---
title: "Приказ Ростехрегулирования от 16.07.2008 N 2283"
number: "2283"
issuer: "Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии"
issued_on: 2008-07-16
status: действует
canonical: "https://bukva.ai/docs/prikaz-2283-2008"
---

## Приказ Ростехрегулирования от 16.07.2008 N 2283

# Приказ Ростехрегулирования от 16.07.2008 N 2283

"О размещении заказов на выполнение работ в рамках Федеральной целевой программы "Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008 - 2010 годы" (направление 3, мероприятие "Развитие методической составляющей инфраструктуры наноиндустрии")"


**ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО**
**ПО ТЕХНИЧЕСКОМУ РЕГУЛИРОВАНИЮ И МЕТРОЛОГИИ**

**ПРИКАЗ**
от 16 июля 2008 г. N 2283

**О РАЗМЕЩЕНИИ ЗАКАЗОВ НА ВЫПОЛНЕНИЕ РАБОТ В РАМКАХ**
**ФЕДЕРАЛЬНОЙ ЦЕЛЕВОЙ ПРОГРАММЫ "РАЗВИТИЕ ИНФРАСТРУКТУРЫ**
**НАНОИНДУСТРИИ В РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ НА 2008 - 2010 ГОДЫ"**
**(НАПРАВЛЕНИЕ 3, МЕРОПРИЯТИЕ "РАЗВИТИЕ МЕТОДИЧЕСКОЙ**
**СОСТАВЛЯЮЩЕЙ ИНФРАСТРУКТУРЫ НАНОИНДУСТРИИ")**

В соответствии с Федеральным законом от 21 июля 2005 г. N 94-ФЗ "О размещении заказов на поставку товаров, выполнение работ, оказание услуг для государственных и муниципальных нужд", а также в целях реализации решений, принятых на заседании коллегии Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 14 февраля 2008 г., приказываю:
1. Утвердить План-график работ, выполняемых в рамках Федеральной целевой программы "Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008 - 2010 годы" (далее - ФЦП) (направление 3, мероприятие "Развитие методической составляющей инфраструктуры наноиндустрии") (Приложение N 1), и Конкурсную документацию открытых конкурсов на выполнение работ, выполняемых в рамках ФЦП (приложение N 2 - не приводится).
2. Управлению метрологии (В.М. Лахову) обеспечить по каждому лоту Плана-графика:
разработку и утверждение у заместителя Руководителя Федерального агентства заданий на выполнение работ в соответствии с Конкурсной документацией и представление их в Управление экономики, бюджетного планирования и госсобственности (Т.Д. Канищевой);
выдачу участникам конкурса конкурсной документации с комплектом документов.
3. Управлению экономики, бюджетного планирования и госсобственности (Т.Д. Канищевой) обеспечить в установленный срок размещение на официальных сайтах Российской Федерации и Федерального агентства извещение о проведении открытого конкурса, а также информации о проведении и победителях конкурса.
4. Комиссии по размещению заказов (Е.Р. Петросяну) и Управлению метрологии (В.М. Лахову) осуществить работы по размещению заказа в соответствии с положениями Приказа Федерального агентства от 31 января 2006 г. N 254.
5. Контроль за исполнением настоящего Приказа возложить на заместителя Руководителя Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии В.Н. Крутикова.

Руководитель
Федерального агентства
**Г.И.ЭЛЬКИН**





Приложение N 1
к Приказу Федерального
агентства по техническому
регулированию и метрологии
от 16 июля 2008 г. N 2283

**ПЛАН-ГРАФИК**
**РАЗМЕЩЕНИЯ ЗАКАЗОВ ФЕДЕРАЛЬНОГО АГЕНТСТВА ПО ТЕХНИЧЕСКОМУ**
**РЕГУЛИРОВАНИЮ И МЕТРОЛОГИИ ДЛЯ ГОСУДАРСТВЕННЫХ НУЖД**

Государственный заказчик:
наименование: Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии
адрес: Ленинский проспект, д. 9, г. Москва, В-49, ГСП-1, 119991
**ИНН 7706406291**
**КПП 770601001**


