ГОСТ Р 53696-2009. Национальный стандарт Российской Федерации. Контроль неразрушающий. Методы оптические. Термины и определения
(утв. и введен в действие Приказом Ростехрегулирования от 15.12.2009 № 1100-ст)
Примечание
Введен в действие с 1 января 2011 года.
НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Non-destructive testing. Optical methods. Terms and definitions
1 января 2011 года
Предисловие
Цели и принципы стандартизации в Российской Федерации установлены Федеральным законом от 27 декабря 2002 г. № 184-ФЗ «О техническом регулировании», а правила применения национальных стандартов Российской Федерации - ГОСТ Р 1.0-2004 «Стандартизация в Российской Федерации. Основные положения».
Сведения о стандарте
1. Разработан Федеральным государственным унитарным предприятием «Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений» (ФГУП «ВНИИОФИ»).
2. Внесен Управлением по метрологии Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии.
3. Утвержден и введен в действие Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 15 декабря 2009 г. № 1100-ст.
Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодно издаваемом информационном указателе «Национальные стандарты», а текст изменений и поправок — в ежемесячно издаваемых информационных указателях «Национальные стандарты». В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ежемесячно издаваемом информационном указателе «Национальные стандарты». Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользования — на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет.
Введение
Установленные в стандарте термины, отражающие понятия в области оптического неразрушающего контроля, расположены в систематизированном порядке, отражающем систему понятий данной области знания.
Для каждого понятия установлен один стандартизованный термин. Некоторые термины сопровождены краткими формами, которые следует применять в случаях, исключающих возможность их различного толкования.
Установленные определения можно при необходимости изменять по форме изложения, не допуская нарушения границ понятий.
В случаях, когда необходимые и достаточные признаки понятия содержатся в буквальном значении термина, определение не приведено, вместо него поставлен прочерк.
Стандартизованные термины набраны полужирным шрифтом, их краткая форма — светлым.
В стандарт включены алфавитный указатель содержащихся в нем стандартизованных терминов на русском языке, справочное Приложение А, в котором приведены термины общих физических понятий и технические термины, применяемые при оптическом неразрушающем контроле, и справочное Приложение Б, в котором приведены термины приборов, применяемых при оптическом неразрушающем контроле.
1. Область применения
Настоящий стандарт устанавливает применяемые в науке, технике и производстве термины и определения основных понятий в области оптического неразрушающего контроля качества материалов, полуфабрикатов и изделий (далее — объекты контроля).
Термины, установленные стандартом, предназначены для применения в документации всех видов, научно-технической, учебной и справочной литературе.
2. Термины и определения
2.1 Основные понятия
2.1.1. Оптический неразрушающий контроль; оптический контроль: неразрушающий контроль, основанный на анализе взаимодействия оптического излучения с объектом контроля.
2.1.2. Контраст дефекта: отношение разности энергетических яркостей дефекта и окружающего его фона к одной из них либо их сумме.
2.1.3. Видимость дефекта: отношение фактического контраста дефекта к его пороговому значению в заданных условиях.
2.2 Методы оптического неразрушающего контроля
2.2.1. Метод прошедшего оптического излучения; метод прошедшего излучения: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров оптического излучения, прошедшего сквозь объект.
2.2.2. Метод отраженного оптического излучения: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров оптического излучения, отраженного от объекта контроля.
2.2.3. Метод рассеянного оптического излучения; метод рассеянного излучения: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров оптического излучения, рассеянного от объекта контроля.
2.2.4. Метод собственного оптического излучения; метод собственного излучения: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров собственного излучения объекта контроля.
2.2.5. Метод индуцированного оптического излучения; метод индуцированного излучения: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров оптического излучения, генерируемого объектом контроля при постороннем воздействии.
2.2.6. Спектральный метод оптического излучения; спектральный метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе спектра оптического излучения после его взаимодействия с объектом контроля.
2.2.7. Когерентный метод оптического излучения; когерентный метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на измерении степени когерентности оптического излучения после его взаимодействия с объектом контроля.
2.2.8. Амплитудный метод оптического излучения; амплитудный метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации интенсивности оптического излучения после его взаимодействия с объектом контроля.
2.2.9. Временной метод оптического излучения; временной метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации времени прохождения оптического излучения через объект контроля.
