---
title: "Без названия"
status: действует
canonical: "https://bukva.ai/docs/bez-nazvaniya-6155"
---

## Без названия

# Документ 16394

> [!NOTE]
> ИСТОРИЯ ИЗМЕНЕНИЙ НОРМАТИВНО-ТЕХНИЧЕСКИХ АКТОВ

```mermaid
flowchart LR
  n0["ГОСТ 21105-75"]:::rst
  n1["ГОСТ 21105-87"]:::rst
  n2["ГОСТ Р 56512-2015"]:::doc
  n1 --> n2
  n0 --> n1
classDef rst fill:#FFEBEB,stroke:#8B0000,color:#000;
classDef doc fill:#EBFFEB,stroke:#006400,color:#000;
classDef notEnt fill:#FFFFEB,stroke:#FF8C00,color:#000;
```


<div align="right">

<a id="p100001"></a>Утвержден и введен в действие<br>
Постановлением Государственного<br>
комитета СССР по стандартам

</div>

<div align="center">

от 23 января 1987 г. N 87

</div>


<a id="p100002"></a>**МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ**

<a id="p100003"></a>**КОНТРОЛЬ НЕРАЗРУШАЮЩИЙ**

<a id="p100004"></a>**МАГНИТОПОРОШКОВЫЙ МЕТОД**

<a id="p100005"></a>Nondestructive testing.
Method of magnetic particle testing

<div align="center">

<a id="p100006"></a>**ГОСТ 21105-87**

</div>


<div align="right">

<a id="p100007"></a>Группа Т59

<a id="p100008"></a>**МКС 19 100**

<a id="p100009"></a>**ОКСТУ 0011**

<a id="p100010"></a>Дата введения<br>
1 января 1988 года

</div>



### <a id="p100011"></a>ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ


1. <a id="p100012"></a>Разработан и внесен Министерством приборостроения, средств автоматизации и систем управления.
2. <a id="p100013"></a>Утвержден и введен в действие Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 23.01.87 N 87.
3. <a id="p100014"></a>Взамен ГОСТ 21105-75.
4. <a id="p100015"></a>Ссылочные нормативно-технические документы


| Обозначение НТД, на который дана ссылка | Номер пункта, подпункта, приложения |
| --- | --- |
| ГОСТ 3.1102-81 | 1.7 |
| ГОСТ 3.1502-85 | 1.7 |
| ГОСТ 12.0.004-90 | 5.2 |
| ГОСТ 12.1.004-85 | 5.10 |
| ГОСТ 12.1.005-88 | 5.6 |
| ГОСТ 12.1.007-76 | 5.6 |
| ГОСТ 12.1.019-79 | 5.8 |
| ГОСТ 12.1.030-81 | 5.9 |
| ГОСТ 12.2.003-91 | 5.4 |
| ГОСТ 12.2.007.0-75 | 5.8 |
| ГОСТ 12.2.032-78 | 5.5 |
| ГОСТ 12.2.033-78 | 5.5 |
| ГОСТ 12.2.049-80 | 5.4 |
| ГОСТ 12.2.061-81 | 5.5 |
| ГОСТ 12.2.062-81 | 5.5 |
| ГОСТ 12.3.002-75 | 5.1 |
| ГОСТ 12.3.020-80 | 5.3 |
| ГОСТ 12.4.013-85 | 5.19 |
| ГОСТ 12.4.021-75 | 5.6 |
| ГОСТ 12.4.023-84 | 5.12 |
| ГОСТ 12.4.068-79 | 5.11 |
| ГОСТ 1435-99 | Приложение 3 |
| ГОСТ 2789-73 | Приложение 3 |
| ГОСТ 5632-72 | Приложение 3 |
| ГОСТ 9411-91 | 5.19 |
| ГОСТ 18442-80 | 4.6.3 |
| ГОСТ 24450-80 | Вводная часть |
| ТУ 17-08-249-86 | 5.11 |


5. <a id="p100045"></a>Издание (апрель 2003 г.) с Изменением N 1, утвержденным в сентябре 1989 г. (ИУС 1-90).

<a id="p100046"></a>Настоящий стандарт распространяется на магнитопорошковый метод неразрушающего контроля деталей, изделий и полуфабрикатов из ферромагнитных материалов с относительной магнитной проницаемостью не менее 40 (далее - объекты контроля).
<a id="p100047"></a>Термины, применяемые в настоящем стандарте, и их определения по ГОСТ 24450.
<a id="p100048"></a>Пояснения терминов, применяемых в настоящем стандарте, приведены в Приложении 1.


