ОАО «НИЦПВ» Шаронов В.А. Тел.: +7(495)935-97-77 e-mail: sharonovva@gmail.ru |
ТК ИСО 201 «Химический анализ поверхности»; ТК ИСО 202 «Микропучковый анализ»; ТК ИСО 24 «Характеризация частиц, включая просеивание», ПК-4 «Характеризация частиц» |
Разработка документов по стандартизации в области метрологии: методик калибровки и поверки средств измерений; терминов и определений; методик измерений параметров поверхности и материалов на основе сканирующей зондовой микроскопии, масс-спектрометрии вторичных ионов, профилометрии, оптической спектрокопии, эллипсометрии и рефлектометрии, рентгеновской дифрактометрии и рефлектометрии, лазерной интерферометрии, электронной спектроскопии, растровой и просвечивающей электронной микроскопии, энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии, электронно-зондового микроанализа, на основе использования пучков ионов и нейтральных частиц, дифракции электронных пучков, а также методик характеризации поверхности, материалов и частиц на основе оптических методов, методов ультразвуковой спектроскопии, методов, основанных на использовании механических, ионных и электронных зондов, а также электроакустических и электрокинетических явлений. Метрологическое и нормативное обеспечение и обслуживание реализации работ по ОКС 17.020, ОКС 17.040, ОКС 17.140, ОКС 17.180, ОКС 17.220, ОКС 17.240, ОКС 19.100 |
| ПК 1 «Зондовая диагностика» |
Национальный исследовательский университет «Московский физико-технический институт» (МФТИ) Адрес: 141700, Московская обл., г. Долгопрудный, Институтский пер., дом 9 тел. +7(495)408-57-00 E-mail: sam@mail.mipt.ru Председатель ПК 1 — Заместитель декана факультета физической и квантовой электроники МФТИ, к.ф.-м.н. Заблоцкий Алексей Васильевич Тел.: +7(495)408-59-66 e-mail: zalexx@gmail.com |
ТК ИСО 201 «Химический анализ поверхности» | Разработка документов по стандартизации в области метрологии: методик калибровки и поверки средств измерений; терминов и определений; методик измерений параметров поверхности и материалов на основе сканирующей зондовой микроскопии, масс-спектрометрии вторичных ионов, профилометрии, оптической спектроскопии, эллипсометрии и рефлектометрии, рентгеновской дифрактометрии и рефлектометрии, лазерной интерферометрии, электронной спектроскопии. Метрологическое и нормативное обеспечение и обслуживание реализации работ по ОКС 17.020, ОКС 17.180, ОКС 17.220, ОКС 17.240, ОКС 19.100 |
| ПК 2 «Пучковая диагностика» |
Открытое акционерное общество «Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума» (ОАО «НИЦПВ») Адрес: 119421, г. Москва, ул. Новаторов, д. 40, корп. 1 Председатель ПК 2 — Заместитель генерального директора по научной работе ОАО «НИЦПВ», профессор Гавриленко Валерий Петрович Тел.: +7(495)935-97-77 e-mail: fgupnicpv@mail.ru |
ТК ИСО 202 «Микропучковый анализ» | Разработка документов по стандартизации в области метрологии: методик калибровки и поверки средств измерений; терминов и определений; методик измерений параметров поверхности и материалов на основе растровой и просвечивающей электронной микроскопии, энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии, электронно-зондового микроанализа, на основе использования пучков ионов и нейтральных частиц, дифракции электронных пучков. Метрологическое и нормативное обеспечение и обслуживание реализации работ по ОКС 17.020, ОКС 17.040, ОКС 17.180, ОКС 17.220, ОКС 17.240, ОКС 19.100 |
| ПК 3 «Измерения и характеризация поверхности, материалов и частиц» |
ООО «Метрологический центр РОСНАНО» (ООО «МЦ РОСНАНО») Адрес: 117036, Москва, 60-летия Октября пр-т, 10А тел. +7(495)988-53-38 E-mail: info@rusnano-mc.com Председатель ПК 3 — Генеральный директор ООО «МЦ РОСНАНО», член-корреспондент РАН Иванов Виктор Владимирович тел. +7(495)988-53-38 E-mail: viktor.ivanov@rusnano.com |
ТК ИСО 24 «Характеризация частиц, включая просеивание», ПК-4 «Характеризация частиц» |
Разработка документов по стандартизации в области метрологии: методик калибровки и поверки средств измерений; терминов и определений; методик измерений и характеризации поверхности, материалов и частиц на основе оптических методов, методов ультразвуковой спектроскопии, методов, основанных на использовании механических, ионных и электронных зондов, а также электроакустических и электрокинетических явлений. Метрологическое и нормативное обеспечение и обслуживание реализации работ по ОКС 17.020, ОКС 17.040, ОКС 17.180, ОКС 17.220, ОКС 17.240, ОКС 19.100 |
