---
title: "Без названия"
status: действует
canonical: "https://bukva.ai/docs/bez-nazvaniya-2355"
---

## Без названия

# Документ 24060


<a id="p100001"></a>**МИНИСТЕРСТВО ЗДРАВООХРАНЕНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ**

<a id="p100002"></a>**ОБЩАЯ ФАРМАКОПЕЙНАЯ СТАТЬЯ**


| <a id="p100003"></a>Рентгеновская флуоресцентная спектрометрия | <a id="p100004"></a>ОФС.1.2.1.1.0010.15<br>Вводится впервые |
| --- | --- |


<a id="p100005"></a>Рентгеновская флуоресцентная спектрометрия - метод анализа, используемый для определения концентраций элементов от бериллия (N 4) до урана (N 92) в диапазоне от долей ppm до 100% в веществах и материалах различного происхождения. Погрешность рентгенофлуоресцентного анализа варьируется в пределах 0,2-3%.


## <a id="p100006"></a>Метод


<a id="p100007"></a>Метод основан на зависимости интенсивности рентгеновской флуоресценции от концентрации элемента в образце. При облучении образца потоком рентгеновского излучения возникает характеристическое флуоресцентное излучение, которое пропорционально концентрации элемента в образце. Излучение разлагается в спектр при помощи кристалл-анализаторов, далее с помощью детекторов и счетной электроники измеряется его интенсивность. Математическая обработка спектра позволяет проводить количественный и качественный анализ.
<a id="p100008"></a>При облучении атомов образца фотонами с высокой энергией первичным рентгеновским излучением от рентгеновской трубки атомы переходят в возбужденное состояние, но спустя доли секунды возвращаются к стабильному (основному) состоянию.
<a id="p100009"></a>Такой переход электронов сопровождается испусканием энергии в виде вторичного фотона с возникновением флуоресценции. Энергия вторичного фотона находится в диапазоне энергий рентгеновского излучения, которое располагается в спектре электромагнитных колебании между ультрафиолетом и гамма-излучением. Рентгенофлуоресцентный анализ охватывает следующие диапазоны энергий и длин волн:
<a id="p100010"></a>Е = 0,11 - 60 кэВ,  = 11,30 - 0,02 нм.
<a id="p100011"></a>Разница энергии между энергетическими уровнями и частота колебаний поглощенного кванта соотносятся между собой уравнением:

<a id="p100012"></a>Е = Е1 - Е2 = hv = hc /,

<a id="p100013"></a>где: Е1 и Е2 - энергии орбиталей, между которыми произошел переход электрона, эВ;
<a id="p100014"></a>h - постоянная Планка (6,626 · 10-34 Дж · с);
<a id="p100015"></a>с - скорость света, с;
 - <a id="p100016"></a>длина волны, нм;
<a id="p100017"></a>v - частота испускаемого (вторичного) фотона.

<a id="p100018"></a>Длина волны флуоресценции является индивидуальной характеристикой каждого элемента и называется характеристической флуоресценцией. В то же время интенсивность (число квантов, поступающих за единицу времени) пропорциональна концентрации (количеству атомов) соответствующего элемента. Это позволяет проводить количественный элементный анализ вещества.
<a id="p100019"></a>В качестве единицы измерения интенсивности используется величина, равная числу рентгеновских квантов, измеренных за секунду, имп/с (количество импульсов за секунду) или кимп/с (количество килоимпульсов за секунду).
<a id="p100020"></a>Существуют два метода регистрации рентгеновской флуоресценции: волнодисперсионная и энергодисперсионная.


## <a id="p100021"></a>Качественный анализ


<a id="p100022"></a>При прохождении рентгеновского излучения через образец происходит ослабление его интенсивности. Степень ослабления зависит как от энергии излучения, так и от химического состава поглощающего образца.
<a id="p100023"></a>Удельной характеристикой поглощения элемента является массовый коэффициент ослабления (), связанный с плотностью  [г/см3] поглощающего материала и линейным коэффициентом поглощения  [1/см]:

<a id="p100024"></a>.