### 1. <a id="p100049"></a>ОСНОВНЫЕ ПОЛОЖЕНИЯ


<a id="p100050"></a>1.1. Магнитопорошковый метод неразрушающего контроля основан на явлении притяжения частиц магнитного порошка магнитными потоками рассеяния, возникающими над дефектами в намагниченных объектах контроля.
<a id="p100051"></a>Наличие и протяженность индикаторных рисунков, вызванных полями рассеяния дефектов, можно регистрировать визуально или автоматическими устройствами обработки изображения.
<a id="p100052"></a>1.2. Магнитопорошковый метод предназначен для выявления поверхностных и подповерхностных нарушений сплошности волосовин, трещин различного происхождения, непроваров сварных соединений, флокенов, закатов, надрывов и т.п.
<a id="p100053"></a>1.3. Магнитопорошковый метод применяют для контроля объектов из ферромагнитных материалов с магнитными свойствами, позволяющими создавать в местах нарушения сплошности магнитные поля рассеяния, достаточные для притяжения частиц магнитного порошка.
<a id="p100054"></a>Метод может быть использован для контроля объектов с немагнитными покрытиями.
<a id="p100055"></a>1.4. Чувствительность магнитопорошкового метода определяется магнитными характеристиками материала объекта контроля, его формой, размерами и шероховатостью поверхности, напряженностью намагничивающего поля, местоположением и ориентацией дефектов, взаимным направлением намагничивающего поля и дефекта, свойствами дефектоскопического материала, способом его нанесения на объект контроля, а также способом и условиями регистрации индикаторного рисунка выявляемых дефектов.
<a id="p100056"></a>1.5. В зависимости от размеров выявляемых дефектов устанавливаются три условных уровня чувствительности, приведенные в табл. 1.

<a id="p100057"></a>Таблица 1


| Условный уровень чувствительности | Минимальная ширина раскрытия условного дефекта, мкм | Минимальная протяженность условного дефекта, мм |
| --- | --- | --- |
| А Б В | 2,0 10,0 25,0 | 0,5 |


<a id="p100062"></a>Примечания.
1. <a id="p100063"></a>Условный уровень чувствительности А достигается при параметре шероховатости контролируемой поверхности Ra <= 2,5 мкм, уровни чувствительности Б и В - при Ra <= 10 мкм.
2. <a id="p100064"></a>При выявлении подповерхностных дефектов, а также при Ra > 10 мкм чувствительность метода понижается и условный уровень чувствительности не нормируется.
3. <a id="p100065"></a>При контроле изделий с немагнитными покрытиями с увеличением толщины покрытия чувствительность метода понижается.

<a id="p100066"></a>(Измененная редакция, Изм. N 1).
<a id="p100067"></a>1.6. Вид, местоположение и ориентация недопустимых дефектов, а также необходимый уровень чувствительности контроля конкретных изделий устанавливаются в отраслевой нормативно-технической документации на контроль изделий.
<a id="p100068"></a>1.7. Магнитопорошковый контроль проводится по технологическим картам согласно ГОСТ 3.1102 и ГОСТ 3.1502, в которых указывают: наименование изделия (узла), наименование и номер детали, эскиз детали с указанием габаритных размеров, зону контроля, способ контроля, вид и схему намагничивания, значения намагничивающего тока или напряженности магнитного поля, средства контроля (аппаратуру, дефектоскопические материалы), нормы на отбраковку.


### 2. <a id="p100069"></a>ТРЕБОВАНИЯ К АППАРАТУРЕ


<a id="p100070"></a>2.1. При контроле магнитопорошковым методом применяют стационарные, передвижные и переносные дефектоскопы по нормативно-технической документации.
<a id="p100071"></a>Допускается применять специализированные дефектоскопы, предназначенные для контроля конкретных изделий.

#### <a id="p100072"></a>2.2 В зависимости от назначения дефектоскопы включают в себя следующие функциональные устройства:

<div align="center">

- <a id="p100073"></a>блок питания;

</div>

- <a id="p100074"></a>блок формирования намагничивающего тока;
- <a id="p100075"></a>намагничивающие устройства;
- <a id="p100076"></a>устройство для размагничивания;
- <a id="p100077"></a>устройство для нанесения дефектоскопических материалов;
- <a id="p100078"></a>блок автоматического управления технологическими операциями контроля;
- <a id="p100079"></a>исполнительные устройства для осуществления автоматических операций контроля;
- <a id="p100080"></a>приборы и устройства для контроля качества дефектоскопических материалов и технологических процессов;
- <a id="p100081"></a>устройства для осмотра контролируемой поверхности и регистрации дефектов.
<a id="p100082"></a>2.3. Дефектоскопы должны быть снабжены измерителями намагничивающего тока. Погрешность измерений не должна превышать 10%.
<a id="p100083"></a>2.4. Дефектоскопы общего назначения должны обеспечивать возможность размагничивания объектов контроля.
<a id="p100084"></a>2.5. Дефектоскопы, в которых намагничивание изделий осуществляется переменным, выпрямленным или импульсным токами, при контроле способом остаточной намагниченности должны обеспечивать выключение тока в момент времени, при котором значение остаточной индукции составляет не менее 0,9 ее максимального значения для данного материала при выбранном режиме.
<a id="p100085"></a>2.6. В дефектоскопах при контроле способом остаточной намагниченности не допускается использовать в качестве намагничивающих устройств электромагниты постоянного тока, а также другие устройства, в которых снижение магнитного потока от максимального значения до нуля при намагничивании происходит в течение времени, превышающего 5 мс.
<a id="p100086"></a>2.7. Устройства для осмотра контролируемой поверхности и регистрации дефектов включают в себя: УФ-облучатели, оптические устройства (лупы; бинокулярные, стереоскопические микроскопы; зеркала; эндоскопы), а также автоматизированные системы отработки изображений.
<a id="p100087"></a>2.8. Требования к специализированным дефектоскопам устанавливают в отраслевой нормативно-технической документации на контроль конкретных изделий.