<table>
<colgroup><col width="5%"><col width="8%"><col width="7%"><col width="8%"><col width="28%"><col width="7%"><col width="6%"><col width="11%"><col width="9%"><col width="8%"></colgroup>
<tr><td>N лота</td><td>Статус размещения заказа</td><td>Код способа размещения заказа</td><td>Код реструктурированной номенклатуры</td><td>Наименование предмета государственного контракта</td><td>Единица измерения</td><td>Количество</td><td>Ориентировочная начальная цена контракта, млн. руб.</td><td>Плановая дата публикации и размещения извещения о торгах</td><td>Плановый срок исполнения контракта</td></tr>
<tr><td colspan="10">Управление метрологии</td></tr>
<tr><td>1.</td><td>П</td><td>1</td><td></td><td>Создание метрологического комплекса и нормативнометодической базы для обеспечения единства измерений геометрических параметров наноматериалов и продукции наноиндустрии</td><td></td><td></td><td>150,0, в том числе в 2008 г. - 50,0</td><td>июльавгуст 2008 г.</td><td>декабрь 2010 г.</td></tr>
<tr><td>2.</td><td>П</td><td>1</td><td></td><td>Создание метрологического комплекса и нормативнометодической базы для измерений параметров рельефа и шероховатости поверхностей в нанометровом диапазоне</td><td></td><td></td><td>76,0, в том числе в 2008 г. - 26,0</td><td>июльавгуст 2008 г.</td><td>декабрь 2010 г.</td></tr>
<tr><td>3.</td><td>П</td><td>1</td><td></td><td>Создание метрологического комплекса и нормативнометодической базы для обеспечения единства измерений параметров многослойных наноструктур для фотоприемников и оптических фильтров</td><td></td><td></td><td>114,0, в том числе в 2008 г. - 14,0</td><td>июльавгуст 2008 г.</td><td>декабрь 2010 г.</td></tr>
<tr><td>4.</td><td>П</td><td>1</td><td></td><td>Создание метрологического комплекса и нормативнометодической базы для обеспечения единства измерений оптических характеристик излучателей на основе полупроводниковых многослойных наноразмерных гетероструктур (светодиодов)</td><td></td><td></td><td>35,0, в том числе в 2008 г. - 18,0</td><td>июльавгуст 2008 г.</td><td>декабрь 2009 г.</td></tr>
<tr><td>5.</td><td>П</td><td>1</td><td></td><td>Подготовка предложений по созданию стандартных образцов структуры монокристаллов и поликристаллических наноматериалов на основе государственных стандартных образцов дифракционных свойств</td><td></td><td></td><td>2,0</td><td>июльавгуст 2008 г.</td><td>декабрь 2008 г.</td></tr>
<tr><td>6.</td><td>П</td><td>1</td><td></td><td>Разработка стандартизованной методики измерений локальной электропроводности высокоомных наноструктурированных материалов методом сканирующей зондовой микроскопии</td><td></td><td></td><td>1,0</td><td>июльавгуст 2008 г.</td><td>декабрь 2008 г.</td></tr>
<tr><td>7.</td><td>П</td><td>1</td><td></td><td>Разработка проекта стандарта "Нанотехнологии. Термины и определения"</td><td></td><td></td><td>1,5</td><td>июльавгуст 2008 г.</td><td>декабрь 2008 г.</td></tr>
<tr><td>8.</td><td>П</td><td>1</td><td></td><td>Создание центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии</td><td></td><td></td><td>135,0, в том числе в 2008 г. - 35,0</td><td>июльавгуст 2008 г.</td><td>декабрь 2010 г.</td></tr>
</table>


Примечания:
1. Обозначения статуса лота: П - планируется, О - объявлен, И - исполняется (контракт заключен), З - завершен (контракт исполнен).
2. Обозначения кода способа размещения заказа: 1 - открытый конкурс, 2 - открытый аукцион, 3 - открытый аукцион в электронном виде, 4 - биржевые торги, 5 - запрос котировок, 6 - запрос котировок при ЧС, 7 - единственный поставщик (исполнитель).

Начальник
Управления экономики,
бюджетного планирования
и госсобственности
**Т.Д.КАНИЩЕВА**

Начальник
Управления метрологии
**В.М.ЛАХОВ**



---