2.2.10. Геометрический метод оптического излучения; геометрический метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации направления оптического излучения после его взаимодействия с объектом контроля.
2.2.11. Поляризационный метод оптического излучения; поляризационный метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации степени поляризации оптического излучения после его взаимодействия с объектом контроля.
2.2.12. Фазовый метод оптического излучения; фазовый метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации фазы оптического излучения после его взаимодействия с объектом контроля.
2.2.13. Интерференционный метод оптического излучения; интерференционный метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе интерференционной картины, получаемой при взаимодействии когерентных волн, опорной и модулированной объектом контроля.
2.2.14. Дифракционный метод оптического излучения; дифракционный метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе дифракционной картины, получаемой при взаимодействии когерентного оптического излучения с объектом контроля.
2.2.15. Рефракционный метод оптического излучения; рефракционный метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров преломления оптического излучения объектом контроля.
2.2.16. Абсорбционный метод оптического излучения; абсорбционный метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров поглощения оптического излучения объектом контроля.
2.2.17. Визуально-оптический метод оптического излучения; визуально-оптический метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на наблюдении объекта контроля или его изображения с помощью оптических или оптико-электронных приборов.
2.2.18. Фотохимический метод оптического излучения; фотохимический метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров фотохимических процессов, возникающих при взаимодействии оптического излучения с объектом контроля.
2.2.19. Оптико-акустический метод оптического излучения; оптико-акустический метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров оптико-акустического эффекта, возникающего при взаимодействии оптического излучения с объектом контроля.
2.2.20. Фотолюминесцентный метод оптического излучения; фотолюминесцентный метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров люминесценции, возникающей при взаимодействии оптического излучения с объектом контроля.
2.2.21. Электрооптический метод оптического излучения; электрооптический метод: поляризационный метод оптического неразрушающего контроля, основанный на дополнительном воздействии на объект контроля внешнего электрического поля.
2.2.22. Магнитооптический метод оптического излучения; магнитооптический метод: поляризационный метод оптического неразрушающего контроля, основанный на дополнительном воздействии на объект контроля магнитного поля.
2.2.23. Метод согласованной фильтрации оптического излучения; метод согласованной фильтрации: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе изображения объекта контроля с помощью оптического согласованного фильтра.
2.2.24. Метод разностного оптического изображения; метод разностного изображения: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации различий в изображениях объекта контроля и контрольного образца.
2.2.25. Метод фотоэлектрического оптического излучения; метод фотоэлектрического излучения: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров фотоэлектрического эффекта, возникающего при облучении объекта контроля оптическим излучением.
2.2.26. Метод спекл-интерферометрии оптического излучения; метод спекл-интерферометрии: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на использовании пространственной корреляции интенсивности диффузно-когерентного оптического излучения для получения интерференционных топограмм объекта контроля.
2.2.27. Метод спекл-структур оптического излучения; метод спекл-структур: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе спекл-структур, образующихся при отражении когерентного оптического излучения от шероховатости поверхности объекта контроля.
2.2.28. Метод муаровых полос: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе топограмм объекта контроля, получаемых с помощью оптически сопряженных растров.
2.2.29. Фотоимпульсный метод контроля геометрических размеров изделия; фотоимпульсный метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на измерении длительности импульсов оптического излучения, пропорциональных геометрическим размерам объекта контроля и получаемых с помощью сканирования его изображения.
2.2.30. Фотокомпенсационный метод контроля геометрических размеров изделия; фотокомпенсационный метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на измерении изменений интенсивности оптического излучения, вызванных отклонением геометрических размеров объекта контроля от контрольного образца.
2.2.31. Фотоследящий метод контроля геометрических размеров изделия; фотоследящий метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации перемещений фотоследящего устройства, пропорциональных изменению геометрических размеров объекта контроля.
2.2.32 Голографический метод оптического неразрушающего контроля; голографический метод: -
2.3 Средства оптического неразрушающего контроля
2.3.1. Прибор неразрушающего контроля оптический: система, состоящая из осветительных, оптических и регистрирующих устройств, а также средств калибровки и настройки, предназначенная для оптического неразрушающего контроля.
Примечание. При наличии у прибора оптического неразрушающего контроля нормируемых метрологических характеристик он может использоваться в качестве измерительного прибора.