### 3. <a id="p100088"></a>ТРЕБОВАНИЯ К ДЕФЕКТОСКОПИЧЕСКИМ МАТЕРИАЛАМ


<a id="p100089"></a>3.1. При магнитопорошковом методе контроля применяют магнитные дефектоскопические материалы: порошки, суспензии и магнитогуммированные пасты.
<a id="p100090"></a>3.2. В зависимости от состояния контролируемой поверхности (ее цвета и шероховатости), магнитных свойств материала и требуемой чувствительности контроля используют магнитные порошки, имеющие естественную окраску, а также цветные и люминесцентные.
<a id="p100091"></a>3.3. Основные свойства магнитных порошков, влияющих на выявляемость дефектов: дисперсность, магнитные и оптические характеристики.
<a id="p100092"></a>Качество магнитных порошков оценивают по методикам, приведенным в отраслевой нормативно-технической документации на их поставку.
<a id="p100093"></a>3.4. Свойства магнитной суспензии, влияющие на выявляемость дефектов, определяются составом, концентрацией и свойствами отдельных ее компонентов.
<a id="p100094"></a>3.4.1. Концентрация магнитного порошка в суспензии должна составлять (25 +/- 5) г/дм3, а люминесцентного порошка - (4 +/- 1) г/дм3.
<a id="p100095"></a>При контроле резьбы и объектов с использованием магнитных полей напряженностью >= 100 А/см концентрацию магнитного порошка уменьшают до 5 г/дм3.
<a id="p100096"></a>В технически обоснованных случаях допускается устанавливать более высокие значения концентрации магнитного порошка в суспензии.
<a id="p100097"></a>3.4.2. Вязкость дисперсионной среды суспензии не должна превышать  при температуре контроля. При вязкости носителя выше  в технической документации должно быть указано время стекания основной массы суспензии, после которого допустим осмотр изделия.
<a id="p100098"></a>3.4.3. Дисперсионная среда суспензий с люминесцентными магнитными порошками не должна ухудшать светоколористических свойств порошка, а ее собственная люминесценция не должна искажать результаты контроля.
<a id="p100099"></a>3.5. Магнитная суспензия не должна вызывать коррозии контролируемой поверхности.
<a id="p100100"></a>3.6. Магнитогуммированная паста представляет собой смесь магнитного порошка и затвердевающих органических полимерных веществ.
<a id="p100101"></a>3.7. Качество готовых дефектоскопических материалов определяют перед проведением контроля на стандартных образцах предприятий, аттестованных в установленном порядке.


### 4. <a id="p100102"></a>ПОДГОТОВКА И ПРОВЕДЕНИЕ КОНТРОЛЯ



#### <a id="p100103"></a>4.1 Магнитопорошковый метод контроля включает технологические операции:

- <a id="p100104"></a>подготовку к контролю;

<div align="center">

- <a id="p100105"></a>намагничивание объекта контроля;

</div>

- <a id="p100106"></a>нанесение дефектоскопического материала на объект контроля;
- <a id="p100107"></a>осмотр контролируемой поверхности и регистрация индикаторных рисунков дефектов;
- <a id="p100108"></a>оценку результатов контроля;
- <a id="p100109"></a>размагничивание.

#### <a id="p100110"></a>4.2 При магнитопорошковом методе контроля применяют:

- <a id="p100111"></a>способ остаточной намагниченности (СОН);
- <a id="p100112"></a>способ приложенного поля (СПП).
<a id="p100113"></a>4.2.1. При контроле СОН объект контроля предварительно намагничивают, а затем, после снятия намагничивающего поля, на его поверхность наносят дефектоскопический материал. Промежуток времени между указанными выше операциями должен быть не более часа. Осмотр контролируемой поверхности проводят после стекания основной массы суспензии.
<a id="p100114"></a>СОН применяют при контроле объектов из магнитотвердых материалов с коэрцитивной силой , с остаточной индукцией 0,5 Тл и более.
<a id="p100115"></a>4.2.2. При контроле СПП операции намагничивания объекта контроля и нанесения суспензии выполняют одновременно. При этом индикаторные рисунки выявляемых дефектов образуются в процессе намагничивания. Намагничивание прекращают после стекания с контролируемой поверхности основной массы суспензии. Осмотр контролируемой поверхности проводят после прекращения намагничивания.
<a id="p100116"></a>Для уменьшения нагрева объекта контроля рекомендуется применять прерывистый режим намагничивания, при котором ток по намагничивающему устройству пропускают в течение 0,1 - 3 с с перерывами до 5 с.
<a id="p100117"></a>4.2.3. Способ контроля выбирают в зависимости от магнитных свойств материала объекта и требуемой чувствительности контроля в соответствии с Приложением 2.