<a id="p100025"></a>Коэффициент  имеет размерность [см2/г]. Он зависит лишь от атомного номера поглощающего элемента и от энергии поглощаемых рентгеновских квантов. Рассчитывают  по справочным значениям массовых коэффициентов ослабления элементов по известной формуле исследуемого образца.
<a id="p100026"></a>В случае неизвестного элементного состава измеряют интенсивность комптоновского рассеяния IU и рассчитывают величину  по уравнению:

<a id="p100027"></a>,

<a id="p100028"></a>где а и b - угловые коэффициенты калибровочной кривой.


## <a id="p100029"></a>Количественный анализ


<a id="p100030"></a>Для определения концентрации элемента в образце измеряют скорость счета для нескольких стандартных образцов, содержащих известные количества данного элемента в матрицах определенного состава, и рассчитывают или измеряют массовый коэффициент ослабления матрицы анализируемого образца.
<a id="p100031"></a>Калибровка. С целью точной оценки состава образца необходимо установить зависимость между измеренной интенсивностью линии и концентрацией соответствующего элемента в образце.
<a id="p100032"></a>При анализе водных растворов и сложных по составу образцов для калибровки применяют метод разбавления (прямой способ внешнего стандарта) добавлением к изучаемому образцу больших количеств слабого поглотителя или малых количеств сильного поглотителя. На графике зависимости  определяют наклон калибровочной кривой b0 по уравнению:

<a id="p100033"></a>,

<a id="p100034"></a>где:  - рассчитанный или измеренный массовый коэффициент ослабления матрицы М;
 - <a id="p100035"></a>суммарная интенсивность;
<a id="p100036"></a>С - концентрация определяемого элемента в образце.

<a id="p100037"></a>Определение суммарной интенсивности элемента в образце. Интенсивность флуоресценции, например, Кa-элемента, (NKa) пропорциональна числу квантов, поглощенных K-уровнем, и выходу флуоресценции для K-серии.
<a id="p100038"></a>Рассчитывают суммарную интенсивность излучения () определяемого элемента по измеренным интенсивностям флуоресцентной и фоновой линий, в предположении наличия в образце посторонних примесей.
<a id="p100039"></a>Определение следовых количеств элемента. Для разбавленных растворов, если концентрация элемента находится в линейной части калибровочной кривой, методом рентгенофлуоресцентного анализа можно рассчитать концентрацию (С) по уравнению:

<a id="p100040"></a>,

<a id="p100041"></a>где f - коэффициент разбавления.


## <a id="p100042"></a>Оборудование


<a id="p100043"></a>Приборы рентгенофлуоресцентного анализа состоят из рентгеновского источника, держателя пробы и спектрометра. Спектрометр измеряет длину волны () или энергию (Е) и интенсивность флуоресцентного излучения, испускаемого пробой. В зависимости от параметра, непосредственно измеряемого спектрометром ( или Е), различают приборы с волновой и энергетической дисперсией, устройство которых принципиально различно.
<a id="p100044"></a>Рентгеновские источники, используемые для возбуждения атомов в пробе, как правило, не имеют принципиальных отличий в приборах с волновой и энергетической дисперсией. Наиболее широко используемым источником первичного рентгеновского излучения являются рентгеновские трубки.
<a id="p100045"></a>Волнодисперсионные спектрометры. Для разложения излучения в спектр (выделения различных длин волн) в волнодисперсионном методе используют разные кристаллы-анализаторы с кристаллическими плоскостями, параллельными поверхности и имеющими межплоскостное расстояние d. Для волнодисперсионных спектрометров существуют разные типы детекторов. Для относительно больших длин волн при анализе легких элементов используются газонаполненные пропорциональные детекторы (проточные и запаянные). Их действие основано на ионизации газа излучением и измерении числа электрических импульсов, прошедших через ионизированный газ. Для коротких длин волн (соответствуют тяжелым элементам) применяются сцинтилляционные детекторы, в которых измеряется ток фотоэлемента, чувствительного к светимости специального вещества - сцинтиллятора (NaI/Tl) при попадании на него рентгеновского излучения. Количество регистрируемых импульсов прямо пропорционально содержанию элемента в пробе. Многоэлементный анализ для фиксированного набора элементов на спектрометре с волновой дисперсией можно выполнить за несколько минут.
<a id="p100046"></a>Энергодисперсионные спектрометры. В энергодисперсионных спектрометрах диапазон энергий вторичного (характеристического) излучения от пробы регистрируется в один этап. Спектр представляет зависимость интенсивности пиков от энергий излучения элементов. Выделенное излучение поступает в детектор рентгеновского излучения для измерения его интенсивности. Детектирование флуоресцентного излучения основано на преобразовании энергии квантов флуоресцентного излучения в импульсы напряжения определенной амплитуды. Для детектирования флуоресцентного излучения используются полупроводниковые твердотельные детекторы, действие которых основано на ионизации внутри полупроводника. Полупроводниковый детектор изготавливается из Si или Ge.
<a id="p100047"></a>Энергодисперсионный метод обладает крайне высокой чувствительностью и экспрессностью, что позволяет определять в образцах элементы от натрия (Na) до урана (U), получать рентгенограммы в проходящих лучах, проводить двумерное и трехмерное картирование образцов по содержанию тех или иных элементов.