Начальник Управления метрологии В. М. Лахов
от 11 июля 2012 г. № 495
ПЕРЕЧЕНЬ ОРГАНИЗАЦИЙ — ЧЛЕНОВ ТК «ЗОНДОВАЯ И ПУЧКОВАЯ ДИАГНОСТИКА»
| Наименование предприятия (организации) | Адрес предприятия (организации) — члена ТК |
|---|---|
| Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума | 119421, Москва, ул. Новаторов, дом 40, корп. 1 тел. +7(495)935-97-77, 935-97-66 факс +7(495)935-59-11, 935-96-90 E-mail: fgupnicpv@mail.ru nicpv@mail.ru |
| РНЦ «Курчатовский институт» | 123182, Москва, площадь Курчатова, дом 1 тел. +7(499)196-97-69 факс +7(499)196-64-53 E-mail: kashkarov_pk@rrcki.ru |
| Институт радиотехники и электроники РАН | 125009, Москва, ул. Моховая, дом 11, корп. 7 тел. +7(495)629-35-91 факс +7(495)629-36-78 E-mail: gulyaev@cplire.ru |
| Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН | 119333, Москва, Ленинский пр., дом 59 тел. +7(499)135-41-60 факс +7(499)135-10-11 E-mail: secr@ns.crys.ras.ru |
| Физико-технологический институт РАН | 117218, Москва, Нахимовский пр., д. 36, к. 1 тел. +7(499)129-50-04 факс +7(499)129-31-41 E-mail: orlikovsky@ftian.ru |
| Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН | 194021, Санкт-Петербург, Политехническая ул., дом 26 тел. +7(812)297-91-56 факс +7(812)297-10-17 E-mail: konnikov@mail.ioffe.ru |
| Институт Общей физики им. А.М. Прохорова РАН | 119991, Москва, ул. Вавилова, д. 38, к. «Л2» тел. +7(499)135-76-28 факс +7(499)232-38-62 E-mail: viaik@gpi.ru |
| Центр фотохимии РАН | 119421, Москва, ул. Новаторов, дом 7-а тел. +7(495)936-77-53 факс +7(495)936-12-55 E-mail: alfimov@photonics.ru |
| Научно-технологический центр уникального приборостроения РАН | 117342, Москва, ул. Бутлерова, дом 15 тел. +7(495)333-61-02 факс +7(495)334-75-00 E-mail: np@ckbup.dol.ru |
| Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН | 630090, Новосибирск, проспект Академика Лаврентьева, дом 13 тел. +7(383)333-39-50 факс +7(383)333-27-71 E-mail: IFP@isp.nsc.ru |
| Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН | 142432, Московская обл., Ногинский район, Черноголовка, ИПТМ РАН тел. +7(495)962-80-74 факс +7(495)962-80-47 E-mail: general@ipmt-hpm.ac.ru |
| Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов | 142190, Московская обл., Троицк, ул. Центральная, дом 7-а тел. +7(495)334-05-63 факс +7(495)330-99-60 E-mail: ila@ntcstm.troitsk.ru |
| Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности | 119017, Москва, Б. Толмачевский пер., дом 5-а, «ГИРЕДМЕТ» тел. +7(495)981-30-11 факс +7(495)951-62-25 E-mail: pyn@giredmet.ru |
| ЗАО «Нанотехнология МДТ» | 124482, Москва, Зеленоград, к. 317а, а/я 158 тел. +7(499)735-03-05, 913-57-36 факс +7(499)735-64-10, 913-57-39 E-mail: secretary@ntmdt.ru |
| Центральный научно-исследовательский технологический институт «Техномаш» | 121108, Москва, ул. Ивана Франко, дом 4 тел. +7(499)144-75-15 факс +7(499)144-85-14 E-mail: cniti.technomash@mtu-net.ru |
| Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы | 119361, Москва, ул. Озерная, дом 46 тел. +7(495)437-55-77 факс +7(495)437-56-66 E-mail: office@vniims.ru |
| Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений | 119361, Москва, ул. Озерная, дом 46 тел. +7(495)437-56-33 факс +7(495)437-31-47 E-mail: vniiofi@vniiofi.ru |
| Национальный исследовательский технологический университет «Московский институт стали и сплавов» | 119991, Москва, Ленинский пр., дом 4 тел. +7(495)955-00-32, 237-22-25 факс +7(495)236-21-05 E-mail: borovikova_n_a@mail.ru |
| Национальный исследовательский университет «Московский физико-технический институт» | 141700, Московская обл., г. Долгопрудный, Институтский пер., дом 9 тел. +7(495)408-57-00 факс +7(495)408-68-69 E-mail: sam@mail.mipt.ru baturin@mail.mipt.ru |
| ООО «Метрологический центр „РОСНАНО“» | 117036, Москва, пр-т 60-летия Октября, 10А тел. +7(495)988-53-38 факс +7(495)988-56-60 E-mail: info@rusnano-mc.com |
Начальник Управления метрологии В. М. Лахов