#### <a id="p100118"></a>4.3 Подготовка к контролю должна включать:

- <a id="p100119"></a>подготовку объекта к операциям контроля;
- <a id="p100120"></a>проверку работоспособности дефектоскопов;
- <a id="p100121"></a>проверку качества дефектоскопических материалов.
<a id="p100122"></a>4.3.1. При подготовке объема с контролируемой поверхности необходимо удалить продукты коррозии, остатки окалины, масляные загрязнения, а при необходимости - следы лакокрасочных покрытий.
<a id="p100123"></a>4.3.2. При контроле объектов с темной поверхностью при помощи черного магнитного порошка на контролируемую поверхность следует наносить покрытие, обеспечивающее необходимый контраст, толщиной до 20 мкм.
<a id="p100124"></a>4.3.3. Проверку работоспособности дефектоскопов и качества дефектоскопических материалов проводят при помощи стандартных образцов предприятий, специально изготовленных или отобранных из числа забракованных изделий с дефектами, размеры которых соответствуют принятому уровню чувствительности.
<a id="p100125"></a>Методика изготовления образцов приведена в Приложении 3.
<a id="p100126"></a>4.4. При магнитопорошковом контроле применяют намагничивание циркулярное, продольное (полюсное), комбинированное, во вращающемся магнитном поле.
<a id="p100127"></a>Виды, способы и схемы намагничивания приведены в табл. 2.

<a id="p100128"></a>Таблица 2


<table>
<colgroup><col width="24%"><col width="39%"><col width="37%"></colgroup>
<tr><td><a id="p100129"></a>Вид намагничивания</td><td>Способ намагничивания</td><td>Схема намагничивания</td></tr>
<tr><td rowspan="5"><a id="p100130"></a>Циркулярное</td><td>Пропусканием тока по всему объекту</td><td></td></tr>
<tr><td><a id="p100131"></a>Пропусканием тока по части объекта</td><td></td></tr>
<tr><td><a id="p100132"></a>Пропусканием тока по проводнику, помещенному в сквозное отверстие в объекте</td><td></td></tr>
<tr><td><a id="p100133"></a>Путем индуцирования тока в объекте</td><td></td></tr>
<tr><td><a id="p100134"></a>Пропусканием тока по тороидальной обмотке</td><td></td></tr>
<tr><td rowspan="4"><a id="p100135"></a>Продольное (полюсное)</td><td>При помощи постоянного магнита</td><td></td></tr>
<tr><td><a id="p100136"></a>При помощи электромагнита</td><td></td></tr>
<tr><td><a id="p100137"></a>При помощи соленоида</td><td></td></tr>
<tr><td><a id="p100138"></a>Перемещением постоянного магнита по объекту</td><td></td></tr>
<tr><td rowspan="4"><a id="p100139"></a>Комбинированное</td><td>Пропусканием тока по объекту и при помощи электромагнита</td><td></td></tr>
<tr><td><a id="p100140"></a>Пропусканием тока по объекту и при помощи соленоида</td><td></td></tr>
<tr><td><a id="p100141"></a>Пропусканием по объекту двух токов во взаимно перпендикулярных направлениях</td><td></td></tr>
<tr><td><a id="p100142"></a>Индуцированием тока в объекте и пропусканием тока по проводнику, помещенному в сквозное отверстие в объекте</td><td></td></tr>
<tr><td><a id="p100143"></a>Во вращающемся магнитном поле</td><td>При помощи соленоида вращающегося магнитного поля</td><td></td></tr>
</table>


<a id="p100144"></a>*Примечание.* Обозначения: О - объект контроля, Ф - магнитный поток, I - электрический ток.

<a id="p100145"></a>4.4.1. Вид и способ намагничивания выбирают в зависимости от размеров и формы объекта, материала и толщины покрытия, а также от характера и ориентации дефектов, подлежащих выявлению. При этом наилучшее условие выявления дефектов - перпендикулярное направление намагничивающего поля по отношению к направлению ожидаемых дефектов.
<a id="p100146"></a>При необходимости выявления дефектов различной ориентации применяют намагничивание в двух или трех взаимно перпендикулярных направлениях, комбинированное намагничивание, а также намагничивание во вращающемся магнитном поле.
<a id="p100147"></a>4.4.2. Напряженность магнитного поля на контролируемом участке поверхности объекта выбирают в зависимости от требуемой чувствительности контроля в соответствии с Приложением 4.
<a id="p100148"></a>Значения напряженности магнитного поля на поверхности объекта контроля определяют при помощи измерителей напряженности магнитного поля или катушек поля.
<a id="p100149"></a>4.4.3. При контроле объектов с большим размагничивающим фактором, имеющих отношение длины к эквивалентному диаметру менее 5, следует:
- <a id="p100150"></a>составлять контролируемые изделия в цепочку, размещая их друг к другу торцевыми поверхностями;
- <a id="p100151"></a>применять удлинительные наконечники;
- <a id="p100152"></a>применять переменный намагничивающий ток.
<a id="p100153"></a>4.4.4. При намагничивании объектов применяют следующие виды электрического тока: постоянный, переменный однофазный и трехфазный, выпрямленный однополупериодный и двухполупериодный, импульсный.
<a id="p100154"></a>4.4.5. При циркулярном намагничивании объектов, имеющих поперечное сечение простой формы, а также крупногабаритных объектов значение тока определяют в зависимости от требуемой напряженности магнитного поля на контролируемой поверхности, формы и размеров сечения объекта контроля по формулам, приведенным в Приложении 5.

