| "из 26.11.3 | Интегральная схема первого уровня <54> | 1. выполнение заявителем обязательных условий: 1.1. наличие у юридического лица - налогового резидента Российской Федерации, не находящегося под контролем иностранного государства, и (или) международной организации, и (или) иностранного юридического или физического лица, и (или) иностранной структуры без образования юридического лица <12(1)>, либо индивидуального предпринимателя - налогового резидента и гражданина Российской Федерации, не являющегося иностранным агентом в соответствии с Федеральным законом "О контроле за деятельностью лиц, находящихся под иностранным влиянием", в объеме, достаточном для проектирования, производства, модернизации и развития соответствующей интегральной схемы на территории Российской Федерации: 1.1.1. прав на конструкторскую, эксплуатационную и технологическую документацию, полученных в результате собственной разработки и (или) на основании договора с юридическим лицом - налоговым резидентом Российской Федерации, не находящимся под контролем иностранного государства, и (или) международной организации, и (или) иностранного юридического или физического лица, и (или) иностранной структуры без образования юридического лица <12(1)>, либо индивидуальным предпринимателем - налоговым резидентом и гражданином Российской Федерации, не являющимся иностранным агентом в соответствии с Федеральным законом "О контроле за деятельностью лиц, находящихся под иностранным влиянием", имеющую в своем составе <41>: структурную схему электрическую кристалла с обозначением элементов схемы собственной разработки, сложнофункциональных блоков сторонней разработки; топологический план (чертеж) кристалла без слоев с обозначением элементов собственной разработки, сложнофункциональных блоков сторонней разработки; технические условия на интегральную схему; |
| 1.1.2. документации на используемые сложнофункциональные блоки (где применимо), являющиеся предметом собственной разработки, и сложнофункциональные блоки, владельцем которых является юридическое лицо - налоговый резидент Российской Федерации, не находящийся под контролем иностранного государства, и (или) международной организации, и (или) иностранного юридического или физического лица, и (или) иностранной структуры без образования юридического лица <12(1)>, либо индивидуальный предприниматель - налоговый резидент и гражданин Российской Федерации, не являющийся иностранным агентом в соответствии с Федеральным законом "О контроле за деятельностью лиц, находящихся под иностранным влиянием"; 1.1.3. исключительного права на товарный знак, служащий для индивидуализации продукции, или права использования (на условиях исключительной или неисключительной лицензии) товарного знака, правообладателем которого является юридическое лицо - налоговый резидент Российской Федерации, не находящийся под контролем иностранного государства, и (или) международной организации, и (или) иностранного юридического или физического лица, и (или) иностранной структуры без образования юридического лица <12(1)>, либо индивидуальный предприниматель - налоговый резидент и гражданин Российской Федерации, не являющийся иностранным агентом в соответствии с Федеральным законом "О контроле за деятельностью лиц, находящихся под иностранным влиянием" (при наличии товарного знака); 1.1.4. конструкторской документации или технических условий на подложку, и (или) корпус, и (или) рамку интегральной схемы <41>, <55>; 1.1.5. прав на топологию интегральной микросхемы, зарегистрированную на территории Российской Федерации в установленном порядке в федеральном органе исполнительной власти по интеллектуальной собственности, для всех полупроводниковых кристаллов, входящих в состав интегральной схемы; | ||
| 1.1.6. прав на использование, модификацию, модернизацию и изменение полного перечня программного (встроенного микропрограммного, системного и специализированного прикладного) обеспечения, загружаемого на этапе изготовления, поставляемого в составе интегральной схемы и необходимого для полноценного функционирования продукции (если применимо в данном типе интегральной схемы), и имеющегося у заявителя комплекта программной документации в следующем составе: комплект текстов программ (исходных кодов) и двоичных файлов-микрокодов; руководство по компиляции и сборке полного перечня устанавливаемого, загружаемого программного (встроенного микропрограммного, системного и специализированного (при наличии) обеспечения, необходимого для полноценного функционирования продукции; данные о записи по каждому программному продукту в едином реестре российских программ для