---
title: "\"Изменение N 1 МИ 782-85 \"Методические указания. Государственная система обеспечения единства измерений. Микрометры с ценой деления 0,01 мм. Методика поверки\""
number: "МИ 782-85"
issuer: "Государственный комитет СССР по стандартам"
status: действует
canonical: "https://bukva.ai/docs/mi-782-85-gosstandart-sssr"
---

## "Изменение N 1 МИ 782-85 "Методические указания. Государственная система обеспечения единства измерений. Микрометры с ценой деления 0,01 мм. Методика поверки"

# "Изменение N 1 МИ 782-85 "Методические указания. Государственная система обеспечения единства измерений. Микрометры с ценой деления 0,01 мм. Методика поверки"

(утв. НПО "ВНИИМ им. Д.И. Менделеева" 12.02.1986)

> [!IMPORTANT]
> Документ [введен](#p100003) в действие с 1985 года.


<div align="right">

<a id="p100001"></a>Утверждаю<br>
Зам. Генерального директора<br>
НПО "ВНИИМ им. Д.И. Менделеева"<br>
**Н.В.СТУДЕНЦОВ**<br>
12 февраля 1986 года

</div>


<a id="p100002"></a>**ИЗМЕНЕНИЕ N 1 МИ 782-85**
**"МЕТОДИЧЕСКИЕ УКАЗАНИЯ.**
**ГОСУДАРСТВЕННАЯ СИСТЕМА ОБЕСПЕЧЕНИЯ ЕДИНСТВА ИЗМЕРЕНИЙ.**
МИКРОМЕТРЫ С ЦЕНОЙ ДЕЛЕНИЯ 0,01 мм.

<div align="center">

**МЕТОДИКА ПОВЕРКИ"**

</div>


<div align="right">

<a id="p100003"></a>Дата введения

</div>

с 1985 года

<a id="p100004"></a>Разработано ВНИИизмерения Министерства станкостроительной и инструментальной промышленности.
<a id="p100005"></a>Руководитель темы: М.Б. Шабалина.
<a id="p100006"></a>Подготовлено к утверждению "ВНИИМ им. Д.И. Менделеева".
<a id="p100007"></a>Начальник сектора М.Н. Селиванов.
<a id="p100008"></a>Исполнители И.Г. Соур, И.А. Евреинов.
<a id="p100009"></a>Утверждено НПО "ВНИИМ им. Д.И. Менделеева" 12.02.1986 г.

<a id="p100010"></a>[Пункт 1.1 таблица 1](https://bukva.ai/docs/mi-782-85#p100021):
<a id="p100011"></a>пункт 4.3.9.2 - исключить;
<a id="p100012"></a>дополнить пунктом 4.3.9а:


<table>
<colgroup><col width="25%"><col width="14%"><col width="20%"><col width="14%"><col width="11%"><col width="14%"></colgroup>
<tr><td rowspan="2"><a id="p100013"></a>Наименование операции</td><td rowspan="2"><a id="p100014"></a>Номер пункта методических указаний</td><td rowspan="2"><a id="p100015"></a>Средства поверки и их нормативно-технические характеристики</td><td colspan="3"><a id="p100016"></a>Обязательность проведения операций при</td></tr>
<tr><td><a id="p100017"></a>выпуске из производства</td><td><a id="p100018"></a>выпуске из ремонта</td><td><a id="p100019"></a>эксплуатации и хранении</td></tr>
<tr><td><a id="p100020"></a>Определение отклонения от параллельности измерительных поверхностей и погрешности микрометров типа МЗ</td><td><a id="p100021"></a>4.3.9а</td><td><a id="p100022"></a>Меры с цилиндрическими измерительными поверхностями (см. справочное Приложение 5)</td><td><a id="p100023"></a>Да</td><td><a id="p100024"></a>Да</td><td><a id="p100025"></a>Да</td></tr>
</table>


<a id="p100026"></a>[пункт 4.3.7. Графа "Наименование операции"](https://bukva.ai/docs/mi-782-85#p100075) - исключить обозначение "МЗ".
<a id="p100027"></a>[Пункт 4.3.8. 1-ый абзац](https://bukva.ai/docs/mi-782-85#p100187). Последнее предложение изложить в редакции: "Получив наименьшую сумму полос на обеих измерительных поверхностях при перемещении пластины при незакрепленном стопоре, зажимают стопор и добиваются при перемещении пластины также наименьшей суммы полос". [Второй абзац](https://bukva.ai/docs/mi-782-85#p100188) изложить в редакции: "Сумма полос не должна превышать допуска параллельности, установленного ГОСТ 6507-78, более чем на три полосы".
<a id="p100028"></a>[Пункт 4.3.9.2](https://bukva.ai/docs/mi-782-85#p100228) исключить.

<div align="right">

<a id="p100029"></a>Методические указания дополнить пунктом 4.3.9а:

</div>

<a id="p100030"></a>"4.3.9а. Отклонение от параллельности плоских измерительных поверхностей и погрешность микрометров типа МЗ определяют по мерам с цилиндрическими измерительными поверхностями (см. справочное Приложение 5). Значения диаметров мер указаны в табл. 3.

<div align="center">

<a id="p100031"></a>Таблица 3

<a id="p100032"></a>мм

</div>


| <a id="p100033"></a>Диапазон измерений микрометра | <a id="p100034"></a>Диаметры мер |
| --- | --- |
| <a id="p100035"></a>0 - 25 | <a id="p100036"></a>10,00; 15,25; 20,50; 24,75 |
| <a id="p100037"></a>25 - 50 | <a id="p100038"></a>30,00; 35,25; 45,50; 49,75 |
| <a id="p100039"></a>50 - 75 | <a id="p100040"></a>55,00; 60,25; 70,50; 74,75 |
| <a id="p100041"></a>75 - 100 | <a id="p100042"></a>80,00; 85,25; 95,50; 99,75 |


<div align="center">

<a id="p100043"></a>Каждую меру устанавливают на расстоянии 2 - 3 мм от края измерительной поверхности пятки в 4-х положениях, как показано на черт. 8.<br>
<a id="p100044"></a>Для микрометров со срезанной пяткой меры устанавливают на расстоянии 2 - 3 мм от края измерительной поверхности пятки в двух положениях, как показано на черт. 9.

<a id="p100045"></a> ![рис. 1](https://i.bukva.ai/GDch0Six/img_0.png) 

<a id="p100046"></a>Черт. 8

</div>




<a id="p100047"></a> ![рис. 2](https://i.bukva.ai/GDch0Six/img_1.png) 

<a id="p100048"></a>Черт. 9

<a id="p100049"></a>Отклонение от параллельности плоских измерительных поверхностей микрометра для каждого размера меры определяют как наибольшую разность показаний микрометра при различных (черт. 8 и 9) положениях меры одного размера.
<a id="p100050"></a>Погрешность микрометра определяют как наибольшую разность между показаниями микрометра, полученными при каждом отсчете, и действительными размерами мер, указанными в свидетельстве о метрологической аттестации.
<a id="p100051"></a>Отклонение от параллельности плоских измерительных поверхностей и погрешность микрометров типа МЗ не должна превышать значений, установленных в ГОСТ 6507-78".

<a id="p100052"></a>    Зам. директора ВНИИизмерения
    по научной работе                                А.В.ВЫСОЦКИЙ
<a id="p100053"></a>    Зав. отделом N 33                                И.А.МЕДОВОЙ
<a id="p100054"></a>    Руководитель темы                                М.Б.ШАБАЛИНА



<a id="p100055"></a>

---