##### <a id="p100155"></a>4.4.6 Комбинированное намагничивание применяют при контроле СПП.

<a id="p100156"></a>При комбинированном намагничивании двумя токами одного вида: переменным синусоидальным или выпрямленным однополупериодным и двухполупериодным, их фазы должны быть сдвинуты относительно друг друга.
<a id="p100157"></a>4.4.7. Намагничивание во вращающемся магнитном поле применяют при контроле СОН объектов сложной формы, а также объектов с большим размагничивающим фактором, с ограниченной контактной площадью или с нетокопроводящими гальваническими покрытиями.

#### <a id="p100158"></a>4.5 Для нанесения магнитного порошка на поверхность объекта применяют способы:

- <a id="p100159"></a>магнитной суспензии;
- <a id="p100160"></a>сухого магнитного порошка;
- <a id="p100161"></a>магнитогуммированной пасты.
<a id="p100162"></a>4.5.1. Магнитную суспензию наносят на контролируемую поверхность путем полива или погружения объекта в ванну с суспензией, а также аэрозольным способом.
<a id="p100163"></a>4.5.2. Сухой магнитный порошок наносят на контролируемую поверхность при помощи различных распылителей, погружением объекта в емкость с порошком, а также способом воздушной взвеси.
<a id="p100164"></a>Способ воздушной взвеси применяют при выявлении подповерхностных дефектов, а также дефектов под слоем немагнитного покрытия толщиной от 100 до 200 мкм.
<a id="p100165"></a>4.5.3. Магнитогуммированную пасту готовят непосредственно перед применением и наносят на контролируемую поверхность в жидком виде.
<a id="p100166"></a>Способ магнитогуммированной пасты применяют при контроле внутренних стенок полостей диаметром менее 20 мм при отношении глубины к диаметру 1:10.
<a id="p100167"></a>4.6. Осмотр контролируемой поверхности и регистрацию индикаторных рисунков выявляемых дефектов проводят визуально или с применением автоматизированных систем обработки изображений.
<a id="p100168"></a>4.6.1. При визуальном осмотре могут быть использованы различные оптические устройства (лупы, микроскопы, эндоскопы).
<a id="p100169"></a>Выбираемое увеличение оптического устройства зависит от шероховатости поверхности детали, типа обнаруживаемых дефектов, условий контроля и т.п.
<a id="p100170"></a>4.6.2. Освещенность контролируемой поверхности при использовании магнитных порошков естественной окраски, а также цветных магнитных порошков должна быть не менее 1000 лк. При этом следует применять комбинированное освещение (общее и местное).
<a id="p100171"></a>4.6.3. При использовании люминесцентных магнитных порошков осмотр контролируемой поверхности следует проводить при ультрафиолетовом облучении источником с длиной волны 315 - 400 нм. При этом УФ-облученность контролируемой поверхности должна быть не менее 2000 мкВт/см2 (200 отн. ед. по ГОСТ 18442).
<a id="p100172"></a>4.7. Участок магнитопорошкового контроля должен быть снабжен дефектограммами с видами индикаторных рисунков характерных дефектов, а также стандартным образцом. Стандартный образец должен иметь паспорт и дефектограмму.
<a id="p100173"></a>4.8. Детали, признанные годными по результатам магнитопорошкового метода контроля, должны быть, при необходимости, размагничены.
<a id="p100174"></a>Способы размагничивания и проверки степени размагничивания, а также допустимую норму остаточной намагниченности каждого изделия устанавливают в отраслевой нормативно-технической документации на контроль изделий.
<a id="p100175"></a>4.9. Результаты контроля записывают в журналах, протоколах или перфокартах. Вид и объем записи устанавливают в отраслевой нормативно-технической документации на контроль изделий.