электронных вычислительных машин и баз данных либо едином реестре программ для электронных вычислительных машин и баз данных из государств - членов Евразийского экономического союза, за исключением Российской Федерации, и (или) сведения о государственной регистрации программы для электронных вычислительных машин или базы данных. Требование не распространяется на программные продукты, которые не могут быть переданы как дистрибутив для включения в указанные реестры; 1.1.7. научно-производственной базы (собственной или контрактной), расположенной на территории Российской Федерации и необходимой для разработки, модернизации (модификации, совершенствования), производства и тестирования продукции и используемого в ней программного обеспечения, в том числе технических специалистов необходимой квалификации, задействованных в разработке, модернизации (модификации, совершенствовании) и тестировании такой продукции; 1.1.8. сервисного центра или службы, обеспечивающих на территории Российской Федерации задачи по технической поддержке и рекламационной работе; 1.1.9. отладочных плат для программируемых интегральных схем <55> | ||
| 2. выполнение на территории Российской Федерации технологических операций: 2.1. разработка структуры, логической и электрической принципиальной схемы интегральной схемы, топологии интегральной схемы (обязательное требование, 12 баллов); 2.2. разработка верификационных и валидационных тестов логической и электрической принципиальной схемы интегральной схемы (обязательное требование, 2 балла); 2.3. проведение верификации интегральной схемы (обязательное требование, 2 балла); 2.4. разработка всех комплектующих конструкции интегральной схемы, предусмотренных конструкторской документацией (корпус, и (или) рамка, и (или) подложка) (обязательное требование, 4 балла); 2.5. разработка (в том числе создание программного кода) программного (встроенного микропрограммного, системного и специализированного прикладного) обеспечения, поставляемого в составе продукции и необходимого для полноценного функционирования интегральной схемы (8 баллов) <55>; 2.6. изготовление пластин с кристаллами по полному циклу (за исключением фотошаблонов) и выполнение операционного контроля, включая измерения параметрического монитора (обязательное требование, 52 балла); 2.7. обработка полупроводниковой пластины (утонение до толщины, указанной в конструкторской документации на интегральную схему, и (или) резка, и (или) разделение полупроводниковых пластин на кристаллы в зависимости от типа исполнения) (обязательное требование, 6 баллов); | ||
| 2.8. сборка и (или) монтаж, формирование электрических соединений кристалла согласно конструкции интегральной схемы (сборка в корпус или на рамку или монтаж на подложку с герметизацией в зависимости от типа исполнения) (6 баллов) <55>; 2.9. измерение, тестирование, валидация и испытание интегральной схемы с целью подтверждения характеристик, заявленных в технических условиях (обязательное требование, 8 баллов); | ||
| количество баллов (Yt), начисляемых за выполнение технологических операций на территории Российской Федерации, рассчитывается путем суммирования количества баллов по формуле: | ||
| $Y_{t} = 100\text{×} \frac{(\sum {}_{i = 1}^{n}B_{t_{i}})}{(\sum {}_{i = 1}^{n}C_{t_{i}})} ,$ | ||
| где: n - количество требований, указанных в подпунктах 2.1 - 2.9, применимых к интегральной схеме (предусмотренных в ее конструкторской и (или) технологической документации), независимо от того, выполняются они на территории Российской Федерации или за ее пределами; $B_{t_{i}}$ - заданное значение в баллах за выполнение i-го требования из применимых к интегральной схеме требований, указанных в подпунктах 2.1 - 2.9; $C_{t_{i}}$ - заданное значение в баллах за каждое применимое требование из указанных в подпунктах 2.1 - 2.9 независимо от того, выполняются они на территории Российской Федерации или за ее пределами | ||
| 3. использование при производстве интегральной схемы компонентов, произведенных на территории Российской Федерации: 3.1. фоторезистов (19 баллов); 3.2. монокристаллов или эпитаксиальных структур (19 баллов); 3.3. фотошаблонов (19 баллов); 3.4. компонентов корпуса в зависимости от типа исполнения: корпус, и (или) рамка, и (или) подложка (35 баллов) < 55>; 3.5. компонентов для герметизации (клей, или компаунд, или андерфил, или крышка) (5 баллов) <55>; 3.6. компонентов для электрического соединения (проволока или металлические шариковые выводы для монтажа кристалла) (3 балла) <55>; | ||
| количество баллов (Ym), начисляемых за использование компонентов, произведенных на территории Российской Федерации, рассчитывается путем суммирования количества баллов по формуле: | ||