## <a id="p100048"></a>Пробоподготовка


<a id="p100049"></a>Для уменьшения ошибки анализа, связанной с пробоподготовкой, образцы должны быть гомогенизированы.
<a id="p100050"></a>Твердые образцы подготавливают следующим образом:
<a id="p100051"></a>а) тщательно растирают стандарт и образцы в ступке по отдельности;
<a id="p100052"></a>б) берут одинаковые навески.
<a id="p100053"></a>Для уменьшения эффектов поглощения и возбуждения, искривляющих калибровочные графики, анализируемую пробу разбавляют прозрачным для рентгеновских лучей веществом (полистирол, борная кислота, крахмал, алюминия гидроксид, вода и т.д.). Степень разбавления определяют экспериментально. Порошкообразную пробу с равномерно распределенным разбавителем и внутренним стандартом брикетируют или растворяют. Толщина брикета (таблетки) должна быть достаточно большой (около 1-2 мм), чтобы интенсивность излучения образца не зависела от величины навески.
<a id="p100054"></a>Если критическая толщина не достигнута, то интенсивность флуоресценции зависит от толщины образца, вследствие чего возникают ошибки измерения. Оценить критическую толщину образца можно по формуле:

<a id="p100055"></a>,

<a id="p100056"></a>где: d - критическая толщина образца (см), ниже которой интенсивность флуоресценции зависит от толщины;
 - <a id="p100057"></a>коэффициент ослабления образца для флуоресцентного излучения с длиной волны %, см-1.

<a id="p100058"></a>Приготовленные брикеты (таблетки) пригодны для многократных измерений. Испытуемое вещество может быть помещено в виде порошка непосредственно в кюветы прибора. Порошок образца может быть помещен в держатель из плексигласа и запрессован под полимерной пленкой или нанесен на клейкую пленку.
<a id="p100059"></a>Для уменьшения погрешности пробоподготовки следует прессовать образцы.



<a id="p100060"></a>

---



## Иллюстрации

$\lambda$

$\lambda$

$\lambda$

$\mu_{\text{м}}$

$\rho$

$\mu$

$\mu_{\text{м}} = \mu/\rho$

$\mu_{\text{м}}$

$\mu_{\text{м}}$

$\mu_{\text{м}}$

$\frac{1}{\mu_{\text{м}}} = a + bI_{U}$

$I_{C}^{N} = f(C_{A})$

$b_{0} \frac{1}{\mu_{M}} = \frac{I_{C}^{N}}{C}$

$\mu_{M}$

$I_{C}^{N}$

$I_{C}^{N}$

$C = \frac{I_{C}^{N}}{b_{0} \frac{1}{\mu_{M}}} ·f$

$\lambda$

$\lambda$

$d \approx 4,6/\mu(\lambda c)$

$\mu(\lambda c)$

$\lambda c$