### 5. <a id="p100176"></a>ТРЕБОВАНИЯ БЕЗОПАСНОСТИ


<a id="p100177"></a>5.1. Общие требования безопасности к проведению магнитопорошкового контроля - по ГОСТ 12.3.002.
<a id="p100178"></a>5.2. К проведению магнитопорошкового контроля допускаются дефектоскописты, прошедшие аттестацию в установленном порядке, а также обучение и инструктаж по ГОСТ 12.0.004.
<a id="p100179"></a>5.3. Участок магнитопорошкового контроля массивных и крупногабаритных объектов должен быть оборудован подъемно-транспортными механизмами и поворотными стендами по ГОСТ 12.3.020.
<a id="p100180"></a>5.4. Конструкция производственного оборудования должна соответствовать требованиям ГОСТ 12.2.049 и ГОСТ 12.2.003.
<a id="p100181"></a>5.5. Расположение и организация рабочих мест на участке, оснащение их приспособлениями, необходимыми для безопасного выполнения технологических операций, должны соответствовать требованиям безопасности по ГОСТ 12.2.032, ГОСТ 12.2.033, ГОСТ 12.2.061 и ГОСТ 12.2.062.
<a id="p100182"></a>5.6. Требования к содержанию вредных веществ, температуре, влажности, подвижности воздуха в рабочей зоне - по ГОСТ 12.1.005 и ГОСТ 12.1.007, требования к вентиляционным системам - по ГОСТ 12.4.021.
<a id="p100183"></a>5.7. Требования к коэффициенту естественной освещенности (КЕО) и освещенности рабочей зоны, пульсации светового потока, яркости и контрасту - по СНиП II-4-79, утвержденным Госстроем СССР.
<a id="p100184"></a>5.8. Требования электробезопасности - по ГОСТ 12.2.007.0, ГОСТ 12.1.019, "Правилам устройства электроустановок потребителей" и "Правилам технической эксплуатации электроустановок и правилам техники безопасности при эксплуатации электроустановок потребителей", утвержденным Госэнергонадзором.
<a id="p100185"></a>5.9. Защитное заземление или зануление дефектоскопов - по ГОСТ 12.1.030.
<a id="p100186"></a>5.10. При размещении, хранении, транспортировании и использовании дефектоскопических и вспомогательных материалов, отходов производства и объектов, прошедших контроль, следует соблюдать требования к защите от пожаров по ГОСТ 12.1.004.
<a id="p100187"></a>5.11. Индивидуальные средства защиты должны соответствовать ТУ 17-08-249-86 и ГОСТ 12.4.068.
<a id="p100188"></a>5.12. При циркулярном намагничивании путем пропускания тока через изделие или проводник, помещенный в сквозное отверстие объекта, следует:
- <a id="p100189"></a>включать и выключать электрический ток только при надежном электрическом контакте электродов с объектом контроля;
- <a id="p100190"></a>применять защитные щитки по ГОСТ 12.4.023 для защиты лица от возможного попадания мелких частиц расплавленного свинца.
<a id="p100191"></a>5.13. Требования к защите от вредного воздействия постоянных магнитных полей соответствуют "Предельно допустимым уровням воздействия постоянных магнитных полей при работе с магнитными устройствами и магнитными материалами" N 1742-77, утвержденным Минздравом СССР.
<a id="p100192"></a>5.14. Органы управления магнитопорошковых дефектоскопов, создающих постоянные магнитные поля напряженностью более 80 А/см, должны быть вынесены за пределы зоны действия этих полей.
<a id="p100193"></a>5.15. При контроле способом приложенного поля с циркулярным намагничиванием не допускается применять керосиновую или керосино-масляную суспензию.
<a id="p100194"></a>5.16. Для приготовления суспензий не допускается использовать керосин температурой вспышки ниже 30 °C.
<a id="p100195"></a>5.17. Наносить магнитный порошок способом воздушной взвеси следует в камерах с отсасывающими вентиляционными устройствами.
<a id="p100196"></a>5.18. Требования к защите от ультрафиолетового излучения соответствуют "Гигиеническим требованиям к конструированию и эксплуатации установок с искусственными источниками УФ-излучения для люминесцентного контроля качества промышленных изделий", N 1854, утвержденным Минздравом СССР.
<a id="p100197"></a>5.19. При осмотре контролируемой поверхности в УФ-излучении, в случае отсутствия в аппарате встроенных устройств, обеспечивающих защиту глаз оператора от вредного воздействия УФ-лучей, следует применять защитные очки по ГОСТ 12.4.013 <*> со стеклами ЖС-4 по ГОСТ 9411 толщиной не менее 2 мм.

<a id="p100198"></a>

---

<a id="p100199"></a><*> На территории Российской Федерации действует ГОСТ Р 12.4.013-97.

<a id="p100200"></a>5.20. Отходы производства в виде отработанных дефектоскопических материалов подлежат утилизации, регенерации, удалению в установленные сборники или уничтожению.





<div align="right">

<a id="p100201"></a>Приложение 1<br>
Справочное

</div>


<div align="center">

<a id="p100202"></a>**ПОЯСНЕНИЯ ТЕРМИНОВ, ПРИМЕНЯЕМЫХ В СТАНДАРТЕ**

</div>


<a id="p100203"></a> Условный дефект            - поверхностный дефект в форме плоской щели с
                              параллельными стенками с отношением глубины к
                              ширине, равным 10, ориентированный
                              перпендикулярно к направлению магнитного поля
<a id="p100204"></a> Условный уровень           - чувствительность магнитопорошкового контроля,
чувствительности              определяемая минимальной шириной и
                              протяженностью условного дефекта
<a id="p100205"></a> Дефектограмма              - изображение части изделия с индикаторным
                              рисунком выявленных дефектов, полученное
                              фотографическим путем, при помощи реплик или
                              другими способами
<a id="p100206"></a> Стекание основной массы    - состояние, при котором дальнейшее стекание
суспензии                     суспензии не изменяет картины отложения
                              порошка над дефектом, в том числе при
                              повторном включении намагничивающего
                              устройства