| $Y_{m} = 100\text{×} \frac{(\sum {}_{i = 1}^{n}B_{m_{i}})}{(\sum {}_{i = 1}^{n}C_{m_{i}})} ,$ | ||
| где: n - количество требований, указанных в подпунктах 3.1 - 3.6, применимых к интегральной схеме (предусмотренных в ее конструкторской и (или) технологической документации), независимо от того, выполняются они на территории Российской Федерации или за ее пределами; $B_{m_{i}}$ - заданное значение в баллах за выполнение i-го требования из применимых к интегральной схеме требований, указанных в подпунктах 3.1 - 3.6; $C_{m_{i}}$ - заданное значение в баллах за каждое применимое требование из указанных в подпунктах 3.1 - 3.6 независимо от того, выполняются они на территории Российской Федерации или за ее пределами | ||
| 4. использование в процессе разработки интегральной схемы сложнофункциональных блоков российской разработки, включая собственную разработку, и сложнофункциональных блоков, владельцем которых является юридическое лицо - налоговый резидент Российской Федерации, не находящийся под контролем иностранного государства, и (или) международной организации, и (или) иностранного юридического или физического лица, и (или) иностранной структуры без образования юридического лица <12(1)>, либо индивидуальный предприниматель - налоговый резидент и гражданин Российской Федерации, не являющийся иностранным агентом в соответствии с Федеральным законом "О контроле за деятельностью лиц, находящихся под иностранным влиянием", а также использование российского программного обеспечения (далее - сложнофункциональные блоки и программное обеспечение российской разработки): 4.1. использование сложнофункциональных блоков и (или) иных элементов конструирования и (или) разработки топологии российской разработки (67 баллов) <55>; | ||
| количество баллов ( $B_{e1}$ ), начисляемых за использование сложнофункциональных блоков и (или) иных элементов конструирования и (или) разработки топологии российской разработки, рассчитывается по формуле: | ||
| $B_{e1} = 67\text{×} \frac{\sum {}_{i = 1}^{K}N_{i_{pp}}}{S} ,$ | ||
| где: К - общее количество сложнофункциональных блоков и (или) иных элементов конструирования и (или) разработки топологии российской разработки; $N_{i_{pp}}$ - площадь i-го сложнофункционального блока и (или) иного элемента конструирования и (или) разработки топологии российской разработки, занимаемая ими в слое активных элементов топологии интегральной схемы; S - площадь кристалла; | ||
| 4.2. использование в процессе разработки интегральной схемы средств автоматизированного проектирования, включенных в единый реестр российских программ для электронных вычислительных машин и баз данных либо в единый реестр программ для электронных вычислительных машин и баз данных из государств - членов Евразийского экономического союза, за исключением Российской Федерации (14 баллов); 4.3. наличие комплекта средств разработки и отладки программного обеспечения для интегральных схем со встроенным программным обеспечением, сведения о котором включены в единый реестр российских программ для электронных вычислительных машин и баз данных либо единый реестр программ для электронных вычислительных машин и баз данных из государств - членов Евразийского экономического союза, за исключением Российской Федерации (5 баллов) <55>; 4.4. использование библиотек стандартных элементов, являющихся предметом собственной разработки, и стандартных элементов, владельцем которых является юридическое лицо - налоговый резидент Российской Федерации, не находящийся под контролем иностранного государства, и (или) международной организации, и (или) иностранного юридического или физического лица, и (или) иностранной структуры без образования юридического лица <12(1)>, либо индивидуальный предприниматель - налоговый резидент и гражданин Российской Федерации, не являющийся иностранным агентом в соответствии с Федеральным законом "О контроле за деятельностью лиц, находящихся под иностранным влиянием" (14 баллов) <55>; | ||
| количество баллов (Ye), начисляемых за использование сложнофункциональных блоков и программного обеспечения российской разработки, рассчитывается путем суммирования количества баллов по формуле: | ||
| $Y_{e} = 100\text{×} \frac{(\sum {}_{i = 1}^{n}B_{e_{i}})}{(\sum {}_{i = 1}^{n}C_{e_{i}})} ,$ | ||