2.3.2. Источник излучения прибора оптического неразрушающего контроля; источник излучения: часть прибора оптического неразрушающего контроля, предназначенная для облучения или освещения объекта контроля.
2.3.3. Оптическая система: часть прибора оптического неразрушающего контроля, предназначенная для формирования пучков оптического излучения, несущих информацию об объекте контроля.
2.3.4. Приемное устройство: часть прибора оптического неразрушающего контроля, предназначенная для регистрации первичного информативного параметра оптического излучения после его взаимодействия с объектом контроля.
Примечание. В зависимости от вида регистрации различают фотоэлектрическое, фотографическое и другие приемные устройства.
2.3.5. Оптический дефектоскоп: прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный для обнаружения несплошностей и неоднородностей материалов и изделий.
2.3.6. Лазерный эллипсометр: прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный для измерения толщины и (или) показателя преломления прозрачных пленок поляризационным методом.
2.3.7. Оптический структуроскоп: прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный для анализа структуры и (или) физико-химических свойств материалов и изделий.
2.3.8. Оптический толщиномер: прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный для измерения толщины объектов контроля и (или) глубины залегания дефектов.
2.4 Освещение объекта контроля
2.4.1. Световое сечение: освещение объекта контроля плоским пучком света для получения изображения его рельефа.
2.4.2. Темное поле: освещение объекта контроля, при котором яркость его дефектов больше яркости поверхности, на которой они расположены.
2.4.3. Светлое поле: освещение объекта контроля, при котором яркость его дефектов меньше яркости поверхности, на которой они расположены.
2.4.4. Стробоскопическое облучение: облучение объекта контроля модулизированным оптическим излучением, частота и фаза которого синхронизированы с движением объекта контроля.
2.4.5. Когерентное облучение: облучение объекта контроля когерентным излучением.
2.4.6 Монохроматическое облучение: -
2.4.7. Полихроматическое облучение: облучение объекта контроля полихроматическим оптическим излучением.
2.4.8. Сканирующее облучение: облучение объекта контроля оптическим излучением с применением сканирования.
2.4.9. Телецентрическое облучение: облучение объекта контроля параллельным пучком оптического излучения.
2.4.10. Стигматическое облучение: облучение объекта контроля точечным источником оптического излучения.
Алфавитный указатель терминов
| Видимость дефекта | 2.1.3 |
|---|---|
| Дефектоскоп оптический | 2.3.5 |
| Источник излучения | 2.3.2 |
| Источник излучения прибора оптического неразрушающего контроля | 2.3.2 |
| Контраст дефекта | 2.1.2 |
| Контроль неразрушающий оптический | 2.1.1 |
| Контроль оптический | 2.1.1 |
| Метод абсорбционный | 2.2.16 |
| Метод амплитудный | 2.2.8 |
| Метод визуально-оптический | 2.2.17 |
| Метод временной | 2.2.9 |
| Метод геометрический | 2.2.10 |
| Метод голографический | 2.2.32 |
| Метод дифракционный | 2.2.14 |
| Метод индуцированного излучения | 2.2.5 |
| Метод индуцированного оптического излучения | 2.2.5 |
| Метод интерференционный | 2.2.13 |
| Метод когерентный | 2.2.7 |
| Метод контроля геометрических размеров изделия фотоимпульсный | 2.2.29 |
| Метод контроля геометрических размеров изделия фотокомпенсационный | 2.2.30 |
| Метод контроля геометрических размеров изделия фотоследящий | 2.2.31 |
| Метод магнитооптический | 2.2.22 |
| Метод муаровых полос | 2.2.28 |
| Метод оптико-акустический | 2.2.19 |
| Метод оптического излучения абсорбционный | 2.2.16 |