<div align="right">

<a id="p100207"></a>Приложение 2<br>
Рекомендуемое

</div>


<div align="center">

<a id="p100208"></a>**ОПРЕДЕЛЕНИЕ СПОСОБА КОНТРОЛЯ**

</div>


1. <a id="p100209"></a>По известным магнитным характеристикам (коэрцитивной силе  и остаточной индукции ) материала объекта определяют возможность достижения требуемого уровня чувствительности при контроле с использованием СОН.
<a id="p100210"></a>При этом пользуются кривыми, приведенными на чертеже, которые соответствуют условным уровням чувствительности А, Б и В.
<a id="p100211"></a>Контроль СОН с требуемой чувствительностью возможен в том случае, если остаточная индукция материала при заданном значении коэрцитивной силы равна или больше значения остаточной индукции, определенной по соответствующей кривой.
2. <a id="p100212"></a>При необходимости проведения контроля с более высоким уровнем чувствительности, чем это позволяет СОН, следует применять СПП.







<div align="right">

<a id="p100214"></a>Приложение 3

</div>

<div align="center">

Рекомендуемое

<a id="p100215"></a>**МЕТОДИКА**<br>
**ИЗГОТОВЛЕНИЯ ОБРАЗЦОВ**

</div>



### <a id="p100216"></a>Образец N 1


1. <a id="p100217"></a>Заготовку образца изготовляют из листовой стали, например ЭИ-962, по техническим условиям в виде пластины размерами 130 x 30 x 3,5 - 3,9 мм.
2. <a id="p100218"></a>Заготовку рихтуют и шлифуют на глубину 0,1 - 0,2 мм.
3. <a id="p100219"></a>На боковых гранях заготовки фрезерованием (угол фрезы 30°) выполняют прорези.
4. <a id="p100220"></a>Азотируют на глубину 0,15 - 0,3 мм. Для получения трещин заданной длины проводят местное азотирование широкой грани образца в виде полосок. При этом длину трещин определяют шириной полосок.
5. <a id="p100221"></a>Измеряют глубину азотированного слоя.
6. <a id="p100222"></a>Заготовку образца полируют до шероховатости, обеспечивающей аттестацию параметров трещин.
7. <a id="p100223"></a>Для формирования трещин образец помещают в приспособление для изгиба, которое должно иметь опору для образца и накладку из стали. Нагрузку подают на образец через накладку до появления характерного хруста от растрескивания азотированного слоя.

<div align="center">

8. <a id="p100224"></a>Ширину трещин измеряют на металлографическом микроскопе.

</div>



### <a id="p100225"></a>Образец N 2


1. <a id="p100226"></a>Из прутка стали ЭИ-961 или ЭИ-736 по техническим условиям изготовляют образец в виде втулки наружным диаметром 48 мм, внутренним диаметром 44,4 мм и длиной 35 мм.
2. <a id="p100227"></a>Образец шлифуют. Параметр шероховатости поверхности Ra <= 2,5 мкм по ГОСТ 2789.
3. <a id="p100228"></a>Образец азотируют на глубину 0,15 - 0,3 мм.
4. <a id="p100229"></a>Образец полируют по наружному диаметру.
5. <a id="p100230"></a>Для формирования трещин используют приспособление цилиндрической формы с четырьмя симметрично расположенными на поверхности клиньями, которые вдвигают во втулку. Нагрузку на клинья подают при помощи штока до появления характерного хруста, свидетельствующего о растрескивании азотированного слоя.
6. <a id="p100231"></a>Ширину трещин измеряют на металлографическом микроскопе.


### <a id="p100232"></a>Образец N 3


1. <a id="p100233"></a>Заготовку образца изготовляют из стали 20Х13 по ГОСТ 5632. Геометрические размеры образца приведены на чертеже.



2. <a id="p100235"></a>Заготовку рихтуют и шлифуют на глубину 0,2 - 0,3 мм. Параметр шероховатости поверхности Ra <= 1,6 мкм по ГОСТ 2789.
3. <a id="p100236"></a>Азотируют на глубину 0,2 - 0,3 мм. Азотирование проводят в две ступени. Первую ступень азотирования проводят в атмосфере аммиака при температуре 540 °C в течение 20 ч (степень диссоциации аммиака 30%). Вторую ступень проводят в атмосфере аммиака при температуре 580 °C в течение 20 ч (степень диссоциации аммиака 60%). Медленно охлаждают в печи до 200 °C в атмосфере аммиака, затем на воздухе.
4. <a id="p100237"></a>Шлифуют обе стороны образца на глубину не более 0,05 мм с обильным охлаждением. Параметр шероховатости поверхности Ra <= 1,0 мкм по ГОСТ 2789.
5. <a id="p100238"></a>Измеряют глубину азотированного слоя.
6. <a id="p100239"></a>Для формирования трещин образец зажимают в разрывной машине и плавно нагружают до появления характерного хруста. Прилагаемые нагрузки выбирают опытным путем в зависимости от необходимой ширины трещин.
7. <a id="p100240"></a>Ширину трещин измеряют на металлографическом микроскопе.