| где: n - количество требований, указанных в подпунктах 4.1 - 4.4, применимых к интегральной схеме (предусмотренных в ее конструкторской и (или) технологической документации), независимо от того, выполняются они на территории Российской Федерации или за ее пределами; $B_{e_{i}}$ - заданное значение в баллах за выполнение i-го требования из применимых к интегральной схеме требований, указанных в подпунктах 4.1 - 4.4; $C_{e_{i}}$ - заданное значение в баллах за каждое применимое требование из указанных в подпунктах 4.1 - 4.4 независимо от того, выполняются они на территории Российской Федерации или за ее пределами; | ||
| итоговое количество баллов рассчитывается по формуле: | ||
| $H = K_{t}\text{×}Y_{t}\text{×}K_{m}\text{×}Y_{m} + K_{e}\text{×}Y_{e},$ | ||
| где: Kt - весовой коэффициент за выполнение на территории Российской Федерации технологических операций (0,68); Km - весовой коэффициент за использование комплектующих, произведенных на территории Российской Федерации (0,14); Ke - весовой коэффициент за использование сложнофункциональных блоков и программного обеспечения российской разработки (0,18) | ||
| из 26.11.3 | Интегральная схема второго уровня <54> | 1. выполнение заявителем обязательных условий: 1.1. наличие у юридического лица - налогового резидента Российской Федерации, не находящегося под контролем иностранного государства, и (или) международной организации, и (или) иностранного юридического или физического лица, и (или) иностранной структуры без образования юридического лица <12(1)>, либо индивидуального предпринимателя - налогового резидента и гражданина Российской Федерации, не являющегося иностранным агентом в соответствии с Федеральным законом "О контроле за деятельностью лиц, находящихся под иностранным влиянием", в объеме, достаточном для проектирования, производства, модернизации и развития соответствующей интегральной схемы на территории Российской Федерации: 1.1.1. прав на конструкторскую и эксплуатационную документацию, на технологическую документацию в отношении технологических операций, производимых на территории Российской Федерации, полученных в результате собственной разработки и (или) на основании договора с юридическим лицом - налоговым резидентом Российской Федерации, не находящимся под контролем иностранного государства, и (или) международной организации, и (или) иностранного юридического или физического лица, и (или) иностранной структуры без образования юридического лица <12(1)>, либо индивидуальным предпринимателем - налоговым резидентом и гражданином Российской Федерации, не являющимся иностранным агентом в соответствии с Федеральным законом "О контроле за деятельностью лиц, находящихся под иностранным влиянием", имеющую в своем составе <41>: структурную схему электрическую кристалла с обозначением элементов схемы собственной разработки, сложнофункциональных блоков сторонней разработки; топологический план (чертеж) кристалла без слоев с обозначением элементов собственной разработки, сложнофункциональных блоков сторонней разработки; технические условия на интегральную схему; |
| 1.1.2. документации на используемые сложнофункциональные блоки (где применимо), являющиеся предметом собственной разработки, и сложнофункциональные блоки, владельцем которых является юридическое лицо - налоговый резидент Российской Федерации, не находящийся под контролем иностранного государства, и (или) международной организации, и (или) иностранного юридического или физического лица, и (или) иностранной структуры без образования юридического лица <12(1)>, либо индивидуальный предприниматель - налоговый резидент и гражданин Российской Федерации, не являющийся иностранным агентом в соответствии с Федеральным законом "О контроле за деятельностью лиц, находящихся под иностранным влиянием"; 1.1.3. исключительного права на товарный знак, служащий для индивидуализации продукции, или права использования (на условиях исключительной или неисключительной лицензии) товарного знака, правообладателем которого является юридическое лицо - налоговый резидент Российской Федерации, не находящийся под контролем иностранного государства, и (или) международной организации, и (или) иностранного юридического или физического лица, и (или) иностранной структуры без образования юридического лица <12(1)>, либо индивидуальный предприниматель - налоговый резидент и гражданин Российской Федерации, не являющийся иностранным агентом в соответствии с Федеральным законом "О контроле за деятельностью лиц, находящихся под иностранным влиянием" (при наличии товарного знака); 1.1.4. конструкторской документации или технических условий на подложку, и (или) корпус, и (или) рамку интегральной схемы <41>, <55>; | ||