| Метод оптического излучения амплитудный | 2.2.8 |
| Метод оптического излучения визуально-оптический | 2.2.17 |
| Метод оптического излучения временной | 2.2.9 |
| Метод оптического излучения геометрический | 2.2.10 |
| Метод оптического излучения дифракционный | 2.2.14 |
| Метод оптического излучения интерференционный | 2.2.13 |
| Метод оптического излучения когерентный | 2.2.7 |
| Метод оптического излучения магнитооптический | 2.2.22 |
| Метод оптического излучения оптико-акустический | 2.2.19 |
| Метод оптического излучения поляризационный | 2.2.11 |
| Метод оптического излучения рефракционный | 2.2.15 |
| Метод оптического излучения спектральный | 2.2.6 |
| Метод оптического излучения фазовый | 2.2.12 |
| Метод оптического излучения фотолюминесцентный | 2.2.20 |
| Метод оптического излучения фотохимический | 2.2.18 |
| Метод оптического излучения электрооптический | 2.2.21 |
| Метод оптического неразрушающего контроля голографический | 2.2.32 |
| Метод отраженного оптического излучения | 2.2.2 |
| Метод поляризационный | 2.2.11 |
| Метод прошедшего излучения | 2.2.1 |
| Метод прошедшего оптического излучения | 2.2.1 |
| Метод разностного изображения | 2.2.24 |
| Метод разностного оптического изображения | 2.2.24 |
| Метод рассеянного излучения | 2.2.3 |
| Метод рассеянного оптического излучения | 2.2.3 |
| Метод рефракционный | 2.2.15 |
| Метод собственного излучения | 2.2.4 |
| Метод собственного оптического излучения | 2.2.4 |
| Метод согласованной фильтрации | 2.2.23 |
| Метод согласованной фильтрации оптического излучения | 2.2.23 |
| Метод спекл-интерферометрии | 2.2.26 |
| Метод спекл-интерферометрии оптического излучения | 2.2.26 |
| Метод спекл-структур | 2.2.27 |
| Метод спекл-структур оптического излучения | 2.2.27 |
| Метод спектральный | 2.2.6 |
| Метод фазовый | 2.2.12 |
| Метод фотоимпульсный | 2.2.29 |
| Метод фотокомпенсационный | 2.2.30 |
| Метод фотолюминесцентный | 2.2.20 |
| Метод фотоследящий | 2.2.31 |
| Метод фотохимический | 2.2.18 |
| Метод фотоэлектрического излучения | 2.2.25 |
| Метод фотоэлектрического оптического излучения | 2.2.25 |
| Метод электрооптический | 2.2.21 |
| Облучение когерентное | 2.4.5 |
| Облучение монохроматическое | 2.4.6 |
| Облучение полихроматическое | 2.4.7 |
| Облучение сканирующее | 2.4.8 |
| Облучение стигматическое | 2.4.10 |
| Облучение стробоскопическое | 2.4.4 |
| Облучение телецентрическое | 2.4.9 |
| Поле светлое | 2.4.3 |
| Поле темное | 2.4.2 |
| Прибор неразрушающего контроля оптический | 2.3.1 |
| Сечение световое | 2.4.1 |
| Система оптическая | 2.3.3 |
| Структуроскоп оптический | 2.3.7 |
| Толщиномер оптический | 2.3.8 |
| Устройство приемное | 2.3.4 |
| Эллипсометр лазерный | 2.3.6 |
(справочное)
ТЕРМИНЫ ОБЩИХ ФИЗИЧЕСКИХ ПОНЯТИЙ И ТЕХНИЧЕСКИЕ ТЕРМИНЫ,
ПРИМЕНЯЕМЫЕ ПРИ ОПТИЧЕСКОМ НЕРАЗРУШАЮЩЕМ КОНТРОЛЕ
А.1. Спекл-структура: случайное распределение интенсивности, характерное для диффузно-когерентного излучения.
А.2. Сканирование: анализ исследуемого пространства путем последовательного его просмотра при передвижении мгновенного поля зрения по полю обзора.
ТЕРМИНЫ ПРИБОРОВ, ПРИМЕНЯЕМЫХ ПРИ ОПТИЧЕСКОМ НЕРАЗРУШАЮЩЕМ КОНТРОЛЕ
Б.1. Эндоскоп: оптический прибор, имеющий осветительную систему и предназначенный для осмотра внутренних поверхностей объекта контроля.
Б.2. Оптический компаратор: оптический прибор, предназначенный для одновременного наблюдения объекта контроля и контрольного образца.
Б.3. Субтрактивный видеоанализатор: оптический прибор для формирования разностного изображения объекта контроля и контрольного образца.
Б.4. Оптический дисдрометр: оптический прибор для анализа объемного распределения микрочастиц в контролируемой среде.