### <a id="p100241"></a>Образец N 4


1. <a id="p100242"></a>Заготовку образца изготовляют из стали У10А по ГОСТ 1435 в виде цилиндра (длина 250 - 300 мм, диаметр 25 мм).
2. <a id="p100243"></a>Заготовку образца закаливают до твердости 60...63 HRC.
3. <a id="p100244"></a>Шлифуют цилиндрическую поверхность. Параметр шероховатости поверхности Ra <= 0,80 мкм по ГОСТ 2789.
4. <a id="p100245"></a>На цилиндрическую поверхность заготовки наносят электролитически слой хрома толщиной 0,25 - 0,30 мм (по технологии пористого хромирования).
5. <a id="p100246"></a>Шлифуют на глубину 0,1 мм твердым (Т и СТ) абразивным кругом без охлаждения при поперечной подаче 0,03 - 0,05 мм на один двойной ход и при продольной подаче 1 - 3 м/мин. При этом в хромовом покрытии и стальной основе образуются трещины.
6. <a id="p100247"></a>Заготовку подвергают отпуску при температуре 160 °C - 180 °C.
7. <a id="p100248"></a>С поверхности заготовки электролитически удаляют слой хрома.
8. <a id="p100249"></a>Ширину трещин на поверхности образца измеряют на металлографическом микроскопе.





<a id="p100250"></a>Приложение 4
Рекомендуемое

<div align="center">

<a id="p100251"></a>**ОПРЕДЕЛЕНИЕ НАПРЯЖЕННОСТИ МАГНИТНОГО ПОЛЯ**

</div>


1. <a id="p100252"></a>При контроле СОН напряженность магнитного поля определяют по кривым намагничивания материала объекта контроля с учетом необходимости его технического насыщения.
2. <a id="p100253"></a>При контроле СПП напряженность магнитного поля, необходимую для обеспечения требуемого уровня чувствительности, определяют по коэрцитивной силе  материала объекта контроля при помощи кривых, приведенных на чертеже.



<a id="p100255"></a>Примечания.
1. <a id="p100256"></a>Значения напряженностей магнитного поля могут быть уточнены экспериментально применительно к контролю конкретных изделий.
2. <a id="p100257"></a>При контроле СПП отношение нормальной составляющей напряженности магнитного поля  к тангенциальной  на контролируемом участке поверхности объекта должно быть не более 3.





<a id="p100258"></a>Приложение 5
Рекомендуемое

<div align="center">

<a id="p100259"></a>**ОПРЕДЕЛЕНИЕ НАМАГНИЧИВАЮЩЕГО ТОКА**

</div>


<a id="p100260"></a>При циркулярном намагничивании максимальное (амплитудное) значение намагничивающего тока I в А для получения заданной напряженности магнитного поля H в А/см определяют по формулам:
- <a id="p100261"></a>для объектов цилиндрической формы с круглым сечением

<div align="center">

<a id="p100262"></a>I = 3Hd;

</div>


- <a id="p100263"></a>для объектов с прямоугольным сечением

<a id="p100264"></a>I = 2Ha при a/b >= 10;

<a id="p100265"></a>I = 2H (a + b) при a/b < 10;

- <a id="p100266"></a>для участков крупногабаритных объектов

<a id="p100267"></a>,

<a id="p100268"></a>где d - диаметр круглого сечения, см;

<div align="center">

<a id="p100269"></a>a и b - длина и ширина прямоугольного сечения, см;<br>
<a id="p100270"></a>l - расстояние между электродами или длина контролируемого участка, см;<br>
<a id="p100271"></a>c - ширина контролируемого участка, см.

</div>




<a id="p100272"></a>

---



## Иллюстрации

$36 \cdot 10^{- 6}\text{м}^{2}/\text{с }(36\text{сСт})$

$10 \cdot 10^{- 6}\text{м}^{2}/\text{с }(10\text{сСт})$

$\text{Н}_{\text{с}} \geq 10\text{А}/\text{см}$

![](https://i.bukva.ai/3asJVLl1/img_0.png)

![](https://i.bukva.ai/3asJVLl1/img_1.png)

![](https://i.bukva.ai/3asJVLl1/img_2.png)

![](https://i.bukva.ai/3asJVLl1/img_3.png)

![](https://i.bukva.ai/3asJVLl1/img_4.png)

![](https://i.bukva.ai/3asJVLl1/img_5.png)

![](https://i.bukva.ai/3asJVLl1/img_6.png)

![](https://i.bukva.ai/3asJVLl1/img_7.png)

![](https://i.bukva.ai/3asJVLl1/img_8.png)

![](https://i.bukva.ai/3asJVLl1/img_9.png)

![](https://i.bukva.ai/3asJVLl1/img_10.png)

![](https://i.bukva.ai/3asJVLl1/img_11.png)

![](https://i.bukva.ai/3asJVLl1/img_12.png)

![](https://i.bukva.ai/3asJVLl1/img_13.png)

$\text{Н}_{\text{с}}$

$\text{В}_{1}$

![](https://i.bukva.ai/3asJVLl1/img_14.png)

![](https://i.bukva.ai/3asJVLl1/img_15.png)

$\text{Н}_{\text{с}}$

![](https://i.bukva.ai/3asJVLl1/img_16.png)

$\text{Н}_{n}$

$\text{Н}_{t}$

$I = 1,5H \sqrt{l^{2} + c^{2}}$