| 1.1.5. прав на топологию интегральной микросхемы, зарегистрированную на территории Российской Федерации в установленном порядке в федеральном органе исполнительной власти по интеллектуальной собственности, для всех полупроводниковых кристаллов, входящих в состав интегральной схемы; 1.1.6. прав на использование, модификацию, модернизацию и изменение полного перечня программного (встроенного микропрограммного, системного и специализированного прикладного) обеспечения, загружаемого на этапе изготовления, поставляемого в составе интегральной схемы и необходимого для полноценного функционирования продукции (если применимо в данном типе интегральной схемы), и имеющегося у заявителя комплекта программной документации в следующем составе: комплект текстов программ (исходных кодов) и двоичных файлов-микрокодов; руководство по компиляции и сборке полного перечня устанавливаемого, загружаемого программного (встроенного микропрограммного, системного и специализированного (при наличии) обеспечения, необходимого для полноценного функционирования продукции; данные о записи по каждому программному продукту в едином реестре российских программ для электронных вычислительных машин и баз данных либо в едином реестре программ для электронных вычислительных машин и баз данных из государств - членов Евразийского экономического союза, за исключением Российской Федерации, и (или) сведения о государственной регистрации программы электронных вычислительных машин или базы данных. Требование не распространяется на программные продукты, которые не могут быть переданы как дистрибутив для включения в указанные реестры; | ||
| 1.1.7. научной базы (собственной или контрактной), расположенной на территории Российской Федерации и необходимой для разработки и модернизации (модификации, совершенствования) продукции и используемого в ней программного обеспечения, в том числе технических специалистов необходимой квалификации, задействованных в разработке и модернизации (модификации, совершенствовании) такой продукции; 1.1.8. сервисного центра или службы, обеспечивающих на территории Российской Федерации задачи по технической поддержке и рекламационной работе; 1.1.9. отладочных плат для программируемых интегральных схем <55> | ||
| 2. выполнение на территории Российской Федерации технологических операций: 2.1. разработка структуры, логической и электрической принципиальной схемы интегральной схемы, топологии интегральной схемы (обязательное требование, 12 баллов); 2.2. разработка верификационных и валидационных тестов логической и электрической принципиальной схемы интегральной схемы (обязательное требование, 2 балла); 2.3. проведение верификации интегральной схемы (обязательное требование, 2 балла); 2.4. разработка всех комплектующих конструкции интегральной схемы, предусмотренных конструкторской документацией (корпус, и (или) рамка, и (или) подложка) (обязательное требование, 4 балла); 2.5. разработка (в том числе создание программного кода) программного (встроенного микропрограммного, системного и специализированного прикладного) обеспечения, поставляемого в составе продукции и необходимого для полноценного функционирования интегральной схемы (если применимо) (8 баллов) <55>; 2.6. обработка полупроводниковой пластины (утонение до толщины, указанной в конструкторской документации на интегральную схему, и (или) резка, и (или) разделение полупроводниковых пластин на кристаллы в зависимости от типа исполнения) (6 баллов); 2.7. сборка и (или) монтаж, формирование электрических соединений кристалла согласно конструкции интегральной схемы (сборка в корпус или на рамку или монтаж на подложку с герметизацией в зависимости от типа исполнения) (6 баллов) <55>; 2.8. измерение, тестирование, валидация и испытание интегральной схемы с целью подтверждения характеристик, заявленных в технических условиях (обязательное требование, 8 баллов); | ||
| количество баллов (Yt), начисляемых за выполнение технологических операций на территории Российской Федерации, рассчитывается путем суммирования количества баллов по формуле: | ||
| $Y_{t} = 48\text{×} \frac{(\sum {}_{i = 1}^{n}B_{t_{i}})}{(\sum {}_{i = 1}^{n}C_{t_{i}})} ,$ | ||
| где: n - количество требований, указанных в подпунктах 2.1 - 2.8, применимых к интегральной схеме (предусмотренных в ее конструкторской и (или) технологической документации), независимо от того, выполняются они на территории Российской Федерации или за ее пределами; $B_{t_{i}}$ - заданное значение в баллах за выполнение i-го требования из применимых к интегральной схеме требований, указанных в подпунктах 2.1 - 2.8; $C_{t_{i}}$ - заданное значение в баллах за каждое применимое требование из указанных в подпунктах 2.1 - 2.8 независимо от того, выполняются они на территории Российской Федерации или за ее пределами | ||
| 3. использование при производстве интегральной схемы компонентов, произведенных на территории Российской Федерации: 3.1. компонентов корпуса в зависимости от типа исполнения: корпус, и (или) рамка, и (или) подложка (35 баллов) <55>; 3.2. компонентов для герметизации (клей, или компаунд, или андерфил, или крышка) (5 баллов) <55>; 3.3. компонентов для электрического соединения (проволока или металлические шариковые выводы для монтажа кристалла) (3 балла) <55>; | ||
| количество баллов (Ym), начисляемых за использование компонентов, произведенных на территории Российской Федерации, рассчитывается путем суммирования количества баллов по формуле: | ||
| $Y_{m} = 43\text{×} \frac{(\sum {}_{i = 1}^{n}B_{m_{i}})}{(\sum {}_{i = 1}^{n}C_{m_{i}})} ,$ | ||
| где: n - количество требований, указанных в подпунктах 3.1 - 3.3, применимых к интегральной схеме (предусмотренных в ее конструкторской и (или) технологической документации), независимо от того, выполняются они на территории Российской Федерации или за ее пределами; $B_{m_{i}}$ - заданное значение в баллах за выполнение i-го требования из применимых к интегральной схеме требований, указанных в подпунктах 3.1 - 3.3; $C_{m_{i}}$ - заданное значение в баллах за каждое применимое требование из указанных в подпунктах 3.1 - 3.3 независимо от того, выполняются они на территории Российской Федерации или за ее пределами | ||
| 4. использование в процессе разработки интегральной схемы сложнофункциональных блоков и программного обеспечения российской разработки: 4.1. использование сложнофункциональных блоков и (или) иных элементов конструирования и (или) разработки топологии российской разработки (67 баллов) <55>; | ||
| количество баллов ( $B_{e_{l}}$ ), начисляемых за использование сложнофункциональных блоков и (или) иных элементов конструирования и (или) разработки топологии российской разработки, рассчитывается по формуле: | ||
| $B_{e_{l}} = 67\text{×} \frac{\sum {}_{i = 1}^{K}N_{i_{pp}}}{S} ,$ | ||
| где: К - общее количество сложнофункциональных блоков и (или) иных элементов конструирования и (или) разработки топологии российской разработки; $N_{i_{pp}}$ - площадь i-го сложнофункционального блока и (или) иного элемента конструирования и (или) разработки топологии российской разработки, занимаемая ими в слое активных элементов топологии интегральной схемы; S - площадь кристалла; | ||
| 4.2. использование в процессе разработки интегральной схемы средств автоматизированного проектирования, включенных в единый реестр российских программ для электронных вычислительных машин и баз данных либо единый реестр программ для электронных вычислительных машин и баз данных из государств - членов Евразийского экономического союза, за исключением Российской Федерации (14 баллов); | ||
| 4.3. наличие комплекта средств разработки и отладки программного обеспечения для интегральных схем со встроенным программным обеспечением, сведения о котором включены в единый реестр российских программ для электронных вычислительных машин и баз данных либо единый реестр программ для электронных вычислительных машин и баз данных из государств - членов Евразийского экономического союза, за исключением Российской Федерации (5 баллов) <55>; | ||
| количество баллов ( $Y_{e}$ ), начисляемых за использование сложнофункциональных блоков и программного обеспечения российской разработки, рассчитывается путем суммирования количества баллов по формуле: | ||
| $Y_{e} = 86\text{×} \frac{(\sum {}_{i = 1}^{n}B_{e_{i}})}{(\sum {}_{i = 1}^{n}C_{e_{i}})} ,$ | ||
| где: n - количество требований, указанных в подпунктах 4.1 - 4.3, применимых к интегральной схеме (предусмотренных в ее конструкторской и (или) технологической документации), независимо от того, выполняются они на территории Российской Федерации или за ее пределами; $B_{e_{i}}$ - заданное значение в баллах за выполнение i-го требования из применимых к интегральной схеме требований, указанных в подпунктах 4.1 - 4.3; $C_{e_{i}}$ - заданное значение в баллах за каждое применимое требование из указанных в подпунктах 4.1 - 4.3 независимо от того, выполняются они на территории Российской Федерации или за ее пределами; | ||
| итоговое количество баллов рассчитывается по формуле: | ||
| $Y = K_{t}\text{×}Y_{t} + K_{m}\text{×}Y_{m} + K_{e}\text{×}Y_{e},$ | ||
| где: Kt - весовой коэффициент за выполнение на территории Российской Федерации технологических операций (0,68); Km - весовой коэффициент за использование комплектующих, произведенных на территории Российской Федерации (0,14); Ke - весовой коэффициент за использование сложнофункциональных блоков и программного обеспечения российской разработки (0,